CIQTEK-Rasterelektronenmikroskop-Anwendungsfall in Partikelpulvermaterialien
Pulver sind heutige Rohstoffe für die Herstellung von Materialien und Geräten in verschiedenen Bereichen und werden häufig in Lithium-Ionen-Batterien, Katalyse, elektronischen Bauteilen, Pharmazeutika und anderen Anwendungen eingesetzt.
Die Zusammensetzung und Mikrostruktur der Rohstoffpulver bestimmen die Eigenschaften des Materials. Das Partikelgrößenverteilungsverhältnis, die Form, die Porosität und die spezifische Oberfläche der Rohmaterialpulver können den einzigartigen Eigenschaften des Materials entsprechen.
Daher ist die Regulierung der Mikrostruktur des Rohmaterialpulvers eine Voraussetzung für die Erzielung hervorragender Leistungsmaterialien. Der Einsatz der Rasterelektronenmikroskopie ermöglicht die Beobachtung der spezifischen Oberflächenmorphologie des Pulvers und eine präzise Analyse der Partikelgröße, um den Herstellungsprozess des Pulvers zu optimieren.
Anwendung der Rasterelektronenmikroskopie in MOF- Materialien
Auf dem Gebiet der Katalyse ist der Aufbau metallorganischer Grundgerüstmaterialien (MOFs) zur wesentlichen Verbesserung der katalytischen Oberflächenleistung heute eines der aktuellen Forschungsthemen. MOFs haben die einzigartigen Vorteile einer hohen Metallbeladung, einer porösen Struktur und katalytischer Zentren und haben ein großes Potenzial als Clusterkatalysatoren. Mithilfe des CIQTEK-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskops kann beobachtet werden, dass das MOF-Material eine regelmäßige kubische Form aufweist und auf der Oberfläche feine Partikel adsorbiert sind (Abbildung 1). Das Elektronenmikroskop verfügt über eine Auflösung von bis zu 3 nm und eine hervorragende Bildqualität. In verschiedenen Sichtfeldern können gleichmäßige SEM-Karten mit hoher Helligkeit erstellt werden, mit denen die Falten, Poren und Partikelbeladungen auf der Oberfläche von MOF-Materialien klar beobachtet werden können .
Abbildung 1 MOFs-Material / 15 kV/ETD
Rasterelektronenmikroskopie in Silberpulvermaterialien
Bei der Herstellung elektronischer Komponenten weist elektronische Paste als Grundmaterial für die Herstellung elektronischer Komponenten bestimmte rheologische und thixotrope Eigenschaften auf und ist ein grundlegendes Funktionsmaterial, das Materialien, chemische und elektronische Technologien integriert, und die Herstellung von Silberpulver ist der Schlüssel dazu Herstellung von leitfähiger Silberpaste. Mit dem von CIQTEK unabhängig entwickelten Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000, das auf der Hochspannungstunneltechnologie basiert, wird der Raumladungseffekt drastisch reduziert und es können unregelmäßige Silberpulvercluster untereinander beobachtet werden (Abbildung 2). Und das SEM5000 verfügt über eine hohe Auflösung, sodass auch bei 100.000-facher Vergrößerung noch Details erkennbar sind.
Abbildung 2 Silberpulver/5 kV/Inlens
Rasterelektronenmikroskopie in Lithiumeisenphosphat
Lithium-Ionen-Batterien erobern aufgrund ihrer hohen spezifischen Energie, langen Lebensdauer, keinem Memory-Effekt und hohen Sicherheit schnell den Mainstream-Markt. Der Einsatz von Elektronenmikroskopie zur Beobachtung der positiven und negativen Elektrodenmorphologie von Lithium-Ionen-Batterien ist wichtig, um die spezifische Kapazität von Lithium-Ionen-Batterien zu verbessern. Unter ihnen werden Lithium-Eisenphosphat-Batterien aufgrund vieler Vorteile wie hervorragender Zyklenleistung, relativ niedrigem Preis und garantierter Sicherheitsleistung bevorzugt. Die kugelförmigen Lithiumeisenphosphatpartikel, die aus Primärpartikelagglomeraten bestehen und mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000 von CIQTEK beobachtet wurden (Abbildung 3), weisen klare Oberflächenpartikel und eine Abbildung mit dreidimensionalem Sinn auf.
Abbildung 3 Lithiumeisenphosphat / 15 kV/ETD
Rasterelektronenmikroskopie in Graphitmaterialien
Auch das Anodenmaterial ist einer der Kernbestandteile von Lithium-Ionen-Batterien und seine Struktur und Eigenschaften spielen eine entscheidende Rolle für die Leistungsfähigkeit der Batterie. Unter den vielen Anodenmaterialien auf Kohlenstoffbasis sind Materialien auf Graphitbasis die am häufigsten verwendeten Anodenmaterialien in kommerziellen Anwendungen. Die Lamellenstruktur und die Partikelgrößenverteilung der Graphitanode können mit dem Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop SEM3200 von CIQTEK klar charakterisiert werden, das auch bei niedriger Spannung noch eine hervorragende Bildqualität aufweist (Abbildung 4).
Abbildung 4 Negative Graphitelektrode/5 kV/ETD
Anwendung der Rasterelektronenmikroskopie in Montmorillonit-Dispersion
Auch zur Beobachtung der Pulverpartikel von Arzneimitteln ist der Einsatz der Rasterelektronenmikroskopie unverzichtbar. Unter anderem hat die Montmorillonit-Dispersion eine äußerst starke immobilisierende und hemmende Wirkung auf Viren und Keime im Verdauungstrakt und die von ihnen produzierten Toxine und Gase, die sie apathogen machen können. Mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000 von CIQTEK wurde beobachtet, dass die Oberfläche von Montmorillonit eine lamellare Struktur mit feinen lamellaren kristallinen Massen aufweist, die an der Oberfläche befestigt sind (Abbildung 5).
Abbildung 5 Montmorillonit loses Pulver/3 kV/ETD
Anwendung der Rasterelektronenmikroskopie in Magnesiumstearat
Pharmazeutisches Magnesiumstearat ist eine organische Verbindung, bei der es sich um ein feines weißes, nicht schleifendes Pulver mit einem rutschigen Gefühl bei Hautkontakt handelt, das hauptsächlich als Gleitmittel für Tabletten verwendet wird und die Vorteile einer starken Gleitwirkung, eines geringen Gewichts und einer guten Haftung bietet. Das Magnesiumstearatpulver lag hauptsächlich in Form von Flocken vor (Abbildung 6), und die Flocken waren miteinander verbunden, wie mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000 von CIQTEK beobachtet wurde. Obwohl Magnesiumstearat ein nicht leitendes organisches Material ist, bietet es bei Verwendung des SEM5000 im Niederspannungsmodus dennoch eine hochauflösende Bildgebung. Die gleitfähige Textur von Magnesiumstearat kann auch mit der Flockenstruktur zusammenhängen, wie die Oberflächenmorphologie zeigt.
Abbildung 6 Magnesiumstearat / 1 kV/ETD
CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher oder nicht leitender Proben direkt beobachten. Der standardmäßige optische Navigationsmodus sowie eine intuitive Bedienoberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Umgebung zur Charakterisierung von Proben. Darüber hinaus hilft die umfassende Skalierbarkeit den Benutzern, die Welt der mikroskopischen Bildgebung zu erkunden.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der „SuperTunnel“-Technologie und des hochauflösenden Objektivlinsendesigns kann SEM5000X weitere Verbesserungen bei der Auflösung der Niederspannungsbildgebung erzielen. Die Probenkammeranschlüsse sind auf 16 erweitert, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt bis zu 8-Zoll-Wafergrößen (maximaler Durchmesser 208 mm), was die Anwendungsmöglichkeiten erheblich erweitert. Abdeckung. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.
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