CIQTEK-Hochgeschwindigkeits-REM sorgt auf dem 16. ASEM-Workshop für Furore

Auf dem 16. ASEM-Workshop in Österreich demonstrierte CIQTEK, dass Forscher nicht länger zwischen Bildgebungsgeschwindigkeit und hoher Auflösung wählen müssen. Unser jüngster Durchbruch in Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskopie (SEM) ermöglicht unglaublich detaillierte Abbildungen bei niedrigen Spannungen, wodurch Großprojekte schneller und genauer als je zuvor realisiert werden können.

Ein Treffen großer Geister in Österreich

Der 16. ASEM-Workshop am Institute of Science and Technology Austria (ISTA) ging kürzlich zu Ende – und was für eine Veranstaltung! Vom 20. bis 21. April war dieser Workshop der Treffpunkt für alle, die sich ernsthaft mit Elektronenmikroskopie in Europa beschäftigen. Die Luft war erfüllt von Diskussionen über die nächste Generation der Bildgebung, und das CIQTEK-Team war mittendrin.

Das Gespräch, über das alle sprachen

Einer der meistdiskutierten Momente der Veranstaltung war eine Fachsitzung unter der Leitung von Dr. Fenfa Yao vom CIQTEK. Sein Vortrag mit dem Titel „Das Potenzial der einzigartigen Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskopie ohne Kompromisse bei der Bildauflösung bei niedrigen kV-Werten für großflächige Volumenmikroskopieanwendungen nutzen“ stieß beim Publikum aus gutem Grund auf großes Interesse.

Dr. Yao widmete sich einem Problem, das Wissenschaftler jahrelang beschäftigte. Bisher musste man, um ein großes Probenvolumen zu scannen, entweder langsam vorgehen, um eine hohe Qualität zu gewährleisten, oder beschleunigen und dabei feine Details verlieren. Durch die Fokussierung auf die „Low-kV“-Bildgebung (niedrige Beschleunigungsspannung) zeigte Dr. Yao, wie CIQTEK dieses Problem gelöst hat. Wir können nun gestochen scharfe Bilder bei hohen Geschwindigkeiten erzeugen, ohne empfindliche Proben zu beschädigen.

Warum „niedrige kV-Werte“ so wichtig sind

Für viele im Publikum kam der eigentliche Aha-Moment beim Betrachten der Ergebnisse der Hochgeschwindigkeitsbildgebung von CIQTEK. Bildgebung bei niedrigen Spannungen ist entscheidend, da sie dazu beiträgt, Proben vor Strahlenschäden zu schützen, insbesondere in den Lebenswissenschaften oder der Forschung an empfindlichen Materialien. Dr. Yao erklärte, wie unsere Technologie selbst unter Zeitdruck eine hervorragende Auflösung beibehält – ein absoluter Segen für die großflächige Volumenmikroskopie.

Mehr als nur Technologie: Es geht um Menschen

Die technischen Sitzungen waren zwar ein voller Erfolg, das Highlight für unser Team war jedoch die CIQTEK Am Stand. Es fühlte sich an wie ein Wiedersehen! Wir waren begeistert, so viele bekannte Gesichter zu sehen: langjährige Partner und treue Kunden, die vorbeikamen, um Hallo zu sagen und zu sehen, woran wir in letzter Zeit gearbeitet haben.

Die Gespräche drehten sich nicht nur um technische Daten und Zahlen. Wir sprachen über Herausforderungen aus der Praxis, tauschten Ideen für zukünftige Forschungsprojekte aus und erhielten wertvolles Feedback zu unserer HEM6000-Serie. Es sind diese menschlichen Kontakte, die uns immer wieder zu Innovationen antreiben.

Blick in die Zukunft

Mit dem Abschluss des ASEM-Workshops kehren wir voller neuer Inspiration ins Büro zurück. Die positive Energie der Teilnehmer und die großartige Resonanz auf Dr. Yaos Vortrag bestätigen uns, dass wir auf dem richtigen Weg sind. Wir setzen uns weiterhin dafür ein, leistungsstarke Mikroskopiegeräte zu entwickeln, die nicht nur effizient, sondern auch für Wissenschaftler weltweit praktisch einsetzbar sind.

Falls Sie uns in Österreich verpasst haben, keine Sorge! Unser gesamtes Angebot an High-Speed-SEM-Lösungen finden Sie direkt hier auf unserer Website. Gerne beraten wir Sie auch, wie unsere Technologie Ihre Forschungsziele unterstützen kann.