NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK geht an den Shanghai STAR Market CIQTEK hielt am 11. August 2026 seine Börsenzeremonie an der Shanghai Stock Exchange ab. Die Notierung markiert eine neue Phase für das Unternehmen, während es weiterhin hochwertige wissenschaftliche Instrumente entwickelt. Das Unternehmen wird unter dem Börsenkürzel 688828 gehandelt und entwickelt, produziert und vertreibt Produkte wie Elektronenmikroskope, Elektronenspinresonanz-Spektrometer und Kernspinresonanz-Spektrometer.   Informationen zur Notierung CIQTEK gab 40,0100 Millionen Aktien zu einem Preis von 21,22 RMB pro Aktie aus. Der Bruttoerlös aus dem neuen Aktienangebot betrug 849,0122 Millionen RMB. Nach dem Angebot hatte das Unternehmen 400,0100 Millionen ausstehende Aktien. Im Jahr 2025 meldete CIQTEK einen Umsatz von 666,191845 Millionen RMB. Das Unternehmen hat seinen Sitz in Hefei, Provinz Anhui.   Von der Forschung zur praktischen Anwendung CIQTEK konzentriert sich darauf, Forschungskapazitäten in Instrumente umzuwandeln, die in Laboren und industriellen Umgebungen eingesetzt werden können. Bei der Zeremonie sagte Dr. He Yu, Vorstandsvorsitzender von CIQTEK, dass die Notierung ein wichtiger Meilenstein und eine Etappe auf dem Weg des Unternehmens vom Labor zur praktischen Anwendung sei. Dr. He dankte Kunden, Partnern, Investoren und den Teams, die den Angebots- und Notierungsprozess unterstützt haben.   Ein Fokus auf nützliche, zuverlässige Instrumente CIQTEK entwickelt hochwertige wissenschaftliche Instrumente in verschiedenen Produktbereichen. Das Unternehmen investiert weiterhin in Forschung und Entwicklung und baut sein Produktportfolio entsprechend den Kundenbedürfnissen aus. Dr. He sagte, dass Kundenfeedback, technische Problemlösung und zuverlässige Lieferung für die langfristige Verbesserung des Unternehmens von zentraler Bedeutung seien. CIQTEK wird weiterhin Projekte vorantreiben, die durch das Angebot finanziert werden, und eine transparente, standardisierte Unternehmensführung stärken.   Blick in die Zukunft Dr. He merkte an, dass bessere Messwerkzeuge wissenschaftliche Entdeckungen unterstützen und dass qualitativ hochwertige Daten unerlässlich bleiben, während künstliche Intelligenz die Art und Weise verändert, wie Forschung betrieben wird. CIQTEK wird weiterhin Instrumente für Forscher und industrielle Anwender auf der ganzen Welt bauen. „Wir werden fokussiert bleiben, uns langfristig weiter verbessern und stetig voranschreiten“, sagte Dr. He abschließend.   Hinweis zum Nachdruck Die Abschnitte zur Eröffnung und zu den „Informationen zur Notierung“ wurden aus einer öffentlichen Mitteilung der Shanghai Stock Exchange nachgedruckt. Die übrigen Abschnitte wurden aus einer ursprünglichen Rede von Dr. He Yu, Vorstandsvorsitzender von CIQTEK, adaptiert, die bei der Börsenzeremonie gehalten wurde.

Das CIQTEK DB550 Dual-Beam-FIB-SEM vereint hochauflösende Elektronenbildgebung und präzise Ionenstrahlbearbeitung auf einer einzigen Plattform. CIQTEK hat seine DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) an realen Chipproben mit 5-nm-Prozessknoten, Die Ergebnisse demonstrieren die produktionsreife TEM-Probenpräparation mit intakten Finnenstrukturen, keinerlei Amorphisierung und klar aufgelösten Filmschichten. Sie bestätigen, dass das DB550 die hohen Anforderungen fortschrittlicher Labore für Halbleiterfehleranalyse erfüllt, die an der Spitze der Prozesstechnologie arbeiten. In der modernen Chipforschung und -fertigung sind zwei Werkzeuge von entscheidender Bedeutung. Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) ermöglicht die Betrachtung von Strukturen auf atomarer Ebene. Doch bevor man diese Strukturen untersuchen kann, benötigt man eine Probe, die dünn genug ist, damit Elektronen sie durchdringen können. Hier kommt das Dual-Beam-FIB-SEM zum Einsatz. Es ist die Präzisionswerkstatt, die diese ultradünnen Proben präpariert. Lernen Sie die DB550 kennen: Eine Plattform für Bildgebung und Nanotechnologie Der CIQTEK DB550 FIB-SEM Das System vereint zwei leistungsstarke Technologien auf einer einzigen Plattform. Zum einen liefert ein Rasterelektronenmikroskop (REM) hochauflösende Oberflächenbilder. Zum anderen ermöglicht ein fokussierter Ionenstrahl (FIB) die präzise Abtragung von Nanomaterialien. Gemeinsam schließen sie die Lücke zwischen Beobachtung und Fertigung im Milliardstel-Meter-Bereich. Das Herzstück des DB550 bildet ein Niederspannungs-, hochauflösende Elektronensäule in Kombination mit CIQTEKs proprietärer "Chengying"-Ionensäule Die vollständig im eigenen Haus entwickelte Chengying-Säule ist das Herzstück des Systems und ermöglicht dessen Nano-Schneid- und Ätzverfahren. CIQTEK kontrolliert den gesamten Design- und Fertigungsprozess dieser kritischen Komponente. Die 5-nm-Herausforderung: Warum die Probenpräparation mit jedem Strukturschritt schwieriger wird Bei 5 nm und darunter Chiparchitekturen basieren auf FinFETs (Fin-Feldeffekttransistoren) mit Finbreiten und -abständen im Nanometerbereich. Der DB550 ist für den gesamten Probenpräparations-Workflow dieser anspruchsvollen Prozessknoten ausgelegt. Er beginnt mit Schruppschneiden mit hohem Strom um schnell grobes Material zu entfernen und den Zielbereich zu erreichen. Dann geht es in den nächsten Schritt über. Niederspannungs-Feinpolieren Die Probe auf TEM-geeignete Abmessungen auszudünnen, ohne die darunter liegenden empfindlichen Strukturen zu beschädigen. TEM-Validierung: Der Beweis liegt im Bild CIQTEK Wir haben eine Chipprobe mit 5-nm-Prozessknoten auf dem DB550 hergestellt und sie zur Charakterisierung in ein TEM überführt. Die Ergebnisse sprechen für sich. Die TEM-Charakterisierung einer auf dem DB550 hergestellten 5-nm-Chipprobe zeigt intakte Finnenstrukturen mit klaren, wohldefinierten Filmschichten und keinen Amorphisierungsschäden. Die TEM-Aufnahmen zeigten,...