Wolframfilament-REM | SEM3300

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB550 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niederspannung, hohe Auflösung“, um seine Analysefähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit äußerst stabilen und qualitativ hochwertigen Ionenstrahlen, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen. Der DB550 ist eine All-in-one-Nanoanalyse- und Fertigungs-Workstation mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die skalenübergreifende Abbildung von großvolumigen Proben CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die hochhelle Großstrahl-Stromelektronenkanone, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und ein elektromagnetisches und elektrostatisches Immersions-Kombinationsobjektiv um eine schnelle Bildaufnahme zu erreichen und gleichzeitig eine Auflösung im Nanomaßstab sicherzustellen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren großflächigen hochauflösenden Bildgebungsworkflow konzipiert. Die Abbildungsgeschwindigkeit kann mehr als fünfmal schneller sein als bei einem herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM).

Ultrahohe-Auflösungs-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM)Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahohes Auflösungsfesem mit optimiertem Säulendesign der Elektronenoptik, wodurch die Gesamtaberrationen um 30%reduziert werden und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm@1 kV erreicht werden Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es in fortschrittlicher Forschung für fortgeschrittene Nanostrukturmaterialien sowie die Entwicklung und Herstellung von hochtechnologischen Knoten-Halbleiter-IC-Chips vorteilhaft.

Lesen Sie die CIQTEK SemMikroskope Kundenerkenntnisse und lVerdienen Sie mehr über die Stärken und Erfolge von CIQTEK als SEM -Branchenführer!E-Mail: info@ciqtek.com