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Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop | SEM2000

Das CIQTEK SEM2000 ist ein grundlegendes und vielseitiges analytisches Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop mit einer Auflösung von 20 kV bis zu 3,9 nm und Unterstützung für die Aufrüstung auf 30 kV, das die Beobachtung mikrostruktureller Informationen von Proben im Submikromaßstab ermöglicht.

Es verfügt über einen größeren Bewegungsbereich als ein Tisch-/Tisch-REM. Es eignet sich für das schnelle Screening von Proben und verfügt über mehr Erweiterungsschnittstellen für BSED, EDS/EDX und anderes Zubehör, um ein breiteres Anwendungsspektrum zu ermöglichen.

  • Auflösung
    3,9 nm bei 20 kV
  • Beschleunigungsspannung
    0,5 ~ 20 kV (30 kV optional)
  • Vergrößerung
    1 ~ 300.000x

 

Einfache Benutzeroberfläche

Klare und einfache Benutzeroberfläche

Die Funktionen sind einfach und leicht zu bedienen. Auch Anfänger können nach dem schnellen Erlernen schnell loslegen.

Erweiterte Automatisierungsfunktionen

Automatischer Helligkeitskontrast, Autofokus und automatische Bildstreuung sind alle mit einem Klick einstellbar.

Umfangreiche Messfunktionen

Fotoverwaltungs-, Vorschau- und Bearbeitungsfunktionen mit Messfunktionen wie Länge, Fläche, Rundheit und Winkel.


 

Empfohlene Funktionen

Optische Navigation

Einfache Navigation durch Klicken auf die Stelle, die Sie sehen möchten.

Standardmäßige optische Navigationskamera für hochauflösende Probentischfotos und schnelle Probenpositionierung.

 

 

Antikollisions

Einsteigerfreundlicheres Antikollisionsdesign für maximalen Schutz empfindlicher Einheiten.

 

One-Click-Bildgebung

*Die Software ist mit der Ein-Klick-Bildgebung einfach zu bedienen.

 

 

Arbeitsentfernung

Der optimale Analyseabstand und der Bildabstand sind zwei in einem, um auf einfache Weise eine qualitativ hochwertige Leistung zu erzielen.

 

 

Gleichzeitige Abbildung mehrerer Informationen

Die Software unterstützt das Umschalten zwischen SE und BSE mit einem Klick für die Hybridbildgebung. Sowohl morphologische als auch zusammensetzungsbezogene Informationen der Probe können gleichzeitig beobachtet werden.

 

Auflösungsindikatoren

 

Vielseitige Detektoren

Hochempfindlicher Rückstreudetektor

· Mehrkanal-Bildgebung

Der Detektor verfügt über ein kompaktes Design und eine hohe Empfindlichkeit. Bei einem 4-Segmentierungsdesign ist es nicht erforderlich, die Probe zu neigen, um Schattenbilder in verschiedene Richtungen sowie Bilder der Zusammensetzungsverteilung zu erhalten.

 

 

· Vergleich der Sekundärelektronenbildgebung (SE) und der Rückstreuelektronenbildgebung (BSE).

Im Rückstreuelektronen-Bildgebungsmodus wird der Ladungseffekt deutlich verringert und es können mehr Informationen über die Zusammensetzung der Probenoberfläche gewonnen werden.

 

 

Energiespektrum

Ergebnisse der Oberflächen-Scan-Analyse des Energiespektrums von Metalleinschlüssen.

 

 

 

Elektronenrückstreubeugung (EBSD)

Das Wolfram-Filament-Elektronenmikroskop mit großem Strahlstrom erfüllt die Testanforderungen des hochauflösenden EBSD vollständig und ist in der Lage, polykristalline Materialien wie Metalle, Keramik und Mineralien auf Kristallorientierungskalibrierung und Korngröße zu analysieren.

Die Abbildung zeigt die EBSD-Antipodenkarte einer Ni-Metallprobe, mit der Korngröße und -orientierung identifiziert, Korngrenzen und Zwillinge bestimmt und genaue Beurteilungen der Materialorganisation und -struktur vorgenommen werden können.

 

Elektrooptische Systeme Elektronenkanone Vorausgerichteter, mittelgroßer, gabelförmiger Wolframfaden
Auflösung

3,9 nm bei 20 kV (SE)

4,5 nm bei 20 kV (BSE)

Vergrößerung 1 x ~ 300.000 x
Beschleunigungsspannung 0,5 kV ~ 20 kV
Bildgebende Systeme Detektor

Sekundärelektronendetektor (ETD)

*Rückstreuelektronendetektor (BSED), *Energiespektrometer EDS usw.

Bildformat TIFF, JPG, BMP, PNG
Vakuumsystem Hochvakuum Besser als 5×10 -4 Pa
Steuermodus Vollautomatisches Steuerungssystem
Pumps Mechanische Pumpe ×1, Molekularpumpe ×1
Probenkammer Kamera Optische Navigation
Beispieltabelle Zweiachsige Automatik
Distanz

X: 100 mm

Y: 100 mm

Software Betriebssystem Windows
Navigationen Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation
Automatische Funktionen Automatischer Helligkeitskontrast, Autofokus, automatische Ableitung
Spezialfunktionen Intelligent Assisted Dispersion, *Großformatiges Bild-Stitching (optionales Zubehör)
Installationsvoraussetzungen Raum L ≥ 3000 mm, B ≥ 4000 mm, H ≥ 2300 mm
Temperatur 20 °C (68 °F) ~ 25 °C (77 °F)
Feuchtigkeit ≤ 50 %
Stromversorgung AC 220 V(±10 %), 50 Hz, 2 kVA
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