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Aluminiumlegierungen, die aufgrund ihres außergewöhnlichen Festigkeits-Gewichts-Verhältnisses geschätzt werden, sind ideale Werkstoffe für den Leichtbau im Automobilbau. Widerstandspunktschweißen (RSW) ist nach wie vor das gängigste Fügeverfahren im Karosseriebau. Die hohe thermische und elektrische Leitfähigkeit von Aluminium in Verbindung mit seiner Oberflächenoxidschicht erfordert jedoch Schweißströme, die weit über denen für Stahl liegen. Dies beschleunigt den Verschleiß der Kupferelektroden, was zu instabiler Schweißnahtqualität, häufigem Elektrodenwechsel und erhöhten Produktionskosten führt. Verlängerung der Elektrodenlebensdauer Die Sicherstellung der Schweißnahtqualität hat sich zu einem kritischen technologischen Engpass in der Branche entwickelt. Um dieser Herausforderung zu begegnen, führte das Team von Dr. Yang Shanglu am Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics eine eingehende Studie durch, in der die CIQTEK FESEM SEM5000 Sie entwickelten eine innovative Elektrode mit erhöhtem Ring und untersuchten systematisch den Einfluss der Ringanzahl (0–4) auf die Elektrodenmorphologie. Dabei deckten sie den intrinsischen Zusammenhang zwischen Ringanzahl, Kristallfehlern im Schweißkern und Stromverteilung auf. Ihre Ergebnisse zeigen, dass eine Erhöhung der Anzahl der erhabenen Ringe die Stromverteilung optimiert, die Wärmeeinbringungseffizienz verbessert, den Schweißpunkt vergrößert und die Lebensdauer der Elektrode deutlich verlängert. Die erhöhten Ringe verbessern insbesondere das Eindringen in die Oxidschicht, wodurch der Stromfluss erhöht und gleichzeitig Lochfraßkorrosion reduziert wird. Dieses innovative Elektrodendesign bietet einen neuen technischen Ansatz zur Minderung des Elektrodenverschleißes und legt eine theoretische und praktische Grundlage für den breiteren Einsatz des Widerstandsschweißens von Aluminiumlegierungen in der Automobilindustrie. Die Studie wurde in der Fachzeitschrift veröffentlicht. Zeitschrift für Materialverarbeitungstechnik. unter dem Titel „ Untersuchung des Einflusses der Elektrodenoberflächenmorphologie auf das Widerstandspunktschweißen von Aluminiumlegierungen. „ Durchbruch im Design von Elektroden mit erhöhtem Ring Angesichts der Herausforderung des Elektrodenverschleißes ging das Team das Problem von der Elektrodenmorphologie aus an. Sie bearbeiteten 0 bis 4 konzentrische Erhebungen auf der Endfläche herkömmlicher sphärischer Elektroden und schufen so eine neuartige Newton-Ring-Elektrode (NTR). Abbildung 1. Oberflächenmorphologie und Querschnittsprofil der im Experiment verwendeten Elektroden. SEM-Analyse deckt Kristallfehler und Leistungsverbesserung auf Wie beeinflussen erhabene Ringe die Schweißleistung? Verwendung der CIQTEK FESEM SEM5000 und EBSD-Techniken Das Team charakterisierte die Mikrostruktur der Schweißpunkte detailliert. Sie stellten fest, dass die erhabenen Ringe während des Schweißens die Aluminiumoxidschicht durchdringen, die Stromverteilung optimieren, den Wärmeeintrag beeinflussen...

Kürzlich wurde der Nobelpreis für Chemie 2025 an Susumu Kitagawa, Richard Robson und Omar Yaghi verliehen, in Anerkennung „ihrer Entwicklung von Metall-organischen Gerüstverbindungen (MOFs)“. Die drei Preisträger schufen Molekülstrukturen mit riesigen Innenräumen, durch die Gase und andere chemische Verbindungen strömen können. Diese als Metall-organische Gerüstverbindungen (MOFs) bekannten Strukturen finden Anwendung in vielen Bereichen, von der Wassergewinnung aus Wüstenluft und der Kohlendioxidabscheidung über die Speicherung giftiger Gase bis hin zur Katalyse chemischer Reaktionen. Metall-organische Gerüstverbindungen (MOFs) sind eine Klasse kristalliner poröser Materialien, die aus Metallionen oder -clustern bestehen, die über organische Liganden verknüpft sind (Abbildung 1). Ihre Struktur kann man sich als dreidimensionales Netzwerk aus „Metallknoten + organischen Linkern“ vorstellen, das die Stabilität anorganischer Materialien mit der Designflexibilität der organischen Chemie vereint. Diese vielseitige Konstruktion ermöglicht die Zusammensetzung von MOFs aus nahezu jedem Metall des Periodensystems und einer Vielzahl von Liganden wie Carboxylaten, Imidazolaten oder Phosphonaten, was eine präzise Kontrolle über Porengröße, Polarität und chemische Umgebung ermöglicht. Abbildung 1. Schema eines Metall-organischen Gerüsts Seit dem Aufkommen der ersten permanent porösen MOFs in den 1990er Jahren wurden Tausende von Strukturgerüsten entwickelt, darunter klassische Beispiele wie HKUST-1 und MIL-101. Sie weisen ultrahohe spezifische Oberflächen und Porenvolumina auf und bieten einzigartige Eigenschaften für die Gasadsorption, Wasserstoffspeicherung, Trennung, Katalyse und sogar die Arzneimittelabgabe. Einige flexible MOFs können als Reaktion auf Adsorption oder Temperatur reversible Strukturänderungen erfahren und dynamische Verhaltensweisen wie „Atmungseffekte“ zeigen. Dank ihrer Vielfalt, Anpassbarkeit und Funktionalisierung sind MOFs zu einem zentralen Thema der porösen Materialforschung geworden und bieten eine solide wissenschaftliche Grundlage für die Untersuchung der Adsorptionsleistung und Charakterisierungsmethoden. MOF-Charakterisierung Die grundlegende Charakterisierung von MOFs umfasst typischerweise Pulver-Röntgenbeugungsmuster (PXRD) zur Bestimmung der Kristallinität und Phasenreinheit sowie Stickstoff-(N₂)-Adsorptions-/Desorptionsisothermen zur Validierung der Porenstruktur und Berechnung der scheinbaren Oberfläche. Zu den weiteren häufig verwendeten ergänzenden Techniken gehören: Thermogravimetrische Analyse (TGA) : Bewertet die thermische Stabilität und kann in einigen Fällen das Porenvolumen schätzen. Wasserstabilitätstests : Bewertet die strukturelle Stabilität in Wasser und unter verschiedenen pH-Bedingungen. Rasterelektronenmikroskopie (REM) : Misst Kristallgröße und -morphologie und kann mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) zur Bestimmung der Elementzusammensetzung und -verteilung kombiniert werden. Kernspinreson...

Kürzlich erzielte ein Team unter der Leitung von Wang Haomin vom Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology der Chinesischen Akademie der Wissenschaften bedeutende Fortschritte bei der Untersuchung des Magnetismus von Zickzack-Graphen-Nanobändern (zGNRs) mithilfe eines CIQTEK Raster-Stickstoffleerstellen-Mikroskop (SNVM) . Aufbauend auf früheren Forschungen ätzte das Team hexagonales Bornitrid (hBN) mit Metallpartikeln vor, um orientierte Atomgräben zu erzeugen. Anschließend verwendete es ein katalytisches CVD-Verfahren (Chemical Vapor Deposition), um chirale Graphen-Nanobänder in den Gräben kontrolliert herzustellen. Dadurch entstanden etwa 9 nm breite zGNR-Proben, eingebettet in das hBN-Gitter. Durch die Kombination von SNVM- und magnetischen Transportmessungen konnte das Team den intrinsischen Magnetismus experimentell direkt bestätigen. Diese bahnbrechende Entdeckung legt einen soliden Grundstein für die Entwicklung graphenbasierter Spinelektronik-Bauelemente. Die Forschungsergebnisse mit dem Titel „Signatures of magnetism in zigzag graphene nanoribbons embedded in a hexagonal boron nitride lattice“ wurden in der renommierten Fachzeitschrift „Signatures of magnetism in zigzag graphene nanoribbons embedded in a hexagonal boron nitride lattice“ veröffentlicht. "Naturmaterialien". Graphen ist ein einzigartiges zweidimensionales Material mit p-Orbitalelektronen, die sich grundlegend von den lokalisierten magnetischen Eigenschaften d/f-Orbitalelektronen in herkömmlichen magnetischen Materialien unterscheiden. Dies eröffnet neue Forschungsrichtungen für die Erforschung des reinen kohlenstoffbasierten Magnetismus. Zickzack-Graphen-Nanobänder (zGNRs), die möglicherweise einzigartige magnetische elektronische Zustände nahe dem Fermi-Niveau aufweisen, bergen vermutlich großes Potenzial im Bereich der Spinelektronik-Geräte. Die Erkennung des Magnetismus von zGNRs durch elektrische Transportmethoden ist jedoch mit zahlreichen Herausforderungen verbunden. Beispielsweise sind von unten nach oben zusammengesetzte Nanobänder oft zu kurz, um Geräte zuverlässig herzustellen. Darüber hinaus kann die hohe chemische Reaktivität der zGNR-Ränder zu Instabilität oder ungleichmäßiger Dotierung führen. Darüber hinaus kann die starke antiferromagnetische Kopplung der Randzustände in schmaleren zGNRs die elektrische Erkennung ihrer magnetischen Signale erschweren. Diese Faktoren erschweren die direkte Erkennung des Magnetismus in zGNRs. Im hBN-Gitter eingebettete zGNRs weisen eine höhere Kantenstabilität auf und verfügen über ein inhärentes elektrisches Feld, was ideale Bedingungen für die Erkennung des Magnetismus von zGNRs schafft. In der Studie verwendete das Team CIQTEK s Raumtemperatur-SNVM um die magnetischen Signale von zGNRs direkt bei Raumtemperatur zu beobachten. Abbildung 1: Magnetische Messung von zGNR eingebettet in ein hexagonales Bornitridgitter mit Scannen Stickstoffleerstellenmikroskop In Messungen des elektrischen Transports zeigten d...

Basierend auf dem D Ual-Strahl E Lektron M Ikroskop DB550 unabhängig kontrolliert von Ciqtek , Die T Wiedergabe E Lektron M Ikroskop (TEM) Die Herstellung von 28 -nm -Prozessknoten -Chips nanoskalige Probenproben wurde erfolgreich erreicht. Die TEM -Überprüfung kann klar die wichtigsten Dimensionen jeder Struktur analysieren und eine inländische Präzisionserkennungslösung für die Analyse des Halbleiterprozessdefekts und die Verbesserung der Ertragsverbesserung liefern. 

Metallmaterialien spielen eine unverzichtbare Rolle in der modernen Industrie und ihre Leistung wirkt sich direkt auf die Produktqualität und Lebensdauer der Produkte aus Mit der kontinuierlichen Entwicklung der Materialwissenschaft wurden höhere Anforderungen für die mikroskopische Struktur und Zusammensetzungsanalyse von Metallmaterialien vorgeschlagen Als erweiterte Charakterisierungsinstrument,Rasterelektronenmikroskop(SEM) Kann hochauflösende Oberflächenmorphologieinformationen liefern und sich mit spektroskopischen Analysetechniken für die Bestimmung der Elementierungszusammensetzungen kombinieren, was es zu einem wichtigen Werkzeug für die Forschung von Metallmaterial macht Dieser Artikel zielt darauf ab, die Anwendung der SEM -Technologie bei der Charakterisierung von Metallmaterialien zu erörtern und Referenzen und Leitlinien für die damit verbundene Forschung zu liefern Grundprinzipien des Elektronenmikroskops (SEM)Das Arbeitsprinzip eines Rasterelektronenmikroskops basiert auf der Wechselwirkung zwischen einem Elektronenstrahl und der Probenoberfläche Wenn ein hochenergischer Elektronenstrahl die Probenoberfläche scannt, werden verschiedene Signale erzeugt, einschließlich sekundärer Elektronen, zurückgestrappten Elektronen, charakteristischen Röntgenstrahlen usw Diese Signale werden durch entsprechende Detektoren erfasst und verarbeitet, um Oberflächenmorphologiebilder oder Elementarverteilungskarten des Probens zu bilden SEM -Probenvorbereitung für MetallmaterialienMikrostrukturanalyse: Ciqtek EM liefert hochauflösende Bilder, mit denen Forscher beobachtet werden können und analysieren die Mikrostruktur von Metallen und Verbundwerkstoffen wie Korngröße, Form, Phase Verteilung und Defekte (z B Risse und Einschlüsse) Dies ist entscheidend, um die Beziehung zu verstehen zwischen Materialeigenschaften und Verarbeitungstechniken α -β -TitanlegierungDie wärmebedigte Zone ist die am stärksten gefährdete Fläche in einer geschweißten Verbindung Untersuchung der Veränderungen in der Mikrostruktur und Eigenschaften des geschweißten Bereichs sind von großer Bedeutung für die Lösung von Schweißproblemen und die Verbesserung der Schweißqualität Kompositionsanalyse:Ausgestattet mit einem EDS oder einem WDS -System, Ciqtek Sem ermöglicht qualitativ und Quantitative Elementarzusammensetzungsanalyse Dies ist sehr wichtig für die Untersuchung der Verteilung Muster von Legierungselementen und ihre Auswirkungen auf die Materialeigenschaften Elementarleitungsanalyse durch EDSDurch Kombination von SEM mit EDS -Analyse, die Kompositionsänderungen und Elementverteilung von Verunreinigungen inDer Schweißbereich kann beobachtet werden Fehleranalyse: Nach Ausfällen wie Frakturen, Korrosion oder anderen Schäden in Metallen treten Schäden auf Ciqtek SEM ist ein wichtiges Instrument zur Analyse des Mechanismusversagens Durch Prüfung Frakturflächen, Korrosionsprodukte usw Die Grundursache für den Fehler kann identifiziert werden, bereitgestellt Erkenntnisse zur Verb...

CIQTEK FIB-SEM Praktische Demonstration Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskope (FIB-SEM) sind für verschiedene Anwendungen wie Defektdiagnose, Reparatur, Ionenimplantation, In-situ-Verarbeitung, Maskenreparatur, Ätzen, Designmodifikation integrierter Schaltkreise und Herstellung von Chipgeräten unerlässlich , maskenlose Verarbeitung, Nanostrukturherstellung, komplexe Nanostrukturierung, dreidimensionale Bildgebung und Analyse von Materialien, hochempfindliche Oberflächenanalyse, Oberflächenmodifikation und Probenvorbereitung für die Transmissionselektronenmikroskopie. CIQTEK hat das FIB-SEM DB550 vorgestellt, das über ein unabhängig steuerbares Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit fokussiertem Ionenstrahl verfügt ( FIB) Spalten. Es handelt sich um ein elegantes und vielseitiges Werkzeug zur Analyse und Probenvorbereitung im Nanomaßstab, das die „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign mit niedriger Spannung und hoher Auflösung nutzt, um die Analyse im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen, hochwertigen Ionenstrahl, um die Fähigkeit zur Nanofertigung sicherzustellen. DB550 verfügt über einen integrierten Nano-Manipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und eine benutzerfreundliche GUI-Software, die eine All-in-One-Workstation für die Analyse und Herstellung im Nanomaßstab ermöglicht. Um die herausragende Leistung des DB550 zu präsentieren, CIQTEK hat eine Sonderveranstaltung namens „CIQTEK FIB-SEM Practical Demonstration“ geplant. Dies Das Programm präsentiert Videos, die die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten dieser hochmodernen Ausrüstung in Bereichen wie der Materialwissenschaft, der Halbleiterindustrie und der biomedizinischen Forschung demonstrieren. Die Zuschauer erhalten ein Verständnis für die Funktionsprinzipien des DB550, bewundern Sie die atemberaubenden Bilder im Mikromaßstab und erkunden Sie die bedeutenden Auswirkungen dieser Technologie auf die wissenschaftliche Forschung und die industrielle Entwicklung. Nano-Micropillar SProbe Vorbereitung Nano-Mikropillen-SPecimen Die Vorbereitung wurde erfolgreich abgeschlossen und demonstriert die leistungsstarken Fähigkeiten von CIQTEK Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope bei der Verarbeitung und Analyse im Nanomaßstab. Die Leistung des Produkts bietet präzise, ​​effiziente und multimodale Testunterstützung für Kunden, die sich mit nanomechanischen Tests befassen, und ermöglicht Durchbrüche in der Materialforschung.

CIQTEK FIB-SEM Praktische Demonstration Fokussierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskope (FIB-SEM) sind für verschiedene Anwendungen wie Defektdiagnose, Reparatur, Ionenimplantation, In-situ-Verarbeitung, Maskenreparatur, Ätzen, Designmodifikation integrierter Schaltkreise unerlässlich. Herstellung von Chipgeräten, maskenlose Verarbeitung, Herstellung von Nanostrukturen, komplexe Nanostrukturierung, dreidimensionale Bildgebung und Analyse von Materialien, hochempfindliche Oberflächenanalyse, Oberflächenmodifikation und Probenvorbereitung für die Transmissionselektronenmikroskopie. CIQTEK hat das FIB-SEM DB550 vorgestellt, das über ein unabhängig steuerbares Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Fokussierung verfügt Ionenstrahlsäulen (FIB). Es handelt sich um ein elegantes und vielseitiges Werkzeug zur Analyse und Probenvorbereitung im Nanomaßstab, das die „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und nicht- Magnetisches Objektivdesign mit Niederspannung und hoher Auflösung zur Gewährleistung der Analyse im Nanomaßstab. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen, hochwertigen Ionenstrahl, um die Fähigkeit zur Nanofertigung sicherzustellen. DB550 verfügt über einen integrierten Nano-Manipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und eine benutzerfreundliche GUI Software, die eine erleichtert All-in-One-Workstation für nanoskalige Analyse und Herstellung. Um die herausragende Leistung des DB550 zu demonstrieren, hat CIQTEK eine Sonderveranstaltung namens „CIQTEK FIB-SEM Practical Demonstration“ geplant. In diesem Programm werden Videos präsentiert, die die breiten Einsatzmöglichkeiten dieser hochmodernen Ausrüstung demonstrieren Bereiche wie Materialwissenschaften, Halbleiterindustrie und biomedizinische Forschung. Die Zuschauer werden ein Verständnis für die Funktionsprinzipien des DB550 gewinnen, seine atemberaubenden Bilder im Mikromaßstab bewundern und die bedeutenden Auswirkungen dieser Technologie auf die wissenschaftliche Forschung und die industrielle Entwicklung erkunden. Herstellung einer Transmissionsprobe aus Ferrit-Martensit-Stahl Das FIB-SEM DB550 Das von CIQTEK entwickelte Verfahren verfügt über die Fähigkeit, Übertragungsproben aus Ferrit-Martensit-Stahl einwandfrei vorzubereiten. Diese Fähigkeit ermöglicht es Forschern im Nanobereich, die Grenzflächeneigenschaften, die mikrostrukturelle Morphologie und den Entwicklungsprozess von Ferrit- und Martensitphasen direkt zu beobachten. Diese Beobachtungen sind entscheidende Schritte zur Vertiefung des Verständnisses der Beziehung zwischen Phasenumwandlungskinetik, mikrostruktureller Organisation und mechanischen Eigenschaften von Ferrit-Martens-Stahl.

Was ist ein Metallbruch? Wenn ein Metall unter äußeren Kräften bricht, hinterlässt es zwei übereinstimmende Oberflächen, die „Bruchflächen“ oder „Bruchflächen“ genannt werden. Form und Aussehen dieser Oberflächen enthalten wichtige Informationen über den Bruchprozess. Durch Beobachtung und Untersuchung der Morphologie der Bruchoberfläche können wir die Ursachen, Eigenschaften, Modi und Mechanismen des Bruchs analysieren. Es liefert auch Einblicke in die Spannungsbedingungen und Rissausbreitungsraten während des Bruchs. Ähnlich wie bei einer „Vor-Ort“-Untersuchung wird durch die Bruchfläche der gesamte Bruchvorgang dokumentiert. Daher ist die Untersuchung und Analyse der Bruchoberfläche ein entscheidender Schritt und eine entscheidende Methode bei der Untersuchung von Metallbrüchen. Rasterelektronenmikroskope werden aufgrund ihrer großen Schärfentiefe und hohen Auflösung häufig im Bereich der Bruchanalyse eingesetzt. Die Anwendung des RasterelektronenmikroskopsPE in der Metallbruchanalyse Metallbrüche können in verschiedenen Versagensarten auftreten. Basierend auf dem Verformungsgrad vor dem Bruch können sie als Sprödbruch, duktiler Bruch oder eine Mischung aus beidem klassifiziert werden. Verschiedene Brucharten weisen charakteristische mikroskopische Morphologien auf, und die Charakterisierung durch CIQTEK Rasterelektronenmikroskope kann Forschern dabei helfen, Bruchflächen schnell zu analysieren. Duktiler Bruch Duktiler Bruch bezieht sich auf den Bruch, der nach einer erheblichen Verformung des Bauteils auftritt, und sein Hauptmerkmal ist das Auftreten einer offensichtlichen makroskopischen plastischen Verformung. Das makroskopische Erscheinungsbild ist becherförmig oder scherförmig mit einer faserigen Bruchfläche, die durch Grübchen gekennzeichnet ist. Wie in Abbildung 1 dargestellt, besteht die Bruchoberfläche im Mikromaßstab aus kleinen becherförmigen Mikroporen, die als Grübchen bezeichnet werden. Grübchen sind Mikrohohlräume, die durch lokale plastische Verformung im Material entstehen. Sie bilden Keime, wachsen und verschmelzen, was schließlich zum Bruch führt und Spuren auf der Bruchoberfläche hinterlässt. Abbildung 1: Duktile Bruchfläche von Metall / 10kV / Inlens Spröder Bruch Sprödbruch bezeichnet den Bruch, der ohne nennenswerte plastische Verformung des Bauteils auftritt. Das Material erfährt vor dem Bruch keine oder nur eine geringe plastische Verformung. Makroskopisch erscheint es kristallin und mikroskopisch kann es intergranuläre Brüche, Spaltungsbrüche oder Quasi-Spaltungsbrüche aufweisen. Wie in Abbildung 2 dargestellt, handelt es sich um eine gemischt spröd-duktile Bruchfläche aus Metall. Im duktilen Bruchbereich sind auffällige Grübchen zu beobachten. Im Sprödbruchbereich kommt es entlang verschiedener kristallographischer Orientierungen zu intergranularem Sprödbruch. Auf der Mikroskala weist die Bruchfläche mehrere Facetten der Körner mit klaren Korngrenzen und einem dreidimensionalen Erscheinungsbild auf. An den Korngrenze...