CIQTEK schließt Ausstellung auf der SCANDEM 2026 in Oulu, Finnland erfolgreich ab

July 03, 2026

CIQTEK, ein führender Anbieter von Lösungen für Präzisionsmessungen und Elektronenmikroskopie, freut sich, den erfolgreichen Abschluss seiner Teilnahme am SCANDEM 2026 Jahrestreffen der Nordischen Mikroskopiegesellschaft bekannt zu geben, das vom 9. bis 12. Juni 2026 in Oulu, Finnland, stattfand.

Veranstaltungsübersicht

SCANDEM ist eine der am längsten bestehenden und einflussreichsten jährlichen Mikroskopiekonferenzen in der nordischen Region. Das diesjährige Treffen wurde gemeinsam vom Biocenter Oulu Material Analysis Center und der Nordischen Mikroskopiegesellschaft organisiert und fand im Kieppi-Gebäude des Biocenter Oulu statt. Die Konferenz umfasste zwei große Themenbereiche: Lebenswissenschaften (von der Bildgebung ganzer Organismen bis hin zu Techniken auf Molekülebene) und Materialwissenschaften (Metallurgie, Geologie, Katalysatoren, Nanopartikel und mehr). Das Programm bot Plenarvorträge, wissenschaftliche Präsentationen, Postersitzungen und eine Ausstellungshalle mit etwa 120–150 Teilnehmenden und rund 20 Instrumentenherstellern. Bemerkenswert ist, dass Oulu zur Europäischen Kulturhauptstadt 2026 ernannt wurde und Besuchern aus aller Welt eine einzigartige kulturelle Atmosphäre sowie ein dynamisches Innovationsumfeld bietet.

Höhepunkte des CIQTEK-Stands

Der Stand von CIQTEK befand sich bei II.5im Ausstellungsbereich. Das europäische Team (Frank, Miles, Markus, Changming) war vor Ort, um zwei zentrale Elektronenmikroskopieprodukte vorzustellen und den Teilnehmenden professionelle technische Beratung anzubieten.

Vorgestellte Produkte:

SEM5000X Ultrahochauflösendes FESEM: Das Flaggschiff-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemission von CIQTEK, ausgestattet mit einem fortschrittlichen elektronenoptischen System für ultrahochauflösende Bildgebung, ideal für die präzise nanoskalige Strukturanalyse in Materialwissenschaften, Halbleitern und Lebenswissenschaften.
HEM6000 Hochgeschwindigkeits-SEM: Eine Hochdurchsatz-Arbeitsstation, entwickelt für großflächige und serielle Prüfungen, mit herausragendem hohem Strahlstrom, außergewöhnlicher Stabilität und automatisierten Arbeitsabläufen, die die Bildgebungsgeschwindigkeit für industrielle Qualitätskontrolle und fortgeschrittene Forschung erheblich beschleunigt.

Unternehmenspräsentation

CIQTEK hielt eine Präsentation in Sitzung 1 (Unternehmenssitzung LS1+MS1, Raum 101A)von ungefähr 11:00 bis 11:10.

Vortragender: Miles, Lösungsspezialist bei CIQTEK

Thema: "Erschließung der Leistungsfähigkeit der einzigartigen Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskopie-Lösung von CIQTEK"

Die Präsentation behandelte die grundlegenden Prinzipien hinter der Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskopie mit Feldemission (FESEM) und zeigte auf, wie diese Spitzentechnologie die Bildgebung und Analyse über verschiedene Maßstäbe hinweg sowie die Verarbeitung großer Datenmengen verändert. Miles erläuterte, wodurch sich das Hochgeschwindigkeits-FESEM von CIQTEK einzigartig unterscheidet, und hob die Anwendungen hervor, in denen es besonders leistungsfähig ist. Die Teilnehmenden erfuhren außerdem, wie das gebündelte Hochgeschwindigkeits-Mikroskopiepaket von CIQTEK mehrere Technologien integriert, um eine echte Bandbreitenerweiterung zu ermöglichen und einen bahnbrechenden Durchsatz bei gleichzeitig hervorragender Bildauflösung zu liefern.

Wichtige Themen der Präsentation

Während der Unternehmenssitzung behandelte die Präsentation von CIQTEK:

Leistungsstarkes Technologiepaket für Hochgeschwindigkeitsbildgebung: Integration einer Elektronenquelle mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, eines Hochgeschwindigkeits-Scan-Treibers, einer elektrostatischen Hochgeschwindigkeits-Strahlablenkung, einer Hochgeschwindigkeits-Bildverarbeitung, einer Hochgeschwindigkeits-Signalelektronenerfassung, einer Hochgeschwindigkeits-Videoübertragung, eines Hochgeschwindigkeits-Probenhaltertischs sowie eines hochautomatisierten Arbeitsablaufs – für höhere Bildgebungsgeschwindigkeit, längere kontinuierliche Bildgebungszeiten und intelligente Arbeitsabläufe.
Automatisches Probenwechselsystem: Mit Plasma-Reiniger-Funktionalität für eine effiziente Probenvorbereitung und -handhabung.
HEM6000 Spezifikationen: Detaillierte technische Parameter einschließlich Auflösung (1,5 nm bei 1 kV SE, 1,3 nm bei 3 kV SE, 1,5 nm bei 15 kV BSE), Vergrößerung (66× – 1.000.000×), Beschleunigungsspannung (100 V – 30 kV), Fähigkeiten des Probentischs und Erfassungsgeschwindigkeit (10 ns/Pixel, 2×100M Pixel/s).
CIQTEK-Hauptsitz: Befindet sich in No. 1969, Kongquetai Road, High-tech Zone, Hefei, Anhui, China. Die Einrichtung umfasst eine Standortfläche von 76.000 m² mit einer Gesamtgeschossfläche von 280.000 m², beherbergt über 800 Mitarbeitende und verfügt über einen 4.000 m² großen Reinraum (Klasse 10.000, teilweise Klasse 100).

Unterstützung durch das europäische Team

Diese Ausstellung wurde vom europäischen Team von CIQTEK betreut, das umfangreiche Fachkenntnisse in der Mikroskopieinstrumentierung und Erfahrung im lokalen Marktdienst einbrachte, um professionelle und effiziente Produktvorführungen sowie technischen Support bereitzustellen. Produktbroschüren und individuell gestaltete USB-Sticks standen den Besuchern am Stand zur Verfügung.

Fazit

Die Teilnahme von CIQTEK an SCANDEM 2026 stellte einen weiteren wichtigen Schritt in der globalen Expansionsstrategie des Unternehmens dar. Die Veranstaltung bot eine hervorragende Plattform, um mit führenden Forschern und Experten der globalen Mikroskopiegemeinschaft in Kontakt zu treten, die fortschrittlichen Elektronenmikroskopietechnologien von CIQTEK zu präsentieren und die Präsenz des Unternehmens auf dem europäischen Markt zu stärken. CIQTEK bleibt dem Ziel verpflichtet, Innovationen in der Elektronenmikroskopie voranzutreiben, und freut sich darauf, die Zusammenarbeit mit der internationalen wissenschaftlichen Gemeinschaft fortzusetzen.

Über CIQTEK

CIQTEK ist ein führender Anbieter von Lösungen für Präzisionsmessungen und Elektronenmikroskopie und widmet sich der Bereitstellung fortschrittlicher Technologien für wissenschaftliche Forschung und industrielle Anwendungen. Mit einem starken Engagement für Innovation und Exzellenz treibt CIQTEK weltweit die Grenzen der Mikroskopie- und Messtechnologie weiter voran.

Für weitere Informationen besuchen Sie bitte: www.ciqtekglobal.com

Neuigkeiten & Veranstaltungen

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Veranstaltungsübersicht

Höhepunkte des CIQTEK-Stands

Unternehmenspräsentation

Wichtige Themen der Präsentation

Unterstützung durch das europäische Team

Fazit

Über CIQTEK

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