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*Große Bildzuordnung
Vollautomatische Kartenauswahl und -zusammenfügung, um ein großes Sichtfeld anzuzeigen
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Mischbild (SE+BSE)
Beobachten Sie die Zusammensetzung und Oberflächeninformationen einer Probe in einem Bild
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*Niedrigvakuummodus
Stellen Sie Details und Morphologie der Probenoberfläche im Niedrigvakuum bereit, indem Sie den Vakuumzustand per Software mit einem Klick umschalten
(*Optionales Zubehör)
Vielseitige Detektoren
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) dient nicht nur der Beobachtung der Oberflächenmorphologie, sondern auch der Analyse der Zusammensetzung von Mikroregionen auf der Probenoberfläche.
CIQTEK SEM3200 verfügt über eine große Probenkammer mit einer umfangreichen Schnittstelle. Zusätzlich zur Unterstützung des konventionellen Everhart-Thornley-Detektors (ETD), des Rückstreuelektronendetektors (BSE) und der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) werden verschiedene Schnittstellen wie Elektronenrückstreudiffraktometer (EBSD) und Kathodolumineszenz (CL) unterstützt. sind ebenfalls reserviert.
Rückstreuelektronendetektor (BSE)
Vergleich der Sekundärelektronenbildgebung und der Rückstreuelektronenbildgebung
Im Rückstreuelektronen-Bildgebungsmodus wird der Ladungseffekt deutlich reduziert und es können mehr Informationen über die Zusammensetzung der Probenoberfläche gewonnen werden.
Beschichtungsproben:
Proben aus Wolframstahllegierungen:
Vier-Segment-Rückstreuelektronendetektor – Mehrkanal-Bildgebung
Der Detektor verfügt über ein kompaktes Design und eine hohe Empfindlichkeit. Mit dem 4-Segmentierungsdesign ist es möglich, Schattenbilder in verschiedene Richtungen sowie Bilder der Zusammensetzungsverteilung zu erhalten, ohne die Probe zu neigen.
Die Beschädigung der Haarprobe durch Elektronenstrahlen wird bei niedriger Spannung reduziert, während der Ladungseffekt eliminiert wird.
Energiespektrum
Ergebnisse der Analyse des Energiespektrums kleiner LED-Perlen.
Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
Das Wolfram-Filament-Elektronenmikroskop mit großem Strahlstrom erfüllt die Testanforderungen des hochauflösenden EBSD vollständig und ist in der Lage, polykristalline Materialien wie Metalle, Keramik und Mineralien auf Kristallorientierungskalibrierung und Korngröße zu analysieren.
Die Abbildung zeigt die EBSD-Antipodenkarte einer Ni-Metallprobe, mit der Korngröße und -orientierung identifiziert, Korngrenzen und Zwillinge bestimmt und genaue Beurteilungen der Materialorganisation und -struktur vorgenommen werden können.
| Modelle |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Elektrooptische Systeme |
Elektronenkanone |
Vorausgerichteter, mittelgroßer, gabelförmiger Wolframfaden |
| Auflösung |
Hochvakuum |
3 nm bei 30 kV (SE) |
| 4 nm bei 30 kV (BSE) |
| 8 nm bei 3 kV (SE) |
| *Niedriges Vakuum |
3 nm bei 30 kV (SE) |
| Vergrößerung |
1-300.000x (Filmvergrößerung) |
| 1-1.000.000x (Bildschirmvergrößerung) |
| Beschleunigungsspannung |
0,2 kV ~ 30 kV |
| Sondenstrom |
≥1,2μA, Echtzeitanzeige |
| Bildgebende Systeme |
Detektor |
Sekundärelektronendetektor (ETD) |
| *Rückstreuelektronendetektor (BSED), *Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor, *Energiespektrometer EDS usw. |
| Bildformat |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Vakuumsystem |
Vakuummodell |
Hochvakuum |
Besser als 5×10-4 Pa |
| Niedriges Vakuum |
5 ~ 1000 Pa |
| Steuermodus |
Vollautomatische Steuerung |
| Probenkammer |
Kamera |
Optische Navigation |
| Überwachung in der Probenkammer |
| Beispieltabelle |
Drei-Achsen-Automatik |
Fünf-Achsen-Automatik |
| Distanz |
X: 120 mm |
X: 120 mm |
| Y: 115 mm |
Y: 115 mm |
| Z: 50 mm |
Z: 50 mm |
| / |
R: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Software |
Betriebssystem |
Windows |
| Navigationen |
Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation |
| Automatische Funktionen |
Automatischer Helligkeitskontrast, Autofokus, automatische Ableitung |
| Spezialfunktionen |
Intelligent Assisted Dispersion, *Großformatiges Bild-Stitching (optionales Zubehör) |
| Installationsvoraussetzungen |
Raum |
L≥ 3000 mm, B ≥ 4000 mm, H ≥ 2300 mm |
| Temperatur |
20 °C (68 °F) ~ 25 °C (77 °F) |
| Feuchtigkeit |
≤ 50 % |
| Stromversorgung |
AC 220 V(±10 %), 50 Hz, 2 kVA |
> Niederspannung
Kohlenstoffmaterialproben mit geringer Eindringtiefe bei niedriger Spannung. Die tatsächliche Form der Probenoberfläche kann mit detaillierteren Angaben ermittelt werden.
Die Beschädigung der Haarprobe durch Elektronenstrahlen wird bei niedriger Spannung reduziert, während der Ladungseffekt eliminiert wird.
> Niedriges Vakuum
Gefilterte Faserrohrmaterialien sind schlecht leitend und laden sich im Hochvakuum stark auf. Im Niedrigvakuum ist eine direkte Beobachtung nichtleitender Proben ohne Beschichtung möglich.
> Großes Sichtfeld
Biologische Proben können mithilfe einer Beobachtung mit großem Sichtfeld leicht die Gesamtmorphologie und Details der Kopfstruktur von Marienkäfern ermitteln und eine skalenübergreifende Analyse zeigen.
> Navigation & Antikollision
Optische Navigation
Klicken Sie auf die Stelle, die Sie sehen möchten, und navigieren Sie einfacher.
Eine Kamera im Behälter ist Standard und kann HD-Fotos aufnehmen, um das schnelle Auffinden von Proben zu erleichtern.
Schnelle Gestennavigation
Schnelle Navigation durch Doppelklick zum Verschieben, mittlere Maustaste zum Ziehen und Rahmen zum Zoomen.
Beispiel: Frame-Zoom – um eine große Ansicht der Probe mit geringer Navigationsvergrößerung zu erhalten, können Sie den gewünschten Probenbereich schnell einrahmen, um die Effizienz zu verbessern.
Antikollisions
Führen Sie eine mehrdimensionale Antikollisionslösung ein.
1. Geben Sie die Probenhöhe manuell ein: Steuern Sie den Abstand zwischen Probe und Objektiv präzise.
2. Bilderkennung und Bewegungserfassung: Überwachen Sie das Echtzeitbild.
3.*Hardware: Stoppen Sie den Motor im Moment der Kollision.
> Charakteristische Funktionen
Intelligente unterstützte Dispersion
Stellen Sie den Grad der Streuung des gesamten Sichtfelds visuell dar und stellen Sie die Streuung schnell optimal ein, indem Sie mit der Maus auf die freie Stelle klicken.
Autofokus
Ein-Knopf-Fokus für schnelle Bildgebung.
Automatische Ableitung
Ein-Klick-Ableitung zur Verbesserung der Arbeitseffizienz.
Automatischer Helligkeitskontrast
Automatischer Helligkeitskontrast mit nur einem Klick, um Graustufenbilder passend anzupassen.
Gleichzeitige Abbildung mehrerer Informationen
Die SEM3200-Software unterstützt das Umschalten zwischen SE und BSE mit einem Klick für gemischte Bildgebung. Sowohl morphologische als auch zusammensetzungsbezogene Informationen der Probe können gleichzeitig beobachtet werden.
Schnelle Anpassung der Bilddrehung
Ziehen Sie eine Linie, um die Position anzupassen.
