Vor Kurzem wurde in Hefei, Anhui , China , das weltweit erste kommerzielle Niedrigtemperatur- Rastermikroskop mit Stickstoff-Fehlstellen-Sonde (SNVM) vorgestellt . Dieses Instrument wird hauptsächlich zur Erkennung des Oberflächenmagnetismus von Nanomaterialien eingesetzt und wird eine neue Methode für die Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaften, Festkörperphysik und Biowissenschaften bieten. Das Instrument wurde unabhängig von CIQTEK entwickelt und markiert einen neuen Durchbruch in der Industrialisierung der Präzisionsmesstechnik.      Unter Präzisionsmessung versteht man die Nutzung von Eigenschaften wie Energieniveauübergängen, kohärenter Überlagerung und Verschränkung, um wesentliche Verbesserungen bei Messgenauigkeit, Empfindlichkeit, Auflösung usw. zu erzielen.   Das CIQTEK Scanning Nitrogen-vacancy Probe Microscope (SNVM) ist ein fortschrittliches wissenschaftliches Analyseinstrument, das die Technologie der optisch detektierten Magnetresonanz (ODMR) von Diamant-Stickstoff-Vakanzen (NV) mit der Rasterkraftmikroskop -Scanning-Bildgebungstechnologie (AFM) kombiniert und so eine quantitative und zerstörungsfreie magnetische Bildgebung magnetischer Proben mit hoher räumlicher Auflösung und hoher Empfindlichkeit ermöglicht.   Neben Diamant-NV-Farbzentren gibt es viele technische Möglichkeiten zur Präzisionsmessung, darunter Atommagnetometer, Atomuhren usw. Atommagnetometer sind eine Technologie, die die Wechselwirkung zwischen Licht und Atomen nutzt, um Magnetfelder zu erkennen und so Herzkrankheiten und abnormale Herzfrequenzen zu erkennen. Als neue Generation von Atomuhren kann die optische Gitteruhr derzeit einen Fehler von nur 1 Sekunde in zig Milliarden Jahren erreichen. Jede technische Möglichkeit zeigt je nach Anwendungsszenario ihre einzigartigen Fähigkeiten.     SNVM für die magnetische Bildgebung von BFO-Filmen Präzisionssensoren gelten als „Schlüssel zur mikroskopischen Welt“. Sie sind nicht nur klein, sondern auch sehr empfindlich. Sie können viele Signale erkennen, die früher nicht erkennbar und ungenau waren, wie z. B. Gehirnmagnetismus und Herzmagnetismus. Sie können zur Frühdiagnose neurologischer Erkrankungen, koronarer Herzkrankheiten und anderer Krankheiten eingesetzt werden. Gleichzeitig hat die Präzisionsmessung auch einige Innovationen bei den Erkennungsmethoden hervorgebracht, wie z. B. die Erkennung von Leckströmen in Lithiumbatterien im Bereich neuer Energien, das Stromnetzmanagement im Bereich der Energieerkundung und die Chipstrombildgebung im Bereich Halbleiter/integrierte Schaltkreise.      SNVM zur Abbildung eines einzelnen Streumagnetfelds Die Branche betrachtet Präzisionsmessungen als eine weitere „reife Industrialisierungsrichtung“ im Bereich der Informationstechnologie, und technologische Innovationen werden immer aktiver. In den letzten Jahren sind weltweit viele Start-up-Unternehmen im Bereich Messungen entstanden, um verschiedene Anwendungssze...

  Im Demolabor der Loughborough University herrscht reges Treiben, da wir das hochmoderne Rasterelektronenmikroskop SEM3200 präsentieren, eine revolutionäre Ergänzung für den britischen Markt. In Zusammenarbeit mit dem renommierten Loughborough Materials Characterization Center (LMCC) ist SciMed stolz darauf, den Benutzern die neue Reihe von CIQTEK-Mikroskopen vorstellen zu können , unterstützt durch die weltweit führende Expertise des Einrichtungspersonals.   Die Loughborough University ist kein Unbekannter in Sachen Exzellenz. Sie zählt zu den zehn besten Universitäten Großbritanniens und kann auf ein reiches akademisches Erbe und ein Engagement für den wissenschaftlichen Fortschritt zurückblicken. Das Demolabor befindet sich im LMCC, einer renommierten hochmodernen Einrichtung für Materialanalyse, und bietet die perfekte Umgebung, um den SEM3200 und seine außergewöhnlichen Fähigkeiten vorzustellen.     Unsere Reise begann mit dem Zusammentragen von Bildern verschiedener Forschungsgruppen, die eng mit der Loughborough University verbunden sind. Wir arbeiteten eng mit diesen Gruppen zusammen, was es mir ermöglichte, verschiedene Proben für die Bildgebung zu sammeln. Von mikrostrukturierten Substraten, die durch Photolithographie hergestellt wurden, bis hin zur komplexen Oberfläche eines Mikroelektrodenarrays haben sie die Essenz von Materialien unter dem Mikroskop eingefangen. Darüber hinaus haben sie kürzlich eine Reihe von Materialien erhalten, die in Wasserstoff-Energiezellentechnologien verwendet werden, wodurch die Möglichkeiten unserer Bildgebungsfähigkeiten erweitert werden.     Das Feedback der Mitarbeiter war durchweg positiv. Sie lobten durchweg die benutzerfreundliche Softwareoberfläche, die eine intuitive Steuerung innerhalb weniger Minuten ermöglicht. Ein herausragendes Merkmal ist der euzentrische 5-Achsen-Tisch, der selbst bei erheblichen Änderungen des Neigungswinkels eine einwandfreie Fokussierung und Bildposition gewährleistet. Das moderne Design des SEM3200 hat unsere Benutzer wirklich beeindruckt, da es mühelos und mit bemerkenswerter Leichtigkeit qualitativ hochwertige Bilder erzeugt.     Das SEM3200 stellt einen großen Fortschritt in der Mikroskopietechnologie dar und seine Ankunft im Demolabor der Loughborough University ist ein Grund zum Feiern. Forscher, Wissenschaftler und Studenten können nun auf ein Mikroskop zugreifen, das erstklassiges Fachwissen mit benutzerfreundlicher Bedienung kombiniert und den Weg für bahnbrechende Entdeckungen und außergewöhnliche Forschungsergebnisse ebnet.   Treten Sie mit dem SEM3200 in die Zukunft der Mikroskopie ein. Erleben Sie die Leistungsfähigkeit modernster Technologie, unterstützt durch die erstklassige Infrastruktur des LMCC der Loughborough University. Besuchen Sie uns im Demolabor und erleben Sie aus erster Hand das unglaubliche Potenzial des SEM3200. Lassen Sie uns gemeinsam neue Grenzen erkunden und eine Welt mikroskopischer Wunder ...

FIB-SEM kann zur Defektdiagnose, Reparatur, Ionenimplantation, In-situ-Verarbeitung, Maskenreparatur, Ätzen, Änderung des Designs integrierter Schaltkreise, Herstellung von Chipgeräten und maskenloser Verarbeitung von integrierten Schaltkreisen im großen Maßstab verwendet werden. Herstellung von Nanostrukturen, Verarbeitung komplexer Nanomuster, dreidimensionale Bildgebung und Analyse von Materialien, hochempfindliche Oberflächenanalyse, Oberflächenänderung und Probenvorbereitung für Transmissionselektronenmikroskopie usw. Es hat ein breites Anwendungsspektrum und ist unverzichtbar.   CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule (FIB) für Nanoanalysen und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivlinsendesign ausgestattet ist, mit Niederspannung und hoher Auflösung, die seine analytische Fähigkeit im Nanomaßstab gewährleistet. Die Ionensäule unterstützt eine Ga+-Flüssigmetallionenquelle mit einem hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahl, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen.   DB500 verfügt über einen integrierten Nanomanipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und 24 Erweiterungsanschlüsse, was es zu einer Allround-Nanoanalyse- und -herstellungsplattform mit umfassenden Konfigurationen und Erweiterbarkeit macht.   Um den Benutzern die herausragende Leistung des DB500 zu demonstrieren, hat das Team für Elektronenmikroskopie das spezielle Programm „CIQTEK FIB Show“ geplant, das in Form eines Videos die breite Palette von Anwendungen in den Bereichen Materialwissenschaft, Halbleiterindustrie, Biomedizin usw. präsentiert. Das Publikum wird das Funktionsprinzip des DB500 verstehen, die atemberaubenden mikroskopischen Bilder, die es aufnimmt, bewundern und die Bedeutung dieser Technologie für wissenschaftliche Forschung und industrielle Entwicklung eingehend erkunden.   TEM-Probenvorbereitung In dieser Folge zeigen wir Ihnen, wie Sie mit DB500 Proben für das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) effizient und präzise vorbereiten können.   Wie Sie im Video sehen können, bereitet DB500 TEM-Proben mit einer einfachen Bedienung, wenigen Vorverarbeitungsschritten, geringen Lernkosten und effizienten Tests vor; es ermöglicht präzise Mikro- und Nanoschnitte an festen Punkten mit kontrollierbarer Größe und gleichmäßiger Dicke und eignet sich für eine Vielzahl von Mikroskopie- und Mikroskopspektroskopieanalysen; und die Integration von Schnitt, Bildgebung und Analyse ist möglich.