SEM: Interview mit Prof. Xiaochun Liu, Changsha University of Science & Technology, China
SEM: Interview mit Prof. Xiaochun Liu, Changsha University of Science & Technology, China
October 12, 2022
Im September 2022 wurde das Rasterelektronenmikroskop (SEM) CIQTEK an das Team von Prof. Xiaochun Liu ausgeliefert, das in Betrieb genommen und offiziell in Betrieb genommen wurde. In einem kurzen Interview teilte Prof. Liu seine Erfahrungen mit der Verwendung von CIQTEK SEM. Im Video sagte Prof. Liu, dass dank der hervorragenden Funktionen und des hervorragenden Preis-Leistungs-Verhältnisses von CIQTEK SEM die zukünftige Arbeitszeit sehr angenehm sein wird.
Das SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Mit einem fortschrittlichen Objektivtubus-Design verfügt der Objektivtubus über eine Verzögerung, eine geringe Aberration und ein Objektivlinsendesign ohne magnetische Leckage, das eine hochauflösende Niederspannungsbildgebung ermöglicht und gleichzeitig auf magnetische Proben angewendet werden kann. SEM5000 verfügt über optische Navigation, vollständige automatische Funktionen, eine durchdachte Mensch-Computer-Interaktion sowie optimierte Betriebs- und Nutzungsverfahren. Unabhängig davon, ob der Bediener über umfangreiche Erfahrung verfügt, kann er schnell loslegen und hochauflösende Aufnahmeaufgaben erledigen.
Das SEM3200 ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Allzweck-Rasterelektronenmikroskop mit Wolframfilamenten. Es verfügt über eine hervorragende Bildqualität, ist mit dem Niedrigvakuummodus kompatibel und kann hochauflösende Bilder in verschiedenen Sichtfeldern erhalten. Große Schärfentiefe, die Abbildung ist voller dreidimensionaler Effekte.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher oder nicht leitender Proben direkt beobachten. Der standardmäßige optische Navigationsmodus sowie eine intuitive Bedienoberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.
Hochleistungsfähiges Wolframfilament-REM-Mikroskop mit hervorragender Bildqualität sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop verfügt über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es Benutzern ermöglicht, Proben zu charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse zu erkunden.
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM), ausgestattet mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analyse.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM): 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV Das CIQTEK SEM5000X ultrahochauflösende FESEM nutzt den verbesserten Säulenkonstruktionsprozess, die „SuperTunnel“-Technologie und das hochauflösende Objektivlinsendesign, um die Bildauflösung bei niedriger Spannung zu verbessern. Die Probenkammeranschlüsse des FESEM SEM5000X sind auf 16 erweiterbar, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt Wafergrößen bis zu 8 Zoll (maximaler Durchmesser 208 mm), wodurch sich die Einsatzmöglichkeiten deutlich erweitern. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.
CIQTEK SEM5000Pro ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit hochauflösender Bildgebungs- und Analysefähigkeit, das durch zahlreiche Funktionen unterstützt wird, von einem fortschrittlichen Elektronenoptiksäulendesign profitiert und mit Hochdruck-Elektronenstrahltunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und MFL-Objektivlinse eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung erreicht, sodass auch magnetische Proben analysiert werden können. Dank optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion sowie optimierten Betriebs- und Nutzungsprozessen können Sie – unabhängig davon, ob Sie Experte sind oder nicht – schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten durchführen.
Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop zur maßstabsübergreifenden Abbildung von großvolumigen Proben CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die hochhelle Großstrahl-Stromelektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, die Hochspannungs-Probentischverzögerung, die dynamische optische Achse und die elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombinationsobjektivlinse, um hohe Ergebnisse zu erzielen -Schnelle Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren großflächigen hochauflösenden Bildgebungsworkflow konzipiert. Die Abbildungsgeschwindigkeit kann mehr als fünfmal schneller sein als bei einem herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (fesem).
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