Feiern Sie die erfolgreiche Installation von CIQTEK SEM5000X bei GSEM in Korea
Feiern Sie die erfolgreiche Installation von CIQTEK SEM5000X bei GSEM in Korea
February 26, 2025
Feiern Sie die erfolgreiche Installation von CIQTEK SEM5000X bei GSEM in Korea
Diese Leistung markiert einen bedeutenden Meilenstein in der Zusammenarbeit zwischen Ciqtek und GSEM, damit die Forscher das Beste der Welt erleben können Feldemission Rasterelektronenmikroskop(Fe-SEM) Fähigkeiten
Ciqtek ist stolz darauf, die Integration seiner bekannt zu geben SEM3200, Fesem SEM4000PROund Fesem SEM5000XModelle in GSEM, sodass Forscher eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analyseanwendungen untersuchen können Diese fortschrittlichen SEM-Systeme bieten eine beispiellose Leistung und bieten hochauflösende Bildgebung, Elementaranalyse und Oberflächencharakterisierung
Mit der Installation von Ciqtek Fesem SEM5000X, Forscher und Ingenieure haben jetzt Zugang zu erstklassigen SEM-Funktionen und eröffnen neue Grenzen in der wissenschaftlichen Forschung CIQTEK freut sich auf eine weitere Zusammenarbeit mit GSEM, was die Fortschritte in der Mikroskopie vorantreibt und zum Fortschritt des wissenschaftlichen Wissens beiträgt.
Analytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Hochleistungs- und universelles Wolframfilament-REM Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop Das SEM3200 ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
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