FESEM |

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient

Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,8 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern.

Das Mikroskop nutzt Multidetektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) enthält einen Kristallszintillator und Photomultiplier-Röhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.

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Hohe Auflösung
Multi-Detektor-Technologie
Vereinfachte Ausrichtung

Auf einer High-End-Plattform aufgebaut
*Ultra Beam-Verzögerungsmodus-Technologie
Hervorragende Erweiterbarkeit

▶ Elektronenoptik

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht die quantitative Analyse von Partikel- und Porenstatistiken und kann in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie und Umweltwissenschaften eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung an mit Elektronenmikroskopen aufgenommenen Bildern durch und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

▶ Automatische Messung *Optional

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten für präzisere Messungen und höhere Konsistenz. Unterstützt mehrere Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit mehreren Bildformaten und ausgestattet mit verschiedenen gängigen Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Bietet eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des SEM-Mikroskops, einschließlich Bilderfassung, Betriebszustandseinstellungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Betriebsskripte und -software für Elektronenmikroskope und ermöglichen die automatische Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in Spezialbereichen wie Kieselalgenanalyse, Prüfung auf Stahlverunreinigungen, Sauberkeitsanalyse, Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

▶ AutoMap *Optional

CIQTEK FESEM SEM4000X Einführung

Im CIQTEK-Werk: Rundgang durch die Elektronenmikroskop-Fertigung

Spezifikationen des CIQTEK SEM4000X FESEM-Mikroskops
Elektronenoptik	Auflösung	0,9 nm bei 30 kV, SE 1,0 nm bei 15 kV, SE 1,8 nm bei 1 kV, SE 1,5 nm@1 kV (Ultrastrahlverzögerung) 0,8 nm bei 15 kV (Ultrastrahlverzögerung)
	Beschleunigungsspannung	0,2 kV ~ 30 kV
	Vergrößerung (Polaroid)	1 ~ 1.000.000 x
	Elektronenkanonentyp	Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer	Kamera	Doppelkameras (optische Navigation + Kammerüberwachung)


	Bühnenbereich	X: 110 mm Y: 110 mm Z: 65 mm T: -10°~ +70° R: 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Standard	Elektronendetektor in der Linse: UD-BSE/UD-SE Everhart-Thornley-Detektor: LD
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Optional	Rückstreuelektronendetektor (BSED) Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM) Niedervakuumdetektor (LVD) Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX) Elektronenrückstreu-Beugungsmuster (EBSD) Probenaustausch-Ladeschleuse (4 Zoll / 8 Zoll) Trackball- und Knopf-Bedienfeld Ultra Beam-Verzögerungsmodus-Technologie
Benutzeroberfläche	Sprache	Englisch
	Betriebssystem	Windows
	Navigation	Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
	Automatische Funktionen	Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator

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