CIQTEK-Auftaktveranstaltung für das neue Elektronenmikroskop 2022

Am 24. November 2022 führte CIQTEK erfolgreich die neue Elektronenmikroskop-Auftaktveranstaltung „Make the Invisible, Visible“ durch. Basierend auf den vielfältigen Bedürfnissen der Benutzer hat CIQTEK SEM3300 auf den Markt gebracht, das „Wolframfilament-SEM neu definiert“; SEM2000, das „einfach, aber nicht einfach“ ist; SEM4000, das heißt „Super High Beam Current, Super Fast Analysis“.
 

 

 >> SEM3300

In der Sitzung zur Einführung neuer Produkte stellte CIQTEK-Vizepräsident Feng Cao drei neue Elektronenmikroskope im Detail vor.

Als erstes wurde das SEM3300 vorgestellt, ein Wolframfaden-Rasterelektronenmikroskop, das eine perfekte Mischung aus Technologie und Industriedesign darstellt. Mit einer Auflösung von 2,5 nm bei 20 kV, einer Verbesserung von 16 % gegenüber der gewöhnlichen Wolframfilament-Elektronenmikroskopie, einer Auflösung von 4 nm bei 3 kV, einer Verbesserung um das Zweifache, und einer Auflösung von 5 nm bei 1 kV, einer Verbesserung um das Dreifache Durch diese Verbesserung hat der SEM3300 die herkömmliche Wolframfaden-Elektronenmikroskopie in allen Spannungsbändern deutlich übertroffen und den Industriestandard für die Wolframfaden-Rasterelektronenmikroskopie neu definiert.

Nehmen Sie als Beispiel das Membranmaterial in Lithiumbatterien: Die Details der herkömmlichen Wolframfilament-Elektronenmikroskopie sind verschwommen und unklar (Abbildung a unten),  während auf den mit SEM3300 aufgenommenen Membranbildern die Membranporen und die Ränder der Poren deutlich sichtbar sind sind scharf (Abbildung b unten).

 

Abbildung a: Septum einer Li-Ionen-Batterie, fotografiert mit herkömmlicher Wolframfilament-Elektronenmikroskopie, mit unscharfen Details.

 

Abbildung b: SEM3300 fotografierte Lithiumbatterie-Membran, Membranporen deutlich sichtbar, scharfe Kante des Lochs.

 

 

>> SEM2000

Das Wolframfilament SEM2000 ist ein Produkt, das in seiner Bedienung keine großen Ansprüche stellt. Es wurde mit dem Ziel entwickelt, dass jeder es nutzen kann, mit einer einfachen Benutzeroberfläche und umfangreichen Erweiterbarkeitsmöglichkeiten. Wenn Sie ein einfacheres Werkzeug wünschen, ist SEM2000 die beste Wahl.

 

>> SEM4000

Das Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM4000 ist ein neues Produkt für die Bedürfnisse analytischer Anwender. Es verfügt über einen hohen Elektronenstrahlstrom und eine schnelle Analysegeschwindigkeit mit einem maximalen Elektronenstrahlstrom von über 200 nA und einer stufenlos einstellbaren Strahlgröße, was die Auswahl der am besten geeigneten Bildgebungs- und Energiespektrumbedingungen erleichtert.

 

Machen Sie Erfolge für Kunden, machen Sie Erfolge für Kollegen

Dr. Yu He, CEO von CIQTEK, dankte in seiner Rede allen Gästen für ihre Fürsorge und Unterstützung für CIQTEK. Dr. Yu He sagte: „CIQTEK hat Innovation in seinen Genen verankert, die Kunden in sein Herz geschlossen, auf pragmatische Innovation ohne Kompromisse bestanden und das neue Produkt SEM3300 entwickelt, das den Industriestandard des Wolfram-Filament-Elektronenmikroskops neu definiert und es dem Werkzeug ermöglicht.“ Kehren Sie zum Tool selbst zurück, damit Benutzer bei der wissenschaftlichen Forschung sicherer sein können.

Am Ende der Konferenz gab CIQTEK-Vizepräsident Wan Legend die Gewinner der Veranstaltung „Live ansehen und kostenloses Elektronenmikroskop erhalten (ein Jahr Zugang)“ bekannt. Herr Zhou von der Nanning-Zweigstelle der Guilin University of Technology gewann den Hauptpreis eines einjährigen kostenlosen Zugangs zum CIQTEK-Elektronenmikroskop.

Derzeit wird weltweit die Bedeutung der Fertigung betont. SEM wird als leistungsstarkes Analyseinstrument eine große Rolle bei der Verbesserung der Innovationsfähigkeit und Produktqualität von Fertigungsprodukten spielen. Seit der Einführung des ersten Rasterelektronenmikroskops im Jahr 2019 hat CIQTEK die Schwachstellen der Branche weiterhin präzise untersucht und Kerntechnologien vertieft, um Kunden dabei zu helfen, die unbekannte Welt mit hochwertigen Produkten und Dienstleistungen effizienter zu erkunden.