CIQTEK präsentiert Live-SEM auf der Analytica 2026 in München, Deutschland

Hochleistungs- und Universal-SEM mit Wolframfilament Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.

Der CIQTEK CAN600 ist ein intelligenter Flüssigzustands-Kondensator der nächsten Generation. Kernspinresonanz-(NMR)-Spektrometer , ausgestattet mit einer ultra-abgeschirmten, ultra-homogen 600-MHz-Supraleitungsmagnet , eine fortschrittliche verteilte Systemarchitektur mit einer modularen integrierten Konsole und hochempfindlichen, vollautomatischen Abstimmungssonden. Der CAN600 verfügt über hochintegrierte Transceiver-HF-Kanäle und ermöglicht so Experimente mit mehreren Empfängern. Sein neuartiges Design unterstützt schnelles Abstimmen und Shimming und reduziert damit die für den Versuchsaufbau benötigte Zeit erheblich. Zubehör wie der intelligente Touchscreen erweitert die Managementmöglichkeiten des Systems und ermöglicht es dem Benutzer, den Gerätestatus zu überwachen und den Probenzugriff direkt per Berührung zu steuern, wodurch die Flexibilität von NMR-Experimenten erhöht wird. Durch die Kombination von leistungsstarker Hardware mit intelligenter Software bietet CAN600 Forschern eine zuverlässigere und benutzerfreundlichere NMR-Plattform.

CIQTEK Climber-Serie – Analysatoren für spezifische Oberflächen und Porengrößen sind für schnelle, genaue und stabile Tests konzipiert und unterstützen die gleichzeitige Analyse von bis zu 6 Proben, was ein völlig neues Testerlebnis bietet. ⪠Testen Sie die spezifische Oberfläche und Porengrößenverteilung von Feststoffen, Schlämmen und Pulvern ⪠0,0005 m2/g und mehr spezifische Oberflächenanalyse ⪠0,35 ~ 500 nm Porengrößenanalyse ⪠Der Fünf-Punkte-BET-Test kann innerhalb von 20 Minuten abgeschlossen werden

Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.