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FESEM | SEM4000Pro

Analytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM)

CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.

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▶ Elektronenoptik

sem4000pro Electron Optics

▶ Niedervakuummodus

Im Niedervakuummodus kann ein Bereich von 10–180 Pa ohne druckbegrenzende Blende erreicht werden. Die speziell entwickelte Objektivlinsen-Vakuumkammer minimiert die mittlere freie Weglänge der Elektronen unter Niedervakuumbedingungen und erreicht im Niedervakuummodus eine Auflösung von 1,5 nm bei 30 kV.

Die Sekundärelektronenemission von der Probenoberfläche ionisiert Luftmoleküle und erzeugt gleichzeitig Elektronen, Ionen und Photonen. Die erzeugten Elektronen ionisieren weitere Luftmoleküle. Ein Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor (LVD) erfasst eine große Menge der dabei entstehenden Photonensignale.

Der einfallende Elektronenstrahl ionisiert Luftmoleküle auf der Probenoberfläche und erzeugt Elektronen und Ionen. Diese Ionen neutralisieren die Ladung der Oberfläche und reduzieren so den Aufladungseffekt.

▶ Software zur Partikel- und Porenanalyse (Partikel) *Optional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Die CIQTEK SEM-Mikroskop-Software verwendet verschiedene Zielerkennungs- und Segmentierungsalgorithmen, die für unterschiedliche Arten von Partikel- und Porenproben geeignet sind. Sie ermöglicht eine quantitative Analyse der Partikel- und Porenstatistik und kann in Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Umweltwissenschaft eingesetzt werden.

▶ Bildnachbearbeitungssoftware *Optional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Führen Sie eine Online- oder Offline-Bildnachbearbeitung von mit Elektronenmikroskopen aufgenommenen Bildern durch und integrieren Sie häufig verwendete EM-Bildverarbeitungsfunktionen, praktische Mess- und Anmerkungstools.

▶ Automatische Messung *Optional

SEM Microscope software Auto Measure

Automatische Erkennung von Linienbreitenkanten für präzisere Messungen und höhere Konsistenz. Unterstützt verschiedene Kantenerkennungsmodi wie Linie, Abstand, Abstand usw. Kompatibel mit verschiedenen Bildformaten und mit verschiedenen gängigen Bildnachbearbeitungsfunktionen. Die Software ist benutzerfreundlich, effizient und präzise.

▶ Software Development Kit (SDK) *Optional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Bietet eine Reihe von Schnittstellen zur Steuerung des SEM-Mikroskops, einschließlich Bildaufnahme, Betriebszustandseinstellungen, Ein-/Ausschalten, Tischsteuerung usw. Prägnante Schnittstellendefinitionen ermöglichen die schnelle Entwicklung spezifischer Elektronenmikroskop-Betriebsskripte und -software und ermöglichen die automatische Verfolgung von Bereichen von Interesse, die Datenerfassung in der industriellen Automatisierung, die Bilddriftkorrektur und weitere Funktionen. Kann für die Softwareentwicklung in Spezialbereichen wie Kieselalgenanalyse, Stahlverunreinigungsprüfung, Sauberkeitsanalyse, Rohstoffkontrolle usw. verwendet werden.

▶ AutoMap *Optional

FESEM Microscope software Auto Measure

Spezifikationen des CIQTEK SEM4000Pro FESEM-Mikroskops
Elektronenoptik Auflösung Hochvakuum

0,9 nm bei 30 kV, SE

Niedervakuum

2,5 nm bei 30 kV, BSE, 30 Pa

1,5 nm bei 30 kV, SE, 30 Pa

Beschleunigungsspannung 0,2 kV ~ 30 kV
Vergrößerung (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Elektronenkanonentyp Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer Niedervakuum Max. 180 Pa
Kamera Doppelkameras (optische Navigation + Kammerüberwachung)
XY-Bereich 110 mm
Z-Bereich 65 mm
T-Bereich -10° ~ +70°
R-Bereich 360°
SEM-Detektoren und Erweiterungen Standard

Everhart-Thornley-Detektor (ETD)

Niedervakuumdetektor (LVD)

Rückstreuelektronendetektor (BSED)

Optional

Einziehbarer Rastertransmissionselektronenmikroskop-Detektor (STEM)

Energiedispersives Spektrometer (EDS / EDX)

Elektronenrückstreu-Beugungsmuster (EBSD)

Probenaustauschschleuse (4 Zoll / 8 Zoll)

Trackball- und Knopf-Bedienfeld

Benutzeroberfläche Sprache Englisch
Betriebssystem Windows
Navigation Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional)
Automatische Funktionen Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, Auto-Stigmator
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