*Probenaustausch-Ladeschleuse (8 Zoll kompatibel)
Elektromagnetische Strahlablenkung mit Mehrloch-Apertursofte
Hervorragende Erweiterbarkeit

▶ Elektronenoptik

★ „Super Tunnel“-Elektronenoptik-Säulentechnologie/Strahlverzögerung in der Linse
Verringern Sie den räumlichen Ladeeffekt und stellen Sie eine niedrige Spannungsauflösung sicher.

★ Überkreuzungsfrei im Elektronenstrahlverlauf
Reduzieren Sie effektiv Linsenaberrationen und verbessern Sie die Auflösung.

★ Elektromagnetische und elektrostatische Verbundobjektivlinse
Reduzieren Sie Aberrationen, verbessern Sie die Auflösung bei niedrigen Spannungen erheblich und ermöglichen Sie die Beobachtung magnetischer Proben.

★ Wassergekühlte Objektivlinse mit konstanter Temperatur
Gewährleisten Sie die Stabilität, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit des Objektivbetriebs.

★ Variable Mehrlochblende mit elektromagnetischem Strahlablenksystem
Automatisches Umschalten zwischen Blenden ohne mechanische Bewegung, wodurch ein schnelles Umschalten zwischen Bildgebungsmodi möglich ist.

▶ BSED-basierter ECCI-Modus (Electron Channeling Contrast Imaging)

Der „Elektronenkanaleffekt“ bezeichnet eine deutliche Verringerung der Elektronenstreuung durch Kristallgitter, wenn der einfallende Elektronenstrahl die Bragg-Beugungsbedingung erfüllt und so einer großen Anzahl von Elektronen den Durchgang durch das Gitter ermöglicht, wodurch ein „Kanaleffekt“ auftritt.

Bei polykristallinen Materialien mit gleichmäßiger Zusammensetzung und polierten, flachen Oberflächen hängt die Intensität der rückgestreuten Elektronen von der relativen Orientierung zwischen dem einfallenden Elektronenstrahl und den Kristallebenen ab. Körner mit größerer Orientierungsvariation weisen stärkere Signale und daher hellere Bilder auf. Eine qualitative Charakterisierung mit einer solchen Kornorientierungskarte ist möglich.

3D-gedruckte Legierungen (hergestellt durch Ionenstrahlpolieren)
Edelstahl (vorbereitet durch Ionenstrahlpolieren)

▶ Simultane Mehrkanal-Bildgebung über verschiedene Detektoren

Mit der Elektronendetektor-Bildgebung im Objektiv wurde eine hohe Auflösung topografischer Oberflächenmerkmale erreicht
Gute stereoskopische Bilder morphologischer Merkmale mit Everhart-Thornley-Detektorbildgebung
Bild des Ordnungszahlkontrasts (Z-Kontrast) mit einziehbarer Rückstreuelektronendetektor-Bildgebung

▶ Einziehbarer Detektor für die Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Mehrere Betriebsmodi: Hellfeld-Bildgebung (BF), Dunkelfeld-Bildgebung (DF), High-Angle-Ring-Dunkelfeld-Bildgebung (HAADF)

Hellfeld-Bildgebung von Pflanzenabschnitten (STEM-BF)
Dunkelfeld-Bildgebung von Pflanzenabschnitten (STEM-DF)
Atomzahlkontrastbild (Z-Kontrast) mit einziehbarem Rückstreuelektronendetektor

▶ Fortschritte in der CIQTEK-Elektronenmikroskopie – mehr Optionen

>> Energiedispersive Spektrometrie

>> Katholumineszenz

>> EBSD

CIQTEK FESEM Mikroskop SEM5000Pro Bildergalerie

>> Materialwissenschaft - Nanomaterialien

Nichtleitendes zweidimensionales Material C3N4, zerstörungsfreie Charakterisierung seiner Feinschichtstruktur unter Niederspannungsbedingungen bei 500 V
Abbildung von Nickelschaum mit starkem dreidimensionalen Effekt unter Verwendung einer 2 kV Anregungsspannung mit dem Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Abbildung von Silberpulver im Subnanometerbereich mit einem In-Lens-Elektronendetektor bei 3 kV unter Hochvakuumbedingungen

>> Materialwissenschaft - Energiematerialien

Kathodenvorläufer einer Lithium-Ionen-Batterie – Eisenphosphat mit geringer Leitfähigkeit, abgebildet mit einem In-Lens-Elektronendetektor (In-Lens) unter Niederspannungsbedingungen (1 kV)
Die Oberflächenmetallisierungsqualität von Photovoltaik-Siliziumwafern, abgebildet mit einem kammermontierten Everhart-Thornley-Detektor (ETD) bei 2 kV
Oberflächen-SEI-Film (Solid Electrolyte Interphase) auf der ausgefallenen negativen Elektrode, abgebildet unter Hochvakuumbedingungen mit einem In-Lens-Elektronendetektor (In-Lens) bei 3 kV

>> Materialwissenschaft - Polymermaterialien und Metallmaterialien

Verwendung des Everhart-Thornley-Detektors (ETD) unter Hochvakuum und Niederspannung (1 kV) zur Abbildung der Morphologie von Polystyrol-Mikrokugeln. Es wurde kein Aufladungsphänomen beobachtet, was zu einer starken dreidimensionalen Wahrnehmung führte
Zerstörungsfreie 500-V-Bildgebung von Polymermembranfasern von Lithium-Ionen-Batterien unter oberflächenempfindlichen Bedingungen
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Hochauflösende Abbildung von nanogroßen Niederschlägen in Bruchflächen mit dem Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

>> Magnetische Materialien - Polymermaterialien und Metallmaterialien

Polymermagnetkügelchen mit geringer Leitfähigkeit, charakterisiert mit einer Niederspannung von 2 kV mit Everhart-Thornley-Detektor (ETD) zur Charakterisierung der biologisch zielgerichteten Arzneimittelabgabe
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
10 kV-Bildgebung mit Everhart-Thornley-Detektor (ETD) wurde verwendet, um die Bruchfläche von Eisen-Nickel-Legierungsmetall zu charakterisieren
Polymer-Magnetkügelchen, die mit einer Niederspannung von 2 kV mit einem Everhart-Thornley-Detektor (ETD) charakterisiert wurden, weisen ein starkes Gefühl der Dreidimensionalität auf

>> Halbleitermaterialien

Abbildung der Oberflächenmuster und Schaltkreise auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED)
Charakterisierung der Oberflächen- und Lochrandtexturen eines Fotolacks mit einem Everhar t-Thornley-Detektor (ETD) bei niedriger Spannung (2 kV)
Abbildung der Lötstellen von Golddrähten auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED). Probe vorbereitet durch Ionenstrahlpolitur

>> Biowissenschaften

Charakterisierung von Iridophoren in Eidechsenhautzellen mithilfe des STEM-Detektors im CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Tierfarben in der Natur lassen sich anhand ihrer Entstehungsmechanismen in zwei Kategorien einteilen: Pigmentfarben und Strukturfarben.
Pigmentfarben werden durch Variationen in der Pigmentzusammensetzung und durch Überlappung von Farben erzielt, ähnlich den Prinzipien der „Primärfarben“.
Strukturfarben hingegen entstehen durch die Reflexion von Licht unterschiedlicher Wellenlängen durch komplexe physiologische Strukturen und basieren hauptsächlich auf optischen Prinzipien. Iridophoren, die in Hautzellen von Eidechsen vorkommen, besitzen Strukturen, die Beugungsgittern ähneln. Wir bezeichnen diese Strukturen als „kristalline Platten“. Kristalline Platten können Licht unterschiedlicher Wellenlängen reflektieren und streuen. Studien haben gezeigt, dass sich die Wellenlängen des von der Haut gestreuten und reflektierten Lichts durch Variation von Größe, Abstand und Winkel der kristallinen Platten in Eidechsen-Iridophoren verändern lassen. Diese Erkenntnis ist für das Verständnis der Mechanismen hinter der Farbveränderung in Eidechsenhaut von Bedeutung.

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht die quantitative Analyse von Partikel- und Porenstatistiken und kann in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie und Umweltwissenschaften eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung an mit Elektronenmikroskopen aufgenommenen Bildern durch und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

▶ Automatische Messung *Optional

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten für präzisere Messungen und höhere Konsistenz. Unterstützt mehrere Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit mehreren Bildformaten und ausgestattet mit verschiedenen gängigen Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Bietet eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des SEM-Mikroskops, einschließlich Bilderfassung, Betriebszustandseinstellungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Betriebsskripte und -software für Elektronenmikroskope und ermöglichen die automatische Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in Spezialbereichen wie Kieselalgenanalyse, Prüfung auf Stahlverunreinigungen, Sauberkeitsanalyse, Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

▶ AutoMap *Optional

CIQTEK FESEM-Mikroskop SEM5000Pro auf dem Ulsan Campus der Korea Polytechnic University
Unsere koreanischen Kunden haben das FESEM SEM5000 erfolgreich auf dem Ulsan Campus installiert. Es gilt als eines der modernsten Rasterelektronenmikroskope (REM). (Video im Lieferumfang enthalten)

>> Mehr erfahren

CIQTEK FESEM SEM5000Pro Einführung

CIQTEK FESEM SEM5000Pro auf dem Ulsan Campus der Polytechnic University, Korea

Im CIQTEK-Werk: Rundgang durch die Elektronenmikroskop-Fertigung

CIQTEK FESEM Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen
Elektronenoptik	Auflösung	0,7 nm bei 15 kV, SE 1,1 nm bei 1,0 kV, SE
	Beschleunigungsspannung	0,02 kV bis 30 kV
	Vergrößerung (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Elektronenkanonentyp	Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer	Kamera	Doppelkameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Kamera	Doppelkameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Bühnenbereich	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm T: -10°～ +70°, R: 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Standard	Inlens-Elektronendetektor Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Optional	Einziehbarer Rückstreuelektronendetektor (BSED) Einziehbares Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) Niedervakuumdetektor (LVD) Energiedispersive Spektroskopie (EDS / EDX) Elektronenrückstreu-Beugungsmuster (EBSD) Probenaustausch-Ladeschleuse (4 Zoll / 8 Zoll) Trackball- und Knopf-Bedienfeld
Software	Sprache	Englisch
	Betriebssystem	Windows
	Navigation	Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
	Automatische Funktionen	Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator

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