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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Scanning Electron Microscopes (SEMs), Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance) Spectroscopy, Scanning NV Probe Microscope, Gas Adsorption Analyzer, etc.
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Rasterelektronenmikroskop mit Wolframfilament |

CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit Wolframfilament. Es bietet sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Schnittstelle, mit der Benutzer Proben charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse erkunden können.

  • # Bild mischen (SE+BSE)
    Beobachten Sie die Zusammensetzung und die topografische Oberfläche der Probe in einem Bild
  • # Doppelanode (Tetrode)
    Das Design des Doppelanoden-Emissionssystems bietet eine hervorragende Auflösung bei geringer Landeenergie
  • # *Niedrigvakuummodus
    Bereitstellung von Informationen zur Oberflächenmorphologie von Proben im Niedervakuum, umschaltbarer Vakuumzustand mit einem Klick

(*Optionales Zubehör)

 

Vielseitige Detektoren

Das Rasterelektronenmikroskop (REM) wird nicht nur zur Beobachtung der Oberflächenmorphologie, sondern auch zur Analyse der Zusammensetzung von Mikroregionen auf der Probenoberfläche verwendet.

CIQTEK SEM3200 verfügt über eine große Probenkammer mit einer umfangreichen Schnittstelle. Neben der Unterstützung des herkömmlichen Everhart-Thornley-Detektors (ETD), des Rückstreuelektronendetektors (BSE) und der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) sind auch verschiedene Schnittstellen wie das Elektronenrückstreubeugungsmuster (EBSD) und die Kathodolumineszenz (CL) reserviert.

 

Rückstreuelektronendetektor (BSE)

Vergleich von Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung

Im Rückstreuelektronen-Bildgebungsmodus wird der Ladungseffekt erheblich unterdrückt und es können mehr Informationen über die Zusammensetzung der Probenoberfläche beobachtet werden.

 

Beschichtungsproben:

  • SEM-Rückstreuelektronendetektor (BSE)-Beschichtungsproben
  • SEM-Rückstreuelektronendetektor (BSE)-Beschichtungsproben

 

 

 

Proben aus Wolframstahllegierungen:

  • SEM-Rückstreuelektronendetektor (BSE) für Proben aus Wolframstahllegierungen
  • SEM-Rückstreuelektronendetektor (BSE) für Proben aus Wolframstahllegierungen

 

 

 

Vier-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor - Mehrkanal-Bildgebung

Der Detektor hat ein kompaktes Design und eine hohe Empfindlichkeit. Mit dem 4-Quadranten-Design ist es möglich, topografische Bilder in verschiedene Richtungen sowie Bilder der Zusammensetzungsverteilung zu erhalten, ohne die Probe zu neigen.

 

 

Energiespektrum

Ergebnisse der Analyse des Energiespektrums kleiner LED-Perlen.

 

SEM-Energiespektrum

 

 

Elektronen-Rückstreu-Beugungsmuster (EBSD)

Das Wolframfilament-Elektronenmikroskop mit großem Strahlstrom erfüllt die Testanforderungen eines hochauflösenden EBSD vollständig und kann polykristalline Materialien wie Metalle, Keramik und Mineralien hinsichtlich Kristallorientierung und Korngrößenanalyse analysieren.

Die Abbildung zeigt die EBSD-Kornkarte einer Ni-Metallprobe, mit der sich Korngröße und -ausrichtung identifizieren, Korngrenzen und Zwillinge bestimmen und genaue Aussagen zur Materialanordnung und -struktur treffen lassen.

 

SEM-Elektronenrückstreubeugungsmuster (EBSD)

Modelle SEM3200A SEM3200
Elektrooptische Systeme Elektronenkanone Vorjustierter mittelgroßer Haarnadel-Wolframfaden
Auflösung Hochvakuum 3 nm bei 30 kV (SE)
4 nm bei 30 kV (BSE)
8 nm bei 3 kV (SE)
*Niedriges Vakuum 3 nm bei 30 kV (SE)
Vergrößerung 1-300.000x (Film)
1-1.000.000-fach
Beschleunigungsspannung 0,2 kV bis 30 kV
Sondenstrom ≥1,2 μA, Echtzeitanzeige
Bildgebungssysteme Detektor Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
*Rückstreuelektronendetektor (BSED), *Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor, *Energiespektrometer EDS usw.
Bildformat TIFF, JPG, BMP, PNG
Vakuumsystem Vakuummodell Hochvakuum Besser als 5×10 -4 Pa
Niedriges Vakuum 5 ~ 1000 Pa
Steuerungsmodus Vollautomatische Steuerung
Probenkammer Kamera Optische Navigation
Überwachung in der Probenkammer
Probentabelle Dreiachsige Automatik Fünf-Achsen-Automatik
Bühnenbereich X: 120 mm X: 120 mm
Y: 115 mm Y: 115 mm
Z: 50 mm Z: 50 mm
/ R: 360°
/ T: -10° ~ +90°
Software Betriebssystem Windows
Navigationen Optische Navigation, schnelle Gestennavigation
Automatische Funktionen Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator
Spezialfunktionen

Intelligente Bildkorrektur mit Astigmatismusunterstützung

*Bildzusammenfügung mit großem Sichtfeld (optional) 

Installationsvoraussetzungen Temperatur 20°C (68°F) bis 25°C (77°F)
Feuchtigkeit ≤ 50 %
Stromversorgung

Wechselstrom 220 V (±10 %), 50 Hz, 2 kVA

Wechselstrom 110 V (±10 %), 60 Hz

> Niederspannung

Kohlenstoffmaterialproben mit geringer Eindringtiefe bei niedriger Spannung. Die wahre Topographie der Probenoberfläche kann detailreich dargestellt werden.

 

 

Bei niedriger Spannung wird die Schädigung der Haarprobe durch die Elektronenbestrahlung verringert und gleichzeitig der Aufladungseffekt eliminiert.

 

 

Niedriges Vakuum

Gefilterte Faserrohrmaterialien sind schlecht leitfähig und laden sich im Hochvakuum stark auf. Im Niedervakuum ist eine direkte Beobachtung nichtleitender Proben ohne Beschichtung möglich.

 

 

Großes Sichtfeld

Mithilfe eines großen Sichtfelds können bei biologischen Proben problemlos allgemeine morphologische Details des Kopfes eines Marienkäfers erfasst werden, wodurch die Fähigkeit zur maßstabsübergreifenden Abbildung demonstriert wird.

  • SEM Großes Sichtfeld
  • SEM Großes Sichtfeld

 

 

Probentisch-Navigation und Antikollision

Optische Navigation

Klicken Sie auf die gewünschte Stelle und sehen Sie sich die Seite mit der einfachen Navigation an.

Eine Kammerkamera gehört zum Standard und kann HD-Fotos aufnehmen, um Proben schnell zu lokalisieren.

  • SEM-Mikroskop-Probentischnavigation und Antikollision

 

 

Schnelle Gestennavigation

Schnelle Navigation durch Doppelklicken zum Verschieben, mittlere Maustaste zum Ziehen und Rahmen zum Zoomen.

Exp: Rahmenzoom – um bei geringer Vergrößerungsnavigation eine große Ansicht der Probe zu erhalten, können Sie den Bereich der Probe, der Sie interessiert, schnell einrahmen. Das Bild wird zur Verbesserung der Effizienz automatisch vergrößert.

  • Schnelle Gestennavigation für SEM-Mikroskope
  • Schnelle Gestennavigation für SEM-Mikroskope

 

 

Bühnen-Antikollision

Eine Mehrwege-Antikollisionslösung:

1. Manuelle Eingabe der Probenhöhe: Kontrollieren Sie präzise den Abstand zwischen der Probenoberfläche und der Objektivlinse.

2. Bilderkennung und Bewegungserfassung: Überwachen Sie die Bühnenbewegung in Echtzeit.

3. *Hardware: Schalten Sie den Bühnenmotor im Moment der Kollision ab.

  • SEM-Mikroskoptisch Antikollision

 

 

Charakteristische Funktionen

Intelligente Bildkorrektur mit Astigmatismusunterstützung

Lassen Sie sich den Astigmatismus im gesamten Sichtfeld visuell anzeigen und korrigieren Sie ihn schnell per Mausklick.

  • SEM-Mikroskop - Intelligenzunterstützte Bildastigmatismuskorrektur
  • SEM-Mikroskop - Intelligenzunterstützte Bildastigmatismuskorrektur

 

 

Autofokus

Ein-Knopf-Fokus für schnelle Bildgebung.

  • Autofokus des SEM-Mikroskops
  • Autofokus des SEM-Mikroskops

 

 

Automatischer Stigmator

Astigmatismuskorrektur mit einem Klick zur Verbesserung der Arbeitseffizienz.

  • Automatischer Stigmator für Rasterelektronenmikroskope
  • Automatischer Stigmator für Rasterelektronenmikroskope

 

 

Automatische Helligkeit und Kontrast

Automatische Helligkeits- und Kontrasteinstellung mit einem Klick zum Anpassen der Graustufen entsprechender Bilder.

  • Automatische Helligkeit und Kontrasteinstellung für Rasterelektronenmikroskope
  • Automatische Helligkeit und Kontrasteinstellung für Rasterelektronenmikroskope

 

 

Gleichzeitige Abbildung mehrerer Informationen

Die SEM3200-Software unterstützt das Umschalten zwischen SE und BSE für gemischte Bildgebung mit nur einem Klick. Sowohl morphologische als auch zusammensetzungsbezogene Informationen der Probe können gleichzeitig beobachtet werden.

SEM-Mikroskop: Gleichzeitige Abbildung mehrerer Informationen

 

 

Schnelle Bildrotationsanpassung

Ziehen Sie eine Linie und lassen Sie los, um das Bild sofort zu drehen.

  • Schnelle Bildrotationsanpassung beim SEM-Mikroskop
  • Schnelle Bildrotationsanpassung beim SEM-Mikroskop

 

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