CIQTEK veranstaltet ein erweitertes Schulungsprogramm für den Betrieb von Rasterelektronenmikroskopen für GSEM KOREA
CIQTEK veranstaltet ein erweitertes Schulungsprogramm für den Betrieb von Rasterelektronenmikroskopen für GSEM KOREA
August 15, 2024
CIQTEK , ein führender Anbieter hochentwickelter wissenschaftlicher Instrumente, gibt den erfolgreichen Abschluss eines umfassenden Schulungsprogramms mit GSEM KOREA bekannt, das sich auf die Bedienung und Anwendung hochmoderner Elektronenmikroskope (REM) konzentrierte . Die Schulung fand vom 7. bis 8. August im CIQTEK-Anwendungszentrum statt und zielte darauf ab, die Fachkenntnisse der Mitarbeiter im Bereich hochauflösender Bildgebung für verschiedene wissenschaftliche Disziplinen zu erweitern und wertvolle Einblicke in die fortschrittlichen Merkmale und Funktionen zu vermitteln .
Das Programm umfasste ein Team erfahrener Trainer und technischer Experten von CIQTEK , die die Teilnehmer durch die Feinheiten der SEM- Operationen führten. Die Teilnehmer erhielten Einblicke in Techniken zur Probenvorbereitung, Optimierung der Bildparameter und Datenanalysemethoden, um qualitativ hochwertige Bilder zu erhalten und wertvolle Informationen präzise aus den Proben zu extrahieren.
Dr. Lisa, leitende Anwendungswissenschaftlerin bei CIQTEK , drückte ihre Begeisterung über die erfolgreiche Zusammenarbeit mit GSEM KOREA aus und erklärte: „Wir freuen uns sehr über die Partnerschaft mit GSEM KOREA bei der Bereitstellung dieses umfassenden Schulungsprogramms. Mit dieser Schulung möchten wir Forschern die erforderlichen Fähigkeiten vermitteln, um diese Instrumente effektiv nutzen zu können.“
CIQTEK engagiert sich für die Förderung wissenschaftlicher Fortschritte und die Bereitstellung modernster Technologien für Forscher. Durch die Organisation von Schulungsprogrammen und Partnerschaften mit führenden Unternehmen wie GSEM KOREA erleichtert CIQTEKweiterhin den Wissensaustausch und fördert Innovationen in der wissenschaftlichen Forschung .
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM), ausgestattet mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analyse.
Hochleistungsfähiges Wolframfilament-REM-Mikroskop mit hervorragender Bildqualität sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop verfügt über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es Benutzern ermöglicht, Proben zu charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse zu erkunden.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM): 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV Das CIQTEK SEM5000X ultrahochauflösende FESEM nutzt den verbesserten Säulenkonstruktionsprozess, die „SuperTunnel“-Technologie und das hochauflösende Objektivlinsendesign, um die Bildauflösung bei niedriger Spannung zu verbessern. Die Probenkammeranschlüsse des FESEM SEM5000X sind auf 16 erweiterbar, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt Wafergrößen bis zu 8 Zoll (maximaler Durchmesser 208 mm), wodurch sich die Einsatzmöglichkeiten deutlich erweitern. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.
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