Kurz gefasst Drei Forschungsteams nutzten CIQTEK ODMR-Instrumente, darunter das Raster-NV-Sondenmikroskop (SNVM) und das Diamant-Einzelspin-Spektrometer, um drei verschiedene Bereiche der fortgeschrittenen Materialforschung voranzubringen.   Ein Team am Institut für Physik der Chinesischen Akademie der Wissenschaften bildete Spinwellen im Realraum in der Nähe von magnetischen Defekten und antiferromagnetisch gekoppelten Streifendomänen in YIG- und LSMO-Filmen ab. Sie erfassten wellenlängenselektive Streuung und zum ersten Mal eine Zick-Zack-Wellenfrontverzerrung, als Spinwellen Streifendomänen kreuzten.   Ein Team an der Universität für Wissenschaft und Technik Chinas entfernte Selen aus 2D-CuCrSe₂ durch Vakuumglühen. Die resultierenden Se-Leerstellen erzeugten Ferromagnetismus bei Raumtemperatur, während die geschichtete Kristallstruktur intakt blieb.   Ein Team am Institut für Halbleiter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften kartierte, wie ein transversales Magnetfeld NV-Zentrum-Spinzustände mischt, das optische Auslesen schwächt und das Gleichgewicht zwischen den NV⁻- und NV⁰-Ladungszuständen verschiebt – alles Faktoren, die für die Stabilität von NV-basierten Sensoren in realen magnetischen Umgebungen wichtig sind.   Warum das wichtig ist Optisch detektierte magnetische Resonanz (ODMR) steht im Zentrum der Festkörper-Spinwissenschaft. Sie ist das Mittel, mit dem Forscher mikroskopische Magnetfelder abbilden, Spindynamiken entschlüsseln und einen einzelnen atomaren Defekt in Diamant in einen funktionierenden Sensor verwandeln. Die drei unten aufgeführten Studien stützten sich alle auf die ODMR-Produktlinie von CIQTEK, zu der das Raster-NV-Sondenmikroskop (SNVM) und das Diamant-Einzelspin-Spektrometer gehören, um in Bereiche vorzudringen, die ältere Werkzeuge nicht erreichen konnten: Spinwellen-Bildgebung, Raumtemperatur-Ferromagnetismus in 2D-Materialien und das Spin-Mischverhalten von NV-Zentren selbst.   Hier ist, was jedes Team herausgefunden hat und warum es für jeden wichtig ist, der magnonische Geräte, spintronische Materialien oder auf Diamant basierende Sensoren entwickelt. Studie 1: Raster-NV-Bildgebung enthüllt, wie sich Spinwellen tatsächlich ausbreiten Wo es veröffentlicht wurde: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy   Titel der Arbeit: Visualisierung modifizierter Spinwellen-Wellenfronten in der Nähe von magnetischen Defekten und Domänen unter Verwendung von Stickstoff-Fehlstellen-Zentren   Forschungsgruppe: Die Li Yangmu-Gruppe am Institut für Physik der Chinesischen Akademie der Wissenschaften   Das Team nutzte Raster-NV-Bildgebung, um Realraum-Bildgebung und Phasenanalyse der Spinwellenausbreitung und Wellenfronten in der Nähe von magnetischen Defekten im Nanomaßstab und antiferromagnetisch gekoppelten Streifendomänen in magnetischen Dünnfilmen (YIG und LSMO) durchzuführen. Die Arbeit enthüllte wellenlängenselektive Streuung und Wellenformmodulation, was Gerätedesignern eine neue Reihe von Werkzeugen zum Bauen...

CIQTEK geht an den Shanghai STAR Market CIQTEK hielt am 11. August 2026 seine Börsenzeremonie an der Shanghai Stock Exchange ab. Die Notierung markiert eine neue Phase für das Unternehmen, während es weiterhin hochwertige wissenschaftliche Instrumente entwickelt. Das Unternehmen wird unter dem Börsenkürzel 688828 gehandelt und entwickelt, produziert und vertreibt Produkte wie Elektronenmikroskope, Elektronenspinresonanz-Spektrometer und Kernspinresonanz-Spektrometer.   Informationen zur Notierung CIQTEK gab 40,0100 Millionen Aktien zu einem Preis von 21,22 RMB pro Aktie aus. Der Bruttoerlös aus dem neuen Aktienangebot betrug 849,0122 Millionen RMB. Nach dem Angebot hatte das Unternehmen 400,0100 Millionen ausstehende Aktien. Im Jahr 2025 meldete CIQTEK einen Umsatz von 666,191845 Millionen RMB. Das Unternehmen hat seinen Sitz in Hefei, Provinz Anhui.   Von der Forschung zur praktischen Anwendung CIQTEK konzentriert sich darauf, Forschungskapazitäten in Instrumente umzuwandeln, die in Laboren und industriellen Umgebungen eingesetzt werden können. Bei der Zeremonie sagte Dr. He Yu, Vorstandsvorsitzender von CIQTEK, dass die Notierung ein wichtiger Meilenstein und eine Etappe auf dem Weg des Unternehmens vom Labor zur praktischen Anwendung sei. Dr. He dankte Kunden, Partnern, Investoren und den Teams, die den Angebots- und Notierungsprozess unterstützt haben.   Ein Fokus auf nützliche, zuverlässige Instrumente CIQTEK entwickelt hochwertige wissenschaftliche Instrumente in verschiedenen Produktbereichen. Das Unternehmen investiert weiterhin in Forschung und Entwicklung und baut sein Produktportfolio entsprechend den Kundenbedürfnissen aus. Dr. He sagte, dass Kundenfeedback, technische Problemlösung und zuverlässige Lieferung für die langfristige Verbesserung des Unternehmens von zentraler Bedeutung seien. CIQTEK wird weiterhin Projekte vorantreiben, die durch das Angebot finanziert werden, und eine transparente, standardisierte Unternehmensführung stärken.   Blick in die Zukunft Dr. He merkte an, dass bessere Messwerkzeuge wissenschaftliche Entdeckungen unterstützen und dass qualitativ hochwertige Daten unerlässlich bleiben, während künstliche Intelligenz die Art und Weise verändert, wie Forschung betrieben wird. CIQTEK wird weiterhin Instrumente für Forscher und industrielle Anwender auf der ganzen Welt bauen. „Wir werden fokussiert bleiben, uns langfristig weiter verbessern und stetig voranschreiten“, sagte Dr. He abschließend.   Hinweis zum Nachdruck Die Abschnitte zur Eröffnung und zu den „Informationen zur Notierung“ wurden aus einer öffentlichen Mitteilung der Shanghai Stock Exchange nachgedruckt. Die übrigen Abschnitte wurden aus einer ursprünglichen Rede von Dr. He Yu, Vorstandsvorsitzender von CIQTEK, adaptiert, die bei der Börsenzeremonie gehalten wurde.

Das CIQTEK DB550 Dual-Beam-FIB-SEM vereint hochauflösende Elektronenbildgebung und präzise Ionenstrahlbearbeitung auf einer einzigen Plattform. CIQTEK hat seine DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) an realen Chipproben mit 5-nm-Prozessknoten, Die Ergebnisse demonstrieren die produktionsreife TEM-Probenpräparation mit intakten Finnenstrukturen, keinerlei Amorphisierung und klar aufgelösten Filmschichten. Sie bestätigen, dass das DB550 die hohen Anforderungen fortschrittlicher Labore für Halbleiterfehleranalyse erfüllt, die an der Spitze der Prozesstechnologie arbeiten. In der modernen Chipforschung und -fertigung sind zwei Werkzeuge von entscheidender Bedeutung. Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) ermöglicht die Betrachtung von Strukturen auf atomarer Ebene. Doch bevor man diese Strukturen untersuchen kann, benötigt man eine Probe, die dünn genug ist, damit Elektronen sie durchdringen können. Hier kommt das Dual-Beam-FIB-SEM zum Einsatz. Es ist die Präzisionswerkstatt, die diese ultradünnen Proben präpariert. Lernen Sie die DB550 kennen: Eine Plattform für Bildgebung und Nanotechnologie Der CIQTEK DB550 FIB-SEM Das System vereint zwei leistungsstarke Technologien auf einer einzigen Plattform. Zum einen liefert ein Rasterelektronenmikroskop (REM) hochauflösende Oberflächenbilder. Zum anderen ermöglicht ein fokussierter Ionenstrahl (FIB) die präzise Abtragung von Nanomaterialien. Gemeinsam schließen sie die Lücke zwischen Beobachtung und Fertigung im Milliardstel-Meter-Bereich. Das Herzstück des DB550 bildet ein Niederspannungs-, hochauflösende Elektronensäule in Kombination mit CIQTEKs proprietärer "Chengying"-Ionensäule Die vollständig im eigenen Haus entwickelte Chengying-Säule ist das Herzstück des Systems und ermöglicht dessen Nano-Schneid- und Ätzverfahren. CIQTEK kontrolliert den gesamten Design- und Fertigungsprozess dieser kritischen Komponente. Die 5-nm-Herausforderung: Warum die Probenpräparation mit jedem Strukturschritt schwieriger wird Bei 5 nm und darunter Chiparchitekturen basieren auf FinFETs (Fin-Feldeffekttransistoren) mit Finbreiten und -abständen im Nanometerbereich. Der DB550 ist für den gesamten Probenpräparations-Workflow dieser anspruchsvollen Prozessknoten ausgelegt. Er beginnt mit Schruppschneiden mit hohem Strom um schnell grobes Material zu entfernen und den Zielbereich zu erreichen. Dann geht es in den nächsten Schritt über. Niederspannungs-Feinpolieren Die Probe auf TEM-geeignete Abmessungen auszudünnen, ohne die darunter liegenden empfindlichen Strukturen zu beschädigen. TEM-Validierung: Der Beweis liegt im Bild CIQTEK Wir haben eine Chipprobe mit 5-nm-Prozessknoten auf dem DB550 hergestellt und sie zur Charakterisierung in ein TEM überführt. Die Ergebnisse sprechen für sich. Die TEM-Charakterisierung einer auf dem DB550 hergestellten 5-nm-Chipprobe zeigt intakte Finnenstrukturen mit klaren, wohldefinierten Filmschichten und keinen Amorphisierungsschäden. Die TEM-Aufnahmen zeigten,...