CIQTEK Lists on the Shanghai STAR Market CIQTEK held its listing ceremony at the Shanghai Stock Exchange on August 11, 2026. The listing marks a new stage for the company as it continues to develop high-end scientific instruments. The company trades under stock code 688828 and develops, manufactures, and sells products including electron microscopes, electron paramagnetic resonance spectrometers, and nuclear magnetic resonance spectrometers. Listing Information CIQTEK issued 40.0100 million shares at RMB 21.22 per share. The gross proceeds from the new share offering were RMB 849.0122 million. Following the offering, the company had 400.0100 million shares outstanding. In 2025, CIQTEK reported revenue of RMB 666.191845 million. The company is based in Hefei, Anhui Province.   From Research to Real-World Use CIQTEK focuses on turning research capabilities into instruments that can be used in laboratories and industrial settings. At the ceremony, Dr. He Yu, Chairman of CIQTEK, said the listing is an important milestone and a stage in the company’s journey from the laboratory to real-world use. Dr. He thanked customers, partners, investors, and the teams that supported the offering and listing process. A Focus on Useful, Reliable Instruments CIQTEK develops high-end scientific instruments across several product areas. The company continues to invest in research and development and to expand its product portfolio around customer needs. Dr. He said that customer feedback, technical problem-solving, and reliable delivery are central to the company’s long-term improvement. CIQTEK will continue to advance projects funded by the offering and strengthen transparent, standardized governance. Looking Ahead Dr. He noted that better measurement tools support scientific discovery and that high-quality data remains essential as artificial intelligence changes the way research is done. CIQTEK will continue to build instruments for researchers and industrial users around the world. “We will stay focused, keep improving over the long term, and move forward steadily,” Dr. He said in closing.   Reprint Note The opening and “Listing Information” sections are reprinted from a Shanghai Stock Exchange public release. The remaining sections are adapted from an original address by Dr. He Yu, Chairman of CIQTEK, delivered at the listing ceremony.

Das CIQTEK DB550 Dual-Beam-FIB-SEM vereint hochauflösende Elektronenbildgebung und präzise Ionenstrahlbearbeitung auf einer einzigen Plattform. CIQTEK hat seine DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) an realen Chipproben mit 5-nm-Prozessknoten, Die Ergebnisse demonstrieren die produktionsreife TEM-Probenpräparation mit intakten Finnenstrukturen, keinerlei Amorphisierung und klar aufgelösten Filmschichten. Sie bestätigen, dass das DB550 die hohen Anforderungen fortschrittlicher Labore für Halbleiterfehleranalyse erfüllt, die an der Spitze der Prozesstechnologie arbeiten. In der modernen Chipforschung und -fertigung sind zwei Werkzeuge von entscheidender Bedeutung. Das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) ermöglicht die Betrachtung von Strukturen auf atomarer Ebene. Doch bevor man diese Strukturen untersuchen kann, benötigt man eine Probe, die dünn genug ist, damit Elektronen sie durchdringen können. Hier kommt das Dual-Beam-FIB-SEM zum Einsatz. Es ist die Präzisionswerkstatt, die diese ultradünnen Proben präpariert. Lernen Sie die DB550 kennen: Eine Plattform für Bildgebung und Nanotechnologie Der CIQTEK DB550 FIB-SEM Das System vereint zwei leistungsstarke Technologien auf einer einzigen Plattform. Zum einen liefert ein Rasterelektronenmikroskop (REM) hochauflösende Oberflächenbilder. Zum anderen ermöglicht ein fokussierter Ionenstrahl (FIB) die präzise Abtragung von Nanomaterialien. Gemeinsam schließen sie die Lücke zwischen Beobachtung und Fertigung im Milliardstel-Meter-Bereich. Das Herzstück des DB550 bildet ein Niederspannungs-, hochauflösende Elektronensäule in Kombination mit CIQTEKs proprietärer "Chengying"-Ionensäule Die vollständig im eigenen Haus entwickelte Chengying-Säule ist das Herzstück des Systems und ermöglicht dessen Nano-Schneid- und Ätzverfahren. CIQTEK kontrolliert den gesamten Design- und Fertigungsprozess dieser kritischen Komponente. Die 5-nm-Herausforderung: Warum die Probenpräparation mit jedem Strukturschritt schwieriger wird Bei 5 nm und darunter Chiparchitekturen basieren auf FinFETs (Fin-Feldeffekttransistoren) mit Finbreiten und -abständen im Nanometerbereich. Der DB550 ist für den gesamten Probenpräparations-Workflow dieser anspruchsvollen Prozessknoten ausgelegt. Er beginnt mit Schruppschneiden mit hohem Strom um schnell grobes Material zu entfernen und den Zielbereich zu erreichen. Dann geht es in den nächsten Schritt über. Niederspannungs-Feinpolieren Die Probe auf TEM-geeignete Abmessungen auszudünnen, ohne die darunter liegenden empfindlichen Strukturen zu beschädigen. TEM-Validierung: Der Beweis liegt im Bild CIQTEK Wir haben eine Chipprobe mit 5-nm-Prozessknoten auf dem DB550 hergestellt und sie zur Charakterisierung in ein TEM überführt. Die Ergebnisse sprechen für sich. Die TEM-Charakterisierung einer auf dem DB550 hergestellten 5-nm-Chipprobe zeigt intakte Finnenstrukturen mit klaren, wohldefinierten Filmschichten und keinen Amorphisierungsschäden. Die TEM-Aufnahmen zeigten,...

A Winning Team: SEM + FIB, the "Golden Combination" CIQTEK brings SEM and FIB together as a powerful team, providing critical support for PCB process optimization, reliability verification, and root cause determination of failures. SEM High-Resolution Imaging: The "Microscope" for Surface Details The SEM uses a high-resolution electron beam to capture crisp images of PCB surface morphology. It reveals solder pad plating, intermetallic compounds, micro-cracks, tin whiskers, and foreign particle contamination with exceptional clarity. Coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), the SEM also performs elemental analysis on microscopic regions. This combination lets engineers identify the chemical signature of defects, making it straightforward to spot issues like short circuits, open circuits, corrosion, and plating anomalies. FIB Nanoscale Cutting: The "Scalpel" for Internal Structures While the SEM excels at surface imaging, the FIB takes over when you need to see what is happening inside the board. Using a nanometer-precision ion beam, the FIB performs targeted cross-sectioning at the exact defect location. It prepares ultra-thin slices through multi-layer boards, blind vias, and buried vias, exposing internal structures that mechanical sectioning simply cannot reach. Think of the FIB as a microscopic surgical tool. It removes material with nanometer accuracy, leaving a clean cross-section ready for imaging and analysis. CIQTEK Semiconductor Showcase: See It in Action The Beauty of the Microscopic World, Revealed in Every Detail. Here are real examples of CIQTEK electron microscopes in PCB cross-section observation: Solder Joint Interface Panorama Low magnification observation of capacitor overall morphology, viewing the real microscopic structure of the capacitor solder joint interface from the inside IMC Layer Evaluation Evaluating interlayer bonding, measuring IMC thickness and uniformity, detecting voids, cracks, and interface defects Multi-Layer Board Inner Structure Clear observation of IMC layer morphology, thickness, continuity, and density at the solder pad and solder interface Process Reliability Evaluation Evaluating trace pattern, thickness, etching quality and copper-to-substrate bonding, detecting line shift, etch defects, delamination, voids, and analyzing plating layer quality for PCB process control and reliability assessment Built for Labs That Demand Reliability CIQTEK develops its electron microscopy platforms from the ground up, covering core algorithms through hardware design. This vertical integration ensures consistent performance and long-term supply stability, which matters for labs running continuous production or multi-year research programs. The company backs its instruments with responsive technical support and regular software updates, helping users keep their systems running efficiently over time. Get in Touch If you are evaluating SEM or FIB systems for your PCB inspection workflow, the CIQTEK team can...