CIQTEK SEM beteiligt sich an den Münsteraner Elektronenmikroskopie-Schulungen 2026 in Deutschland
CIQTEK SEM beteiligt sich an den Münsteraner Elektronenmikroskopie-Schulungen 2026 in Deutschland
March 06, 2026
CIQTEK
freut sich bekannt zu geben, dass die
CIQTEK SEM3200 Wolframdraht-Rasterelektronenmikroskop
wird teilnehmen
SEM-Schulungen in Münster 2026
, wodurch den Teilnehmern während der Sitzungen, die vom
16. März bis 20. März 2026
In
Münster, Deutschland
Die
Diese Kooperation ermöglicht es Forschern, Ingenieuren und Anwendern der Mikroskopie, die an dem Schulungsprogramm teilnehmen, das SEM3200-System direkt zu bedienen und seine Leistungsfähigkeit in realen analytischen Arbeitsabläufen zu erproben. Für viele Teilnehmer bietet sich damit die Gelegenheit, im Rahmen eines der traditionsreichsten Mikroskopie-Schulungsprogramme Europas praktische Erfahrungen mit moderner Rasterelektronenmikroskopie zu sammeln.
Über die SEM-Schulungen in Münster
Die SEM-Schulungen in Münster werden von der
Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH
, eine etablierte Institution, die sich der Ausbildung in Elektronenmikroskopie und Mikroanalyse widmet.
Seit Jahrzehnten veranstaltet die Akademie intensive Schulungen zu Themen wie:
Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie
Energiedispersive Spektroskopie (EDS)-Analyse
Elektronenbildgebungstechniken
Probenvorbereitung und praktische Arbeitsabläufe
Dateninterpretation für die Materialanalyse
Diese Kurse ziehen jedes Jahr eine vielfältige Gruppe von Teilnehmern an. Zu den Teilnehmern gehören Universitätsforscher, Laboringenieure, Spezialisten für Industriematerialien und Mitarbeiter von Mikroskopieeinrichtungen aus ganz Europa und darüber hinaus.
Das Training findet statt am
Fachhochschulzentrum der Fachhochschule Münster
Hier werden Vorlesungen mit praktischen Laborübungen kombiniert. Für die Kurse stehen mehrere Mikroskope zur Verfügung, damit die Teilnehmer direkte praktische Erfahrung sammeln können.
Der Kursplan für 2026 umfasst mehrere Spezialveranstaltungen, wie zum Beispiel:
R-1: Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie
R-2: Erweiterte SEM- und Mikroanalyse
R-3: Fortgeschrittene SEM-Techniken
EBSD-Analyse-Schulung
Kurse zur Partikelanalyse
Während der
Sitzungen vom 16. März bis 20. März
, Die
CIQTEK SEM3200
wird als eines der Instrumente für Schulungen und Vorführungen zur Verfügung stehen.
Hier finden Sie die Kurse:
http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php
Unterstützung von Ausbildung und Wissensaustausch in der Elektronenmikroskopie
Schulungsprogramme wie die SEM-Kurse in Münster spielen eine wichtige Rolle in der Elektronenmikroskopie-Community. Sie bieten eine Plattform, auf der Forscher und Ingenieure ihre praktischen Fähigkeiten verbessern und Erfahrungen mit Dozenten und anderen Teilnehmern austauschen können.
CIQTEK ist überzeugt, dass praxisorientiertes Lernen unerlässlich für die Weiterentwicklung wissenschaftlicher Forschung und analytischer Fähigkeiten ist. Durch die Unterstützung von Schulungsinitiativen und die Bereitstellung von Geräten für praktische Übungen möchte das Unternehmen Anwendern helfen, sich besser mit der SEM-Technologie und ihren Anwendungen vertraut zu machen.
Veranstaltungen dieser Art bieten zudem Möglichkeiten zum Dialog zwischen Geräteentwicklern und Endanwendern. Feedback aus Schulungsumgebungen trägt häufig dazu bei, Verbesserungen in den Bereichen Benutzerfreundlichkeit, Softwaredesign und analytische Arbeitsabläufe voranzutreiben.
CIQTEK-Produktportfolio für Elektronenmikroskopie
Das SEM3200 ist Teil des wachsenden Portfolios von CIQTEK an Elektronenmikroskopie-Instrumenten, die für Forschungslabore, Universitäten und industrielle Analyseeinrichtungen entwickelt wurden.
CIQTEK bietet eine Reihe von Rasterelektronenmikroskop-Lösungen an, darunter:
- Wolframfilament-SEM-Serie
Zuverlässige und kostengünstige Systeme für die routinemäßige Bildgebung und Materialanalyse.
- Feldemissions-REM-Serie
Hochauflösende Instrumente, die für die fortgeschrittene Nanostrukturbeobachtung und anspruchsvolle Forschungsanwendungen entwickelt wurden.
- Fokussiertes Ionenstrahl-REM (FIB-REM)
Zweistrahlsysteme für die Probenpräparation im Nanobereich, Querschnittserstellung und 3D-Analyse.
Ausblick auf Münster 2026
Die SEM-Schulungen in Münster 2026 werden erneut Mitglieder der Mikroskopie-Community für mehrere Wochen intensiven Lernens und praktischer Erfahrung zusammenbringen. CIQTEK freut sich, dass die
Rasterelektronenmikroskop SEM3200
wird zum Programm beitragen und die Teilnehmer während ihrer praktischen Übungen unterstützen.
Durch die Zusammenarbeit mit Ausbildungseinrichtungen und Forschungsorganisationen unterstützt CIQTEK weiterhin die Entwicklung von Mikroskopie-Expertise und den Fortschritt von Technologien zur Materialcharakterisierung weltweit.
Hochleistungs- und Universal-SEM mit Wolframfilament Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
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