FESEM | SEM5000Pro Lieferanten, FESEM | SEM5000Pro Hersteller, FESEM

Niedrige Spannung, hohe Auflösung
Hohe Stabilität
In-Lens-Elektronendetektor

*Probenaustauschschleuse (8 Zoll kompatibel)
Elektromagnetische Strahlablenkung mit Mehrloch-Apertursofte
Hervorragende Erweiterbarkeit

▶ Elektronenoptik

★ „Super Tunnel“-Elektronenoptik-Säulentechnologie/Strahlverzögerung in der Linse
Verringern Sie den räumlichen Ladeeffekt und stellen Sie eine niedrige Spannungsauflösung sicher.

★ Crossover-frei im Elektronenstrahlweg
Reduzieren Sie effektiv Linsenaberrationen und verbessern Sie die Auflösung.

★ Elektromagnetische und elektrostatische zusammengesetzte Objektivlinse
Reduzieren Sie Aberrationen, verbessern Sie die Auflösung bei niedrigen Spannungen erheblich und ermöglichen Sie die Beobachtung magnetischer Proben.

★ Wassergekühlte Objektivlinse mit konstanter Temperatur
Gewährleisten Sie die Stabilität, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit des Objektivbetriebs.

★ Variable Mehrlochblende mit elektromagnetischem Strahlablenksystem
Automatisches Umschalten zwischen Blenden ohne mechanische Bewegung, wodurch ein schnelles Umschalten zwischen Bildgebungsmodi möglich ist.

▶ BSED-basierter ECCI-Modus (Electron Channeling Contrast Imaging)

Der „Elektronenkanaleffekt“ bezeichnet eine deutliche Verringerung der Elektronenstreuung durch Kristallgitter, wenn der einfallende Elektronenstrahl die Bragg-Beugungsbedingung erfüllt und so einer großen Anzahl von Elektronen den Durchgang durch das Gitter ermöglicht, wodurch ein „Kanaleffekt“ auftritt.

Bei polykristallinen Materialien mit gleichmäßiger Zusammensetzung und polierten, flachen Oberflächen hängt die Intensität der Rückstreuelektronen von der relativen Orientierung des einfallenden Elektronenstrahls und der Kristallebenen ab. Körner mit größerer Orientierungsvariation weisen stärkere Signale und damit hellere Bilder auf. Eine qualitative Charakterisierung mithilfe einer solchen Kornorientierungskarte ist möglich.

3D-gedruckte Legierungen (hergestellt durch Ionenstrahlpolitur)
Edelstahl (vorbereitet durch Ionenstrahlpolitur)

▶ Simultane Mehrkanal-Bildgebung über verschiedene Detektoren

Eine hohe Auflösung topografischer Oberflächenmerkmale wurde durch die Abbildung von Elektronendetektoren in der Linse erreicht.
Gute stereoskopische Bilder morphologischer Merkmale mit Everhart-Thornley-Detektorbildgebung
Bild des Ordnungszahlkontrasts (Z-Kontrast) mit einziehbarer Rückstreuelektronendetektor-Bildgebung

▶ Einziehbarer Detektor für die Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Mehrere Betriebsarten: Hellfeld-Bildgebung (BF), Dunkelfeld-Bildgebung (DF), High-Angle Annular Dark Field-Bildgebung (HAADF)

Hellfeld-Bildgebung von Pflanzenabschnitten (STEM-BF)
Dunkelfeld-Bildgebung von Pflanzenschnitten (STEM-DF)
Atomzahlkontrastbild (Z-Kontrast) mit einziehbarem Rückstreuelektronendetektor

▶ Fortschritte in der CIQTEK-Elektronenmikroskopie – mehr Optionen

>> Energiedispersive Spektrometrie

>> Katholumineszenz

>> EBSD

CIQTEK FESEM Mikroskop SEM5000Pro Bildergalerie

>> Materialwissenschaft - Nanomaterialien

Nichtleitendes zweidimensionales Material C3N4, zerstörungsfreie Charakterisierung seiner Feinschichtstruktur unter Niederspannungsbedingungen bei 500 V
Abbildung von Nickelschaum mit starkem dreidimensionalen Effekt unter Verwendung einer 2 kV Anregungsspannung mit dem Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Abbildung von Silberpulver im Subnanometerbereich mit einem In-Lens-Elektronendetektor bei 3 kV unter Hochvakuumbedingungen

>> Materialwissenschaft - Energiematerialien

Kathodenvorläufer einer Lithium-Ionen-Batterie – Eisenphosphat mit schlechter Leitfähigkeit, abgebildet mit einem In-Lens-Elektronendetektor (In-Lens) unter Niederspannungsbedingungen (1 kV)
Die Oberflächenmetallisierungsqualität von Photovoltaik-Silizium-Wafern, abgebildet mit einem kammermontierten Everhart-Thornley-Detektor (ETD) bei 2 kV
Oberflächen-SEI-Film (Solid Electrolyte Interphase) auf der ausgefallenen negativen Elektrode, abgebildet unter Hochvakuumbedingungen mit einem In-lens-Elektronendetektor (In-lens) bei 3 kV

>> Materialwissenschaft - Polymermaterialien und Metallmaterialien

Verwendung des Everhart-Thornley-Detektors (ETD) unter Hochvakuum und Niederspannung (1 kV) zur Abbildung der Morphologie von Polystyrol-Mikrokugeln. Es wurde kein Aufladungsphänomen beobachtet, was zu einer starken dreidimensionalen Wahrnehmung führte.
Zerstörungsfreie 500-V-Bildgebung von Polymermembranfasern von Lithium-Ionen-Batterien unter oberflächenempfindlichen Bedingungen
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Hochauflösende Abbildung von nanogroßen Niederschlägen in Bruchflächen mit dem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED)

>> Magnetische Werkstoffe - Polymerwerkstoffe und Metallwerkstoffe

Polymermagnetkügelchen mit geringer Leitfähigkeit, charakterisiert durch eine Niederspannung von 2 kV mit Everhart-Thornley-Detektor (ETD) zur Charakterisierung der biologisch zielgerichteten Arzneimittelabgabe
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
10 kV-Bildgebung mit Everhart-Thornley-Detektor (ETD) wurde verwendet, um die Bruchfläche von Eisen-Nickel-Legierungsmetall zu charakterisieren
Polymermagnetkügelchen, die mit einer Niederspannung von 2 kV mit einem Everhart-Thornley-Detektor (ETD) charakterisiert wurden, weisen ein starkes Gefühl der Dreidimensionalität auf

>> Halbleitermaterialien

Abbildung der Oberflächenmuster und Schaltkreise auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED)
Charakterisierung der Oberflächen- und Lochrandtexturen eines Fotolacks mit einem Everhar t-Thornley-Detektor (ETD) bei niedriger Spannung (2 kV)
Abbildung der Lötstellen von Golddrähten auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED). Probe vorbereitet durch Ionenstrahlpolitur

>> Biowissenschaften

Charakterisierung von Iridophoren in Eidechsenhautzellen mithilfe des STEM-Detektors im CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Tierfarben in der Natur können anhand ihrer Entstehungsmechanismen in zwei Kategorien eingeteilt werden: Pigmentfarben und Strukturfarben.
Pigmentfarben werden durch Variationen in der Pigmentzusammensetzung und durch Überlappung von Farben erzielt, ähnlich den Prinzipien der „Primärfarben“.
Strukturfarben hingegen entstehen durch die Reflexion von Licht unterschiedlicher Wellenlängen an komplexen physiologischen Strukturen und basieren hauptsächlich auf optischen Prinzipien. Iridophoren, die in Hautzellen von Eidechsen vorkommen, besitzen Strukturen, die Beugungsgittern ähneln. Wir bezeichnen diese Strukturen als „kristalline Platten“. Kristalline Platten können Licht unterschiedlicher Wellenlängen reflektieren und streuen. Studien haben gezeigt, dass sich die Wellenlängen des von der Haut gestreuten und reflektierten Lichts durch Variation von Größe, Abstand und Winkel der kristallinen Platten in Eidechsen-Iridophoren verändern lassen. Diese Erkenntnis ist wichtig für das Verständnis der Mechanismen, die dem Farbwechsel in der Eidechsenhaut zugrunde liegen.

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Umweltwissenschaft eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung von mit Elektronenmikroskopen aufgenommenen Bildern durch und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

▶ Automatische Messung *Optional

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten für präzisere Messungen und höhere Konsistenz. Unterstützt verschiedene Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit verschiedenen Bildformaten und mit verschiedenen gängigen Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Bietet eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des SEM-Mikroskops, einschließlich Bildaufnahme, Betriebszustandseinstellungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Elektronenmikroskop-Betriebsskripte und -software und ermöglichen die automatische Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung in der industriellen Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in Spezialbereichen wie Kieselalgenanalyse, Stahlverunreinigungsprüfung, Sauberkeitsanalyse, Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

▶ AutoMap *Optional

CIQTEK FESEM-Mikroskop SEM5000Pro auf dem Ulsan-Campus der Korea Polytechnic University
Unsere koreanischen Kunden haben das FESEM SEM5000 erfolgreich auf dem Ulsan Campus installiert. Es gilt als eines der modernsten Rasterelektronenmikroskope (SEMs). (Video im Lieferumfang enthalten)

>> Mehr erfahren

CIQTEK FESEM SEM5000Pro Einführung

CIQTEK FESEM SEM5000Pro auf dem Ulsan-Campus der Polytechnischen Universität, Korea

Im CIQTEK-Werk: Rundgang durch die Elektronenmikroskop-Produktion

CIQTEK FESEM Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen
Elektronenoptik	Auflösung	0,8 nm bei 15 kV, SE 1,2 nm bei 1,0 kV, SE
	Beschleunigungsspannung	0,02 kV bis 30 kV
	Vergrößerung (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Elektronenkanonentyp	Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer	Kamera	Doppelkameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Kamera	Doppelkameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Bühnenbereich	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm T: -10°～ +70°, R: 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Standard	Inlens-Elektronendetektor Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Optional	Einziehbarer Rückstreuelektronendetektor (BSED) Einziehbares Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) Niedervakuumdetektor (LVD) Energiedispersive Spektroskopie (EDS / EDX) Elektronenrückstreu-Beugungsmuster (EBSD) Probenaustauschschleuse (4 Zoll / 8 Zoll) Trackball- und Knopf-Bedienfeld
Software	Sprache	Englisch
	Betriebssystem	Windows
	Navigation	Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
	Automatische Funktionen	Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator

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