FESEM | SEM4000X

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient

Der CIQTEK SEM4000X ist stabil, vielseitig, flexibel und effizient Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) Es erreicht eine Auflösung von 1,8 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedenste Probenarten. Durch einen Ultra-Strahlverzögerungsmodus lässt sich die Auflösung bei niedrigen Spannungen weiter verbessern.

Das Mikroskop nutzt Mehrdetektortechnologie. Ein in der Säule integrierter Elektronendetektor (UD) kann SE- und BSE-Signale erfassen und liefert gleichzeitig eine hohe Auflösung. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält einen Kristallszintillator und Photomultiplier-Röhren und bietet dadurch eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern von exzellenter Qualität führt. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastanpassung, Autofokus, automatische Stigmatisierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern in ultrahoher Auflösung ermöglichen.

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Hohe Auflösung
Multi-Detektor-Technologie
Vereinfachte Ausrichtung

Auf einer High-End-Plattform aufgebaut
*Ultra-Strahlverzögerungsmodus-Technologie
Hervorragende Erweiterbarkeit

▶ Elektronenoptik

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Algorithmen zur Zielerkennung und -segmentierung, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht die quantitative Analyse von Partikel- und Porenstatistiken und kann in Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Umweltwissenschaft eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie Online- oder Offline-Bildnachbearbeitungen an Bildern durch, die mit Elektronenmikroskopen aufgenommen wurden, und integrieren Sie gängige EM-Bildverarbeitungsfunktionen, komfortable Mess- und Annotationswerkzeuge.

▶ Automatische Messung *Optional

Die automatische Kantenerkennung sorgt für präzisere und konsistentere Messungen. Verschiedene Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Teilung usw. werden unterstützt. Die Software ist mit zahlreichen Bildformaten kompatibel und bietet diverse gängige Bildnachbearbeitungsfunktionen. Sie ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Es werden Schnittstellen zur Steuerung des Rasterelektronenmikroskops (REM) bereitgestellt, darunter Bildaufnahme, Betriebsparameter, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Skripte und Software für den REM-Betrieb. Dies erlaubt die automatisierte Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Die Software eignet sich für Spezialgebiete wie die Diatomeenanalyse, die Prüfung von Stahlverunreinigungen, die Reinheitsanalyse, die Rohstoffkontrolle usw.

▶ AutoMap *Optional

CIQTEK FESEM SEM4000X Einführung

Einblick in die CIQTEK-Fabrik: Führung durch die Elektronenmikroskop-Produktion

CIQTEK SEM4000X FESEM Mikroskop Spezifikationen
Elektronenoptik	Auflösung	0,9 nm bei 30 kV, SE 1,0 nm bei 15 kV, SE 1,8 nm bei 1 kV, SE 1,5 nm bei 1 kV (Ultra-Strahlverzögerung) 0,8 nm bei 15 kV (Ultra-Strahlverzögerung)
	Beschleunigungsspannung	0,2 kV ~ 30 kV
	Vergrößerung (Polaroid)	1 ~ 1.000.000 x
	Elektronenkanonentyp	Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer	Kamera	Doppelkamerasystem (optische Navigation + Kammerüberwachung)


	Bühnenbereich	X: 110 mm Y: 110 mm Z: 65 mm T: -10°~ +70° R: 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Standard	In-Lens-Elektronendetektor: UD-BSE/UD-SE Everhart-Thornley-Detektor: LD
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Optional	Rückstreuelektronendetektor (BSED) Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM) Niedrigvakuumdetektor (LVD) Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX) Elektronenrückstreubeugungsmuster (EBSD) Probenwechsel-Schleuse (4 Zoll / 8 Zoll) Trackball- und Drehknopf-Bedienfeld Ultra-Strahlverzögerungsmodus-Technologie
Benutzeroberfläche	Sprache	Englisch
	Betriebssystem	Windows
	Navigation	Optische Navigation, Gestensteuerung, Trackball (optional)
	Automatische Funktionen	Automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, automatische Stigmatisierung

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