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FESEM | SEM4000X

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient

Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern.

Das Mikroskop nutzt Multidetektortechnologie mit einem säulenintegrierten Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.

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▶ Elektronenoptik

sem Electron Optics

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Umweltwissenschaft eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung von mit Elektronenmikroskopen aufgenommenen Bildern durch und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

▶ Automatische Messung *Optional

SEM Microscope software Auto Measure

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten für präzisere Messungen und höhere Konsistenz. Unterstützt verschiedene Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit verschiedenen Bildformaten und mit verschiedenen gängigen Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Bietet eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des SEM-Mikroskops, einschließlich Bildaufnahme, Betriebszustandseinstellungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Elektronenmikroskop-Betriebsskripte und -software und ermöglichen die automatische Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung in der industriellen Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in Spezialbereichen wie Kieselalgenanalyse, Stahlverunreinigungsprüfung, Sauberkeitsanalyse, Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

▶ AutoMap *Optional

FESEM Microscope software Auto Measure

Spezifikationen des CIQTEK SEM4000X FESEM-Mikroskops
Elektronenoptik Auflösung 0,9 nm bei 30 kV, SE
1,2 nm bei 15 kV, SE
1,9 nm bei 1 kV, SE
1,5 nm@1 kV (Ultrastrahlverzögerung)
1 nm@15 kV (Ultrastrahlverzögerung)
Beschleunigungsspannung 0,2 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Elektronenkanonentyp Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer Kamera Doppelkameras (optische Navigation + Kammerüberwachung)
Bühnenbereich

X: 110 mm

Y: 110 mm

Z: 65 mm

T: -10°~ +70°

R: 360°

SEM-Detektoren und Erweiterungen Standard

Elektronendetektor in der Linse: UD-BSE/UD-SE

Everhart-Thornley-Detektor: LD

Optional

Rückstreuelektronendetektor (BSED)

Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM)

Niedervakuumdetektor (LVD)

Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX)

Elektronenrückstreu-Beugungsmuster (EBSD)

Probenaustauschschleuse (4 Zoll / 8 Zoll)

Trackball- und Knopf-Bedienfeld

Ultra Beam-Verzögerungsmodus-Technologie

Benutzeroberfläche Sprache Englisch
Betriebssystem Windows
Navigation Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator
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