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FESEM | SEM4000X

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient

Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und meistert problemlos hochauflösende Bildgebungsherausforderungen für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern.

Das Mikroskop nutzt Multi-Detektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennen kann und gleichzeitig eine hochauflösende Leistung bietet. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern mit hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatische Stigmierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.

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ⶠElektronenoptik

sem Electron Optics

ⶠSoftware zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für verschiedene Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Es ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie und Umweltwissenschaften angewendet werden.

ⶠBildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung an Bildern durch, die mit Elektronenmikroskopen aufgenommen wurden, und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

ⶠAutomatische Messung *Optional

SEM Microscope software Auto Measure

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten, was zu genaueren Messungen und höherer Konsistenz führt. Unterstützt mehrere Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit mehreren Bildformaten und ausgestattet mit verschiedenen häufig verwendeten Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist einfach zu bedienen, effizient und genau.

ⶠSoftware Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Stellen Sie eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des REM-Mikroskops bereit, einschließlich Bildaufnahme, Einstellungen der Betriebsbedingungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Präzise Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Skripts und Software für den Betrieb des Elektronenmikroskops automatisierte Verfolgung von interessierenden Regionen, Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, Bilddriftkorrektur und andere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in speziellen Bereichen wie der Kieselalgenanalyse, der Prüfung von Stahlverunreinigungen, der Reinheitsanalyse, der Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

ⶠAutoMap *Optional

FESEM Microscope software Auto Measure

Spezifikationen des CIQTEK SEM4000X FESEM-Mikroskops
Elektronenoptik Auflösung 0,9 nm bei 30 kV, SE
1,2 nm bei 15 kV, SE
1,9 nm bei 1 kV, SE
1,5 nm bei 1 kV (Ultrastrahlverzögerung)
1 nm bei 15 kV (Ultrastrahlverzögerung)
Beschleunigungsspannung 0,2 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Elektronenkanonentyp Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer Kamera Dual-Kameras (optische Navigation + Kammerüberwachung)
Stufenbereich

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 50 mm

T: -10°~ +70°

R: 360°
REM-Detektoren und -Erweiterungen Standard

Elektronendetektor im Objektiv: UD-BSE/UD-SE

Everhart-Thornley-Detektor: LD
Optional

Rückstreuelektronendetektor (BSED)

Einziehbarer Raster-Transmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM)

Low Vacuum Detector (LVD)

Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX)

Elektronenrückstreuungsbeugungsmuster (EBSD)

Probenaustausch-Ladeschleuse (4 Zoll/8 Zoll)

Trackball- und Knopf-Bedienfeld

Ultra Beam Deceleration Mode-Technologie
Benutzeroberfläche Sprache Englisch
OS Windows
Navigation Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen Autom. Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator
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