SEM-Detektoren für SEM3200
Das REM-Mikroskop dient nicht nur zur Beobachtung der Oberflächenmorphologie, sondern auch zur Analyse der Zusammensetzung von Mikroregionen auf der Probenoberfläche.
CIQTEK SEM Mikroskop SEM3200 verfügt über eine große Probenkammer mit einer umfangreichen Schnittstelle. Zusätzlich zur Unterstützung des konventionellen Everhart-Thornley-Detektors (ETD), des Backscattered-Electron-Detektors (BSE) und der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) werden verschiedene Schnittstellen wie Electron Backscatter Diffraction Pattern (EBSD) und Cathodolumineszenz (CL) unterstützt ) sind ebenfalls reserviert.
SEM-Rückstreuelektronendetektor (BSE)
Vergleich von Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung
Im Rückstreuelektronen-Bildgebungsmodus wird der Ladungseffekt deutlich unterdrückt und es können mehr Informationen über die Zusammensetzung der Probenoberfläche beobachtet werden.
Beschichtungsproben:
Proben aus Wolframstahllegierungen:
Detektor für rückgestreute Elektronen mit vier Quadranten – Mehrkanal-Bildgebung
Der REM-Mikroskop-Detektor verfügt über ein kompaktes Design und eine hohe Empfindlichkeit. Mit dem 4-Quadranten-Design ist es möglich, topografische Bilder in verschiedene Richtungen sowie Bilder der Zusammensetzungsverteilung zu erhalten, ohne die Probe zu neigen.
Energiespektrum
Ergebnisse der Analyse des Energiespektrums kleiner LED-Perlen.
SEM Electron Backscatter Diffraction Pattern (EBSD)
Das REM-Mikroskop SEM3200 mit großem Strahlstrom erfüllt die Testanforderungen von hochauflösendem EBSD vollständig und kann polykristalline Materialien wie Metalle, Keramik und Mineralien auf Kristallorientierung und Korngrößenanalyse analysieren.
Die Abbildung zeigt die EBSD-Kornkarte einer Ni-Metallprobe, mit der Korngröße und -orientierung identifiziert, Korngrenzen und Zwillinge bestimmt und genaue Bewertungen der Materialorganisation und -struktur vorgenommen werden können.
Highlights der Technik des CIQTEK SEM-Mikroskops SEM3200
Niederspannungs-REM
Proben aus Kohlenstoffmaterial mit geringer Eindringtiefe bei niedriger Spannung. Die wahre Topographie der Probenoberfläche kann mit detaillierten Details ermittelt werden.
Die Beschädigung der Haarprobe durch Elektronenstrahlen wird bei niedriger Spannung reduziert, während der Ladungseffekt eliminiert wird.
Niedrigvakuum SEM
Gefilterte Faserrohrmaterialien sind schlecht leitend und laden sich im Hochvakuum stark auf. Die direkte Beobachtung nichtleitender Proben kann in einem niedrigen Vakuum ohne Beschichtung mit dem REM-Mikroskop SEM3200 erfolgen.
Großes Sichtfeld
Biologische Proben können mithilfe eines großen Sichtfelds leicht die Gesamtmorphologiedetails des Kopfes eines Marienkäfers ermitteln und so die Fähigkeit zur maßstabsübergreifenden Bildgebung demonstrieren.
Navigation auf der Probenbühne und Kollisionsschutz
Optische Navigation
Klicken Sie mit der einfachen Navigation dorthin, wohin Sie möchten, und sehen Sie, wann Sie CIQTEK-REM-Mikroskope verwenden.
Eine Kamera in der Kammer ist Standard und kann HD-Fotos aufnehmen, um das schnelle Auffinden von Proben zu erleichtern.
Schnelle Gestennavigation
CIQTEK SEM-Mikroskop SEM3200 Eine schnelle Navigation wird durch Doppelklicken zum Bewegen, Verwenden der mittleren Maustaste zum Ziehen und Verwenden des Rahmens zum Zoomen erreicht.
Exp: Rahmenzoom – um eine große Ansicht der Probe mit Navigation bei geringer Vergrößerung zu erhalten, können Sie den Probenbereich, an dem Sie interessiert sind, schnell einrahmen. Das Bild wird automatisch vergrößert, um die Effizienz zu verbessern.
Stufe Antikollision
CIQTEK SEM-Mikroskop SEM3200 Mehrwege-Antikollisionslösungen:
1. Manuelle Eingabe der Probenhöhe: Steuern Sie den Abstand zwischen der Probenoberfläche und der Objektivlinse präzise.
2. Bilderkennung und Bewegungserfassung: Überwachen Sie die Bühnenbewegung in Echtzeit.
3. *Hardware: Schalten Sie den Bühnenmotor im Moment der Kollision ab.
Charakteristische Funktionen
Intelligenzunterstützte Bildastigmatismuskorrektur
Astigmatismus im gesamten Sichtfeld visuell anzeigen und per Mausklick schnell korrigieren.
Autofokus SEM
Ein-Knopf-Fokus für schnelle Bildgebung.
Automatischer Stigmator
Astigmatismus-Abzug mit einem Klick zur Verbesserung der Arbeitseffizienz.
Automatische Helligkeit und Kontrast
Automatische Helligkeit und Kontrast mit einem Klick, um die Graustufen der entsprechenden Bilder anzupassen.
Gleichzeitige Abbildung mehrerer Informationen
Die CIQTEK SEM Microscope SEM3200 Software unterstützt das Umschalten zwischen SE und BSE mit einem Klick für gemischte Bildgebung. Sowohl morphologische als auch Zusammensetzungsinformationen der Probe können gleichzeitig beobachtet werden.
Schnelle Bilddrehungsanpassung
Ziehen Sie eine Linie und lassen Sie sie los, um das Bild direkt an der Stelle zu drehen.
