wonach suchst du?
beliebte Suchanfragen
field emission scanning electron microscope fe sem

FESEM | SEM4000Pro

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit großem Strahl I

CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches Modell des FE-SEM, ausgestattet mit einer hochhellen und langlebigen Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone. Das dreistufige elektromagnetische Linsendesign bietet erhebliche Vorteile bei analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Es ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nicht leitender Proben erleichtert.

Jetzt anfragen

ⶠElektronenoptik

sem4000pro Electron Optics

ⶠNiedrigvakuummodus

Im Niedrigvakuummodus kann ein Bereich von 10–180 Pa ohne druckbegrenzende Öffnung erreicht werden. Die speziell entwickelte Objektivlinsen-Vakuumkammer minimiert die mittlere freie Weglänge der Elektronen unter Niedervakuumbedingungen und erreicht eine Auflösung von 1,5 nm bei 30 kV im Niedervakuummodus.

Die Sekundärelektronenemission von der Probenoberfläche ionisiert Luftmoleküle und erzeugt gleichzeitig Elektronen, Ionen und Photonen. Die erzeugten Elektronen ionisieren weitere Luftmoleküle weiter. Der Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor (LVD) erfasst eine große Menge an Photonensignalen, die bei einem solchen Prozess erzeugt werden.

  • SEM Low Vacuum Mode
  • SEM Low Vacuum Mode

Der einfallende Elektronenstrahl ionisiert Luftmoleküle auf der Probenoberfläche und erzeugt Elektronen und Ionen. Diese Ionen neutralisieren die Aufladung der Oberfläche und verringern so den Aufladungseffekt.

ⶠSoftware zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für verschiedene Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Es ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaften, Geologie und Umweltwissenschaften angewendet werden.

ⶠBildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung an Bildern durch, die mit Elektronenmikroskopen aufgenommen wurden, und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

ⶠAutomatische Messung *Optional

SEM Microscope software Auto Measure

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten, was zu genaueren Messungen und höherer Konsistenz führt. Unterstützt mehrere Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit mehreren Bildformaten und ausgestattet mit verschiedenen häufig verwendeten Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist einfach zu bedienen, effizient und genau.

ⶠSoftware Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Stellen Sie eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des REM-Mikroskops bereit, einschließlich Bildaufnahme, Einstellungen der Betriebsbedingungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Präzise Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Skripts und Software für den Betrieb des Elektronenmikroskops automatisierte Verfolgung von interessierenden Regionen, Datenerfassung für die industrielle Automatisierung, Bilddriftkorrektur und andere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in speziellen Bereichen wie der Kieselalgenanalyse, der Prüfung von Stahlverunreinigungen, der Reinheitsanalyse, der Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

ⶠAutoMap *Optional

FESEM Microscope software Auto Measure

Spezifikationen des CIQTEK SEM4000Pro FESEM-Mikroskops
Elektronenoptik Auflösung Hochvakuum

0,9 nm bei 30 kV, SE
Niedriges Vakuum

2,5 nm bei 30 kV, BSE, 30 Pa

1,5 nm bei 30 kV, SE, 30 Pa
Beschleunigungsspannung 0,2 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Elektronenkanonentyp Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer Niedriges Vakuum Max. 180 Pa
Kamera Dual-Kameras (optische Navigation + Kammerüberwachung)
XY-Bereich 110 mm
Z-Bereich 65 mm
T-Bereich -10° ~ +70°
R-Bereich 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen Standard

Everhart-Thornley-Detektor (ETD)

Low Vacuum Detector (LVD)

Rückstreuelektronendetektor (BSED)

Optional

Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskopie-Detektor (STEM)

Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX)

Elektronenrückstreuungsbeugungsmuster (EBSD)

Probenaustausch-Ladeschleuse (4 Zoll / 8 Zollï¼

Trackball- und Knopf-Bedienfeld
Benutzeroberfläche Sprache Englisch
OS Windows
Navigation Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen Autom. Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator
Heiße Tags : Weltweiter Lieferant von Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopen SEM EDX-, EDS-, EBSD-, BSE-, CL- und STEM-Detektoren hochauflösendes FESEM zum besten Preis Hochhelle Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie mit bester Vergrößerung Anwendungen für Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop pdf Hinweise zum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
Eine Nachricht hinterlassen
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Thema : FESEM | SEM4000Pro
Einreichen
Verwandte Produkte
fib sem microscopy
FIB-SEM | DB550

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB550 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niederspannung, hohe Auflösung“, um seine Analysefähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit hochstabilen und qualitativ hochwertigen Ionenstrahlen, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen. Der DB550 ist eine All-in-one-Nanoanalyse- und Fertigungs-Workstation mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Erfahren Sie mehr
fesem edx
Ultrahochauflösendes FESEM | SEM5000X

Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Fordert die Grenzen heraus Der CIQTEK SEM5000X ist ein FESEM mit ultrahoher Auflösung und optimiertem Elektronenoptik-Säulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht . Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die fortgeschrittene nanostrukturelle Materialforschung sowie die Entwicklung und Herstellung von High-Tech-Node-Halbleiter-IC-Chips.

Erfahren Sie mehr
scanning electron microscope machine
Wolframfilament-REM | SEM3200

Leistungsstarkes und universelles Wolframfilament-REM-Mikroskop Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop ist ein hervorragendes Allzweck-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Wolframfilamenten und herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis des Bildes bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine große Auswahl an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterbarkeiten macht.

Erfahren Sie mehr
sem microscope price
Kundengeschichten zu CIQTEK-REM-Mikroskopen

Lesen Sie die CIQTEK SEM Mikroskope Kundenerkenntnisse und erfahren Sie mehr über die Stärken und Erfolge von CIQTEK als SEM-Branchenführer! E-Mail: info@ciqtek.com

Erfahren Sie mehr
Spitze

Eine Nachricht hinterlassen
Eine Nachricht hinterlassen
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Einreichen

Heim

Produkte

Plaudern

Kontakt