CIQTEK präsentiert Hochgeschwindigkeits-Volumen-EM auf dem vEM Technology Forum 2026
CIQTEK präsentiert Hochgeschwindigkeits-Volumen-EM auf dem vEM Technology Forum 2026
September 28, 2026
CIQTEK wird am 2026 vEM Technology Forum an der Peking University in Beijing teilnehmen und unsere neuesten Volume Electron Microscopy (Volume EM)-Lösungen präsentieren.
Besucher können das CIQTEK-Team an unserem Stand treffen, um zu erfahren, wie Hochgeschwindigkeits-REM, hochauflösende Bildgebung bei niedriger Beschleunigungsspannung (low-kV), automatisierte großflächige Erfassung und 3D-Rekonstruktion Forschern dabei helfen können, zunehmend große und komplexe Datensätze der Volumenmikroskopie zu verarbeiten.
CIQTEK Posterpräsentation
Auf dem Forum wird Xin Ren (Luke), CIQTEK Senior Electron Microscopy Solution Manager, unsere neuesten Arbeiten zum Hochgeschwindigkeits-REM für großskalige Volume EM vorstellen.
Postertitel: Erschließung der Leistungsfähigkeit des einzigartigen Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskops ohne Kompromisse bei der hervorragenden Bildauflösung bei niedriger kV für großskalige Volumenmikroskopie-Anwendungen von CIQTEK
Das Poster wird untersuchen, wie das HEM6000 hohe Bildgebungsgeschwindigkeit, starke Auflösung bei niedriger kV, großflächige Bildgebung und intelligente Automatisierung kombiniert, um großskalige Volume EM-Workflows zu unterstützen.
Treffen Sie CIQTEK in Beijing
Das 2026 vEM Technology Forum bringt Forscher und Mikroskopie-Experten zusammen, um Ideen zu Volume EM-Technologien, Workflows, Automatisierung, großskaliger Bildgebung, Datenverarbeitung und neuen Anwendungen auszutauschen.
Wir freuen uns darauf, die vEM-Community zu treffen, unsere neuesten Entwicklungen zu teilen und von den tatsächlichen Herausforderungen in der Bildgebung zu erfahren, an denen Forscher arbeiten.
Besuchen Sie den CIQTEK-Stand, treffen Sie unser EM-Team und entdecken Sie, was Hochgeschwindigkeits-Volume EM für Ihre Forschung leisten kann.
Datum: 11.–15. Oktober 2026 Ort: Peking University, Beijing, China
Hohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
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