CIQTEK-Welttournee: Präsentation fortschrittlicher SEM-Lösungen auf der SCANDEM 2026 in Dänemark
CIQTEK-Welttournee: Präsentation fortschrittlicher SEM-Lösungen auf der SCANDEM 2026 in Dänemark
March 26, 2026
[Odense, Dänemark]
CIQTEK ist stolz darauf, seine Teilnahme an der
77. Jahrestagung der Nordischen Mikroskopiegesellschaft (SCANDEM 2026)
, die vom 9. bis 12. Juni in Odense, Dänemark, stattfand.
Besuchen Sie uns an Stand II.5
Als Zentrum für Präzisionsinstrumente bietet Odense CIQTEK die perfekte Bühne, um „
Akademische Resonanz
„mit führenden nordischen Institutionen. Durch die Vertiefung unserer Verankerung in den wissenschaftlichen Ökosystemen Dänemarks, Schwedens und Norwegens wollen wir den anspruchsvollsten Charakterisierungsanforderungen gerecht werden und die Forschung stärken.“
regionale Forschung und industrielles Wachstum
durch unsere Präzisionsmessgeräte.
Expertenvortrag: Innovationen im Hochgeschwindigkeits-REM
Ein Höhepunkt der Teilnahme von CIQTEK wird eine technische Präsentation unseres Solution Managers sein:
Lautsprecher:
Dr. Miles Yao, Solution Manager bei CIQTEK
Thema:
Das Potenzial der einzigartigen Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskopie-Lösung von CIQTEK erschließen
Fokus:
Erfahren Sie, wie die einzigartigen Hochgeschwindigkeits-SEM-Lösungen von CIQTEK großflächige, hochauflösende Bildgebung ermöglichen und so die Forschungsproduktivität beschleunigen.
Global Vision: Nahtlose professionelle Unterstützung
CIQTEK
baut sein globales Servicenetzwerk rasant aus. Auf der SCANDEM 2026 wird unser europäisches Team der nordischen Forschungsgemeinschaft seine Expertise direkt zur Verfügung stellen. Wir sind bestrebt, …
reaktionsschneller und professioneller Support
Grenzüberschreitend – von der Installation bis zur Entwicklung spezialisierter Anwendungen – gewährleisten wir wissenschaftliche Exzellenz für unsere Partner in Nordeuropa.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Hochleistungs- und Universal-SEM mit Wolframfilament Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
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