Wolframfilament-REM | SEM2100

Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Hohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).

Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.

Hohe Auflösung bei geringer Anregung Der CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösender Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) das auf hohe Auflösung auch bei niedrigen Anregungsspannungen spezialisiert ist. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptiktechnologie ermöglicht einen überkreuzungsfreien Strahlengang und ein elektrostatisch-elektromagnetisches Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte verringern den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedrigen Spannungen und erreichen eine Auflösung von 1,1 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Strahlenschäden an den Proben wirksam reduziert.

Analytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,8 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multidetektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält einen Kristallszintillator und Photomultiplier-Röhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.

Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.

Hochleistungs- und Universal-SEM mit Wolframfilament Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.