FESEM Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop | SEM5000Pro

CIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher oder nicht leitender Proben direkt beobachten. Der standardmäßige optische Navigationsmodus sowie eine intuitive Bedienoberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.

CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit Wolframfilament. Es bietet sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Schnittstelle, mit der Benutzer Proben charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse erkunden können.

CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer Focused Ion Beam (FIB)-Säule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign ausgestattet ist. mit Niederspannungs- und hochauflösender Fähigkeit, die seine Analysefähigkeit im Nanomaßstab gewährleistet. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen und hochwertigen Ionenstrahl, um die Fähigkeit zur Nanofertigung sicherzustellen.   DB500 ist mit einem integrierten Nanomanipulator, einem Gasinjektionssystem, einem elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und 24 Erweiterungsanschlüssen ausgestattet, was es zu einer umfassenden Nanoanalyse- und Fertigungsplattform mit umfassenden Konfigurationen und Erweiterbarkeit macht.

CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie und des hochauflösenden Objektivlinsendesigns kann SEM5000X weitere Verbesserungen bei der Auflösung der Niederspannungsbildgebung erzielen. Die Probenkammeranschlüsse sind auf 16 erweitert, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt bis zu 8-Zoll-Wafergrößen (maximaler Durchmesser 208 mm), was die Anwendungsmöglichkeiten erheblich erweitert. Abdeckung. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.