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Niederspannung, hohe Auflösung
Hohe Stabilität
In-Lens-Elektronendetektor

*Probenaustausch-Ladeschleuse (8 Zoll kompatibel)
Elektromagnetische Strahlablenkung mit Mehrloch-Apertursofte
Ausgezeichnete Erweiterbarkeit

â¶ Elektronenoptik

â „Super Tunnel“-Elektronenoptik-Säulentechnologie/In-Lens-Strahlverzögerung
Reduziert den räumlichen Aufladungseffekt und gewährleistet eine niedrige Spannungsauflösung.

â Kreuzungsfrei im Elektronenstrahlweg
Reduziert effektiv Linsenaberrationen und verbessert die Auflösung.

â Elektromagnetische und elektrostatische Verbundobjektivlinse
Reduziert Aberrationen, verbessert die Auflösung bei niedrigen Spannungen erheblich und ermöglicht die Beobachtung magnetischer Proben.

â Wassergekühlte Objektivlinse mit konstanter Temperatur
Gewährleistet die Stabilität, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit des Objektivlinsenbetriebs.

â Variable Mehrlochblende mit elektromagnetischem Strahlablenkungssystem
Automatisches Umschalten zwischen Blenden ohne mechanische Bewegung, was ein schnelles Umschalten zwischen Bildgebungsmodi ermöglicht.

â¶ BSED-basierter ECCI-Modus (Electron Channeling Contrast Imaging)

Der „Elektronenkanalisierungseffekt“ bezieht sich auf eine signifikante Verringerung der Elektronenstreuung durch Kristallgitter, wenn der einfallende Elektronenstrahl die Bragg-Beugungsbedingung erfüllt, sodass eine große Anzahl von Elektronen durch das Gitter gelangen kann und somit eine „Kanalisierung“ auftritt. Wirkung.

Bei polykristallinen Materialien mit gleichmäßiger Zusammensetzung und polierten flachen Oberflächen hängt die Intensität der rückgestreuten Elektronen von der relativen Ausrichtung zwischen dem einfallenden Elektronenstrahl und den Kristallebenen ab. Körner mit größerer Orientierungsvariation zeigen stärkere Signale und daher hellere Bilder. Mit einer solchen Kornorientierungskarte wird eine qualitative Charakterisierung erreicht.

3D-gedruckte Legierungen (vorbereitet durch Ionenstrahlpolieren)
Edelstahl (vorbereitet durch Ionenstrahlpolieren)

â¶ Gleichzeitige Mehrkanal-Bildgebung über verschiedene Detektoren

Eine hervorragende Auflösung wurde bei topografischen Oberflächenmerkmalen mit der Elektronendetektor-Bildgebung im Objektiv erreicht
Gute stereoskopische Bilder morphologischer Merkmale mit Everhart-Thornley-Detektorbildgebung
Ordnungszahlkontrastbild (Z-Kontrast) mit einziehbarer Rückstreuelektronendetektor-Bildgebung

â¶ Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

Mehrere Betriebsmodi: Hellfeld-Bildgebung (BF), Dunkelfeld-Bildgebung (DF), Hochwinkel-Dunkelfeld-Bildgebung (HAADF)

Hellfeldbildgebung von Pflanzenabschnitten (STEM-BF)
Dunkelfeldbildgebung von Pflanzenabschnitten (STEM-DF)
Ordnungszahlkontrastbild (Z-Kontrast) mit einziehbarem Rückstreuelektronendetektor

â¶ Fortschritte in der CIQTEK-Elektronenmikroskopie – mehr Optionen

Energiedispersive Spektrometrie

Katholumineszenz

EBSD

CIQTEK FESEM Mikroskop SEM5000Pro Bildergalerie

Materialwissenschaft – Nanomaterialien

Nichtleitendes zweidimensionales Material C3N4, zerstörungsfreie Charakterisierung seiner feinen Schichtstruktur unter Niederspannungsbedingungen bei 500 V
Abbildung von Nickelschaum mit starkem dreidimensionalen Effekt unter Verwendung einer 2 kV-Anregungsspannung mit dem Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
Bildgebung von Subnanometer-Silberpulver mit einem in die Linse integrierten Elektronendetektor bei 3 kV unter Hochvakuumbedingungen

Materialwissenschaft – Energiematerialien

Lithium-Ionen-Batterie-Kathodenvorläufer – Eisenphosphat mit schlechter Leitfähigkeit, abgebildet mit einem In-Lens-Elektronendetektor (In-Lens) unter Niederspannungsbedingungen (1 kV)
Die Oberflächenmetallisierungsqualität von photovoltaischen Siliziumwafern, abgebildet mit einem kammermontierten Everhart-Thornley-Detektor (ETD) bei 2 kV
Oberflächen-SEI-Film (Solid Electrolyte Interphase) auf der ausgefallenen negativen Elektrode, abgebildet unter Hochvakuumbedingungen mit einem In-Lens-Elektronendetektor (In-Lens) bei 3 kV

Materialwissenschaften - Polymermaterialien und Metallmaterialien

Verwendung des Everhart-Thornley-Detektors (ETD) unter Hochvakuum- und Niederspannungsbedingungen (1 kV) zur Abbildung der Morphologie von Polystyrol-Mikrokügelchen. Es wurde kein Aufladungsphänomen beobachtet, was zu einer starken dreidimensionalen Wahrnehmung führte
Zerstörungsfreie 500-V-Bildgebung von Lithium-Ionen-Batterie-Polymermembranfasern unter oberflächenempfindlichen Bedingungen
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Hochauflösende Abbildung von nanoskaligen Ausscheidungen in Bruchflächen mit dem Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

Magnetische Materialien – Polymermaterialien und Metallmaterialien

Magnetische Polymerkügelchen mit schlechter Leitfähigkeit, charakterisiert unter Verwendung einer Niederspannung von 2 kV mit dem Everhart-Thornley-Detektor (ETD) zur Charakterisierung der biologisch gezielten Arzneimittelabgabe
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
10-kV-Bildgebung mit dem Everhart-Thornley-Detektor (ETD) wurde verwendet, um die Bruchfläche von Eisen-Nickel-Legierungsmetallen zu charakterisieren
Polymer-Magnetkügelchen, charakterisiert mit einem Niederspannungs-2-kV-Detektor (ETD) mit Everhart-Thornley-Detektor, zeigen ein starkes Gefühl der Dreidimensionalität

Halbleitermaterialien

Abbildung der Oberflächenmuster und Schaltkreise auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED)
Niedrigspannung (2 kV) Everhart-Thornley-Detektor (ETD) zur Charakterisierung der Oberflächen- und Lochkantentexturen eines Fotolacks
Abbildung der Lötstellen von Golddrähten auf einem Chip mit einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor (BSED). Mit Ionenstrahlpolieren vorbereitete Probe

Biowissenschaften

Charakterisierung von Iridophoren in Eidechsenhautzellen mit dem STEM-Detektor im CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Tierische Farben in der Natur können aufgrund ihrer Entstehungsmechanismen in zwei Kategorien eingeteilt werden: Pigmentfarben und Strukturfarben.
Pigmentfarben werden durch Variationen in der Pigmentzusammensetzung und Überlappung von Farben erreicht, ähnlich den Prinzipien der „Primärfarben“.
Strukturfarben hingegen werden durch die Reflexion von Licht unterschiedlicher Wellenlänge an komplizierten physiologischen Strukturen erzeugt, die hauptsächlich auf Prinzipien der Optik basieren. Iridophore, die in Eidechsenhautzellen vorkommen, besitzen Strukturen, die Beugungsgittern ähneln. Wir bezeichnen diese Strukturen als „kristalline Platten“. Kristalline Platten können Licht unterschiedlicher Wellenlänge reflektieren und streuen. Studien haben gezeigt, dass durch Variation der Größe, des Abstands und des Winkels der Kristallplatten in Eidechsen-Iridophoren die Wellenlängen des von ihrer Haut gestreuten und reflektierten Lichts verändert werden können. Dieser Befund ist wichtig für das Verständnis der Mechanismen hinter der Farbveränderung in der Haut von Eidechsen.

â¶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für verschiedene Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Es ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie und Umweltwissenschaften angewendet werden.

â¶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung an Bildern durch, die mit Elektronenmikroskopen aufgenommen wurden, und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

â¶ Automatische Messung *Optional

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten, was zu genaueren Messungen und höherer Konsistenz führt. Unterstützt mehrere Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit mehreren Bildformaten und ausgestattet mit verschiedenen häufig verwendeten Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist einfach zu bedienen, effizient und genau.

â¶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Stellen Sie eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des REM-Mikroskops bereit, einschließlich Bildaufnahme, Einstellungen der Betriebsbedingungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Präzise Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Skripts und Software für den Betrieb des Elektronenmikroskops automatisierte Verfolgung von interessierenden Regionen, Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, Bilddriftkorrektur und andere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in speziellen Bereichen wie der Kieselalgenanalyse, der Prüfung von Stahlverunreinigungen, der Reinheitsanalyse, der Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

â¶ AutoMap *Optional

Spezifikationen des CIQTEK FESEM-Mikroskops SEM5000Pro
Elektronenoptik	Auflösung	0,8 nm bei 15 kV, SE 1,2 nm bei 1,0 kV, SE
	Beschleunigungsspannung	0,02 kV ~ 30 kV
	Vergrößerung (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Elektronenkanonentyp	Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer	Kamera	Dual-Kameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Kamera	Dual-Kameras (optische Navigation + Kammermonitor)
	Stufenbereich	X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm T: -10°ï½ +70°, R: 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Standard	Inlens-Elektronendetektor Everhart-Thornley-Detektor (ETD)
SEM-Detektoren und Erweiterungen	Optional	Einziehbarer Rückstreuelektronendetektor (BSED) Einziehbares Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) Niedrigvakuumdetektorï¼LVDï¼ Energiedispersive Spektroskopie (EDS / EDX) Elektronenrückstreuungsbeugungsmuster (EBSD) Probenaustausch-Ladeschleuse (4 Zoll / 8 Zoll) Trackball- und Knopf-Bedienfeld
Software	Sprache	Englisch
	Betriebssystem	Windows
	Navigation	Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
	Automatische Funktionen	Autom. Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator

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