Praktische CIQTEK FIB-SEM-Demonstration – Vorbereitung einer Transmissionsprobe aus Ferrit-Martensit-Stahl

CIQTEK FIB-SEM Praktische Demonstration

Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskope (FIB-SEM) sind für verschiedene Anwendungen wie Defektdiagnose, Reparatur, Ionenimplantation, In-situ-Verarbeitung, Maskenreparatur, Ätzen, Designmodifikation integrierter Schaltkreise unerlässlich. Herstellung von Chipgeräten, maskenlose Verarbeitung, Herstellung von Nanostrukturen, komplexe Nanostrukturierung, dreidimensionale Bildgebung und Analyse von Materialien, hochempfindliche Oberflächenanalyse, Oberflächenmodifikation und Probenvorbereitung für die Transmissionselektronenmikroskopie.

CIQTEK hat das FIB-SEM DB550 vorgestellt, das über ein unabhängig steuerbares Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Fokussierung verfügt Ionenstrahlsäulen (FIB). Es handelt sich um ein elegantes und vielseitiges Werkzeug zur Analyse und Probenvorbereitung im Nanomaßstab, das die „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und nicht- Magnetisches Objektivdesign mit Niederspannung und hoher Auflösung zur Gewährleistung der Analyse im Nanomaßstab. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen, hochwertigen Ionenstrahl, um die Fähigkeit zur Nanofertigung sicherzustellen. DB550 verfügt über einen integrierten Nano-Manipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und eine benutzerfreundliche GUI Software, die eine erleichtert All-in-One-Workstation für nanoskalige Analyse und Herstellung.

Um die herausragende Leistung des DB550 zu demonstrieren, hat CIQTEK eine Sonderveranstaltung namens „CIQTEK FIB-SEM Practical Demonstration“ geplant. In diesem Programm werden Videos präsentiert, die die breiten Einsatzmöglichkeiten dieser hochmodernen Ausrüstung demonstrieren Bereiche wie Materialwissenschaften, Halbleiterindustrie und biomedizinische Forschung. Die Zuschauer werden ein Verständnis für die Funktionsprinzipien des DB550 gewinnen, seine atemberaubenden Bilder im Mikromaßstab bewundern und die bedeutenden Auswirkungen dieser Technologie auf die wissenschaftliche Forschung und die industrielle Entwicklung erkunden.

Herstellung einer Transmissionsprobe aus Ferrit-Martensit-Stahl

Das FIB-SEM DB550 Das von CIQTEK entwickelte Verfahren verfügt über die Fähigkeit, Übertragungsproben aus Ferrit-Martensit-Stahl einwandfrei vorzubereiten. Diese Fähigkeit ermöglicht es Forschern im Nanobereich, die Grenzflächeneigenschaften, die mikrostrukturelle Morphologie und den Entwicklungsprozess von Ferrit- und Martensitphasen direkt zu beobachten. Diese Beobachtungen sind entscheidende Schritte zur Vertiefung des Verständnisses der Beziehung zwischen Phasenumwandlungskinetik, mikrostruktureller Organisation und mechanischen Eigenschaften von Ferrit-Martens-Stahl.