FIBSEM Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop | DB500

CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit Wolframfilament. Es bietet sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Schnittstelle, mit der Benutzer Proben charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse erkunden können.

CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie und des hochauflösenden Objektivlinsendesigns kann SEM5000X weitere Verbesserungen bei der Auflösung der Niederspannungsbildgebung erzielen. Die Probenkammeranschlüsse sind auf 16 erweitert, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt bis zu 8-Zoll-Wafergrößen (maximaler Durchmesser 208 mm), was die Anwendungsmöglichkeiten erheblich erweitert. Abdeckung. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.

CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.

CIQTEK SEM5000Pro ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit hochauflösender Bildgebungs- und Analysefähigkeit, das durch zahlreiche Funktionen unterstützt wird, von einem fortschrittlichen Elektronenoptiksäulendesign profitiert und mit Hochdruck-Elektronenstrahltunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und MFL-Objektivlinse eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung erreicht, sodass auch magnetische Proben analysiert werden können. Dank optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion sowie optimierten Betriebs- und Nutzungsprozessen können Sie – unabhängig davon, ob Sie Experte sind oder nicht – schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten durchführen.