CIQTEK Quantum Diamond AFM auf dem China Scanning Probe Microscopy Symposium 2019

Vom 27. bis 28. September fand im Expertengebäude das „China Scanning Probe Microscopy Symposium (SPM2019)“ statt, das vom Anhui General University Key Laboratory of Precision Scientific Instruments der University of Science and Technology of China (USTC) veranstaltet und von CIQTEK mitorganisiert wurde des USTC in Hefei, Anhui, China.

 

 

Gruppenfoto von SPM2019

 

Von den 1990er Jahren bis 2012 wurde das China SPM Symposium mit zwölf Sitzungen erfolgreich abgehalten und spielte eine wichtige Rolle für den Fortschritt von Wissenschaft und Technologie sowie die Entwicklung von High-Tech-Industrien.

 

Bei der Eröffnungszeremonie der Konferenz sprach Vizepräsident Luo Xisheng über die Entwicklungsgeschichte und den Status der Rastersondenmikroskopie. Er betonte auch den ursprünglichen Zweck und die Bedeutung dieser Konferenz und hoffte, durch diese Konferenz die Kommunikation und den Austausch zwischen Experten und Wissenschaftlern zu fördern, und wünschte der Konferenz einen vollen Erfolg.

 

 

SPM2019-Website

 

Experten und Wissenschaftler bekannter Universitäten und Forschungseinrichtungen wie der Peking University und der Chinese University of Hong Kong sowie viele globale Entwickler von Rastersondenmikroskopinstrumenten trafen sich im USTC, um einen akademischen Austausch über wissenschaftliche SPM-Forschungsergebnisse und die Entwicklung der Industrialisierung durchzuführen.

 

Die Konferenz bot eine Plattform für den wissenschaftlichen Austausch. Die anwesenden Experten teilten ihre akademischen Leistungen im Bereich SPM der letzten Jahre und diskutierten gemeinsam die neuen Trends in der zukünftigen Entwicklung von SPM. Während der Konferenz wurden 14 geladene Vorträge, 17 mündliche Vorträge und 2 Unternehmenspräsentationen von Experten und Wissenschaftlern zu fünf Themen gehalten, darunter „SPM-bezogene grundlegende Theorien und Simulationsmethoden“, „Fortschritt der SPM-Instrumentierungstechnologie“ und „Wichtige SPM-Anwendungen“. , „SPM-Standardisierung“ und „Produktförderung in- und ausländischer SPM-Hersteller“.

 

 

Der CEO von CIQTEK, Dr. Yu He, hat den Bericht erstellt

 

Als Mitorganisator der Konferenz und Entwickler wissenschaftlicher Instrumente im Zusammenhang mit SPM nahm Dr. Yu He, CEO von CIQTEK, an der Konferenz teil und hielt einen Vortrag zum Thema „Entwicklung und Konstruktion von Quantendiamanten-Rasterkraftmikroskopen“. 

CIQTEK brachte auch sein Quantum Diamond Atomic Force Microscope zum Ausstellungsort dieser Konferenz und bot den Teilnehmern eine umfassende Einführung und Demonstration.

 

 

Li Bingjiang, Leiter der CIQTEK-Marketingabteilung, stellte vor Ort das Quantum Diamond Atomic Force Microscope vor

 

CIQTEK Quantendiamant-Rasterkraftmikroskop

 

CIQTEK QDAFM ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Scanning-Bildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden quantitativ und zerstörungsfrei durch Quantenkontrolle und Auslesen des Spinzustands in der Diamantsonde ermittelt. Basierend auf der NV-Diamantmagnetometrie und der Quantenmechanik verfügt QDAFM über eine räumliche Auflösung im Nanomaßstab und eine extrem hohe Nachweisempfindlichkeit und kann zur Entwicklung und Untersuchung magnetischer Texturen, hochdichter magnetischer Speicherung und Spintronik verwendet werden. 

Es gibt zwei Versionen: Umgebungsversion und kryogene Version.

 

CIQTEK Quantendiamant-Rasterkraftmikroskop