CIQTEK und USTC feiern ein Jahr Zusammenarbeit im gemeinsamen High-End-In-situ-Elektronenmikroskopie-Labor
CIQTEK und USTC feiern ein Jahr Zusammenarbeit im gemeinsamen High-End-In-situ-Elektronenmikroskopie-Labor
December 30, 2025
Hochentwickelte Instrumente allein führen nicht zu wissenschaftlichen Durchbrüchen. Echter Fortschritt entsteht durch die enge Zusammenarbeit von Technologie und Forschung.
Ein Jahr nach dem Start des
Gemeinsames Labor für High-End-In-situ-Elektronenmikroskopie
, die Zusammenarbeit zwischen dem Engineering and Materials Science Experimental Center und
CIQTEK
hat gezeigt, wie eine gemeinsame Innovationsmentalität neue Möglichkeiten eröffnen kann
In-situ-Materialforschung, Mikro- und Nanofabrikation sowie Studien im Bereich der Mechanik
Die
„Bei der Entscheidung für CIQTEK ging es nie nur um den Kauf eines Instruments“, sagt Professor Ming Gong, stellvertretender Direktor des Engineering and Materials Science Experimental Center. „Wir haben uns für einen Partner entschieden, der mit uns zusammenarbeiten kann, um zukunftsweisende wissenschaftliche Herausforderungen zu erforschen und zu lösen.“
Eine zentrale Forschungsplattform, die auf In-situ-Elektronenmikroskopie basiert
Das Experimentelle Zentrum für Ingenieur- und Materialwissenschaften ist eine von sechs öffentlichen experimentellen Plattformen auf Universitätsniveau an der Universität für Wissenschaft und Technologie Chinas. Es unterstützt ein breites Spektrum an Disziplinen, darunter Mechanik, Maschinenbau, Instrumentenwissenschaft und technische Thermophysik.
Das Zentrum spielt eine Schlüsselrolle bei der Förderung der Forschung zu Materialmechanik, komplexen Fluidsystemen, Präzisionsmesstechnik, Mikro- und Nano-Bauteilfertigung sowie Materialien für erneuerbare Energien. Durch die Kombination von freiem Zugang und professionellen Analysedienstleistungen ermöglicht es interdisziplinäre Zusammenarbeit und verbindet akademische Forschung mit realen industriellen Bedürfnissen.
Innerhalb dieses Rahmens
In-situ-Elektronenmikroskopie
hat sich zu einer entscheidenden Fähigkeit entwickelt. Sie ermöglicht es Forschern, strukturelle und funktionelle Veränderungen in Materialien unter realen Bedingungen direkt zu beobachten und so Erkenntnisse zu gewinnen, die mit herkömmlichen Nachanalysemethoden nicht zu erzielen sind.
Da sich die Materialwissenschaft zunehmend auf kleinere Längenskalen und dynamischere Prozesse konzentriert, reichen traditionelle Probenpräparationsmethoden nicht mehr aus. Moderne Untersuchungen erfordern daher immer häufiger
ortsspezifische Präparation, In-situ-Beobachtung und dreidimensionale Rekonstruktion
im Mikro- und Nanobereich.
Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, führte das Zentrum ein
FIB-SEM Dual-Beam-Elektronenmikroskop
geliefert von
CIQTEK
Dieses hochentwickelte wissenschaftliche Instrument ermöglicht eine präzise Mikro- und Nanofabrikation bei gleichzeitig hoher Bildauflösung und ist somit ein unverzichtbares Werkzeug für die Spitzenforschung.
„Unser Ziel war ganz klar“, erklärt Professor Gong. „Wir wollten fortschrittliche experimentelle Bedingungen schaffen, die Durchbrüche in der Spitzenforschung und -technik ermöglichen und gleichzeitig eine solide technische Grundlage für zukünftige industrielle Innovationen bieten.“
CIQTEK FIBSEM im High-End In Situ Electron Microscopy Joint Laboratory
CIQTEK wählen: Technologie, Zuverlässigkeit und Zusammenarbeit
Bei der Auswahl der Instrumente konzentrierte sich das Zentrum auf drei Kernfaktoren:
Systemstabilität, Leistungsgenauigkeit und langfristiger technischer Support
Die
„Die Kernspezifikationen von
CIQTEKs FIB-SEM
„Sie sind bereits auf dem Niveau weltweit führender Systeme“, sagt Professor Gong. „Das hat uns von Anfang an Zuversicht gegeben. Was uns aber wirklich überzeugt hat, war die Offenheit von CIQTEK für Kooperationen.“
CIQTEK arbeitete eng mit Forschern zusammen, um die tatsächlichen experimentellen Bedürfnisse zu verstehen und bot flexible Unterstützung bei der Anwendungsentwicklung und Softwarekompatibilität. Dieser Ansatz führte dazu, dass
Doppelstrahl-Elektronenmikroskop
in eine Plattform, die sich durch fortlaufende Forschung kontinuierlich weiterentwickeln kann, anstatt eine starre Konfiguration zu bleiben.
Mehr als nur Ausrüstung: Ein langfristiger Forschungspartner
Nach mehr als einem Jahr täglichem Betrieb, das CIQTEK
FIB-SEM Dual-Beam-Elektronenmikroskop
hat sich unter intensiven Forschungsbedingungen als stabil und zuverlässig erwiesen.
„Die Gesamterfahrung hat unsere Erwartungen übertroffen“, sagt Yu Bai, Ingenieur am Experimentalzentrum für Ingenieur- und Materialwissenschaften. „Das System liefert sowohl bei der Mikro- und Nanofabrikation als auch bei der hochauflösenden Bildgebung durchweg gute Ergebnisse, was für unsere In-situ-Materialforschung unerlässlich ist.“
Ebenso wichtig ist, dass CIQTEK kontinuierlich das Feedback der Nutzer erfasst und Forschungsherausforderungen in konkrete Optimierungs- und Verbesserungsvorschläge umsetzt. Dieser fortlaufende Austausch gewährleistet, dass das Instrument stets den sich wandelnden experimentellen Anforderungen entspricht.
Schnelle Reaktion auf ungewöhnliche experimentelle Herausforderungen
Ein Beispiel verdeutlicht den Wert dieser Zusammenarbeit. Während eines Projekts, das über die Standardanwendungsszenarien des Systems hinausging, stieß das Forschungsteam auf einen kritischen technischen Engpass.
„Die Anwendungstechniker von CIQTEK waren sofort vor Ort“, erinnert sich Bai. „Sie arbeiteten mit uns zusammen, um den experimentellen Ansatz zu verfeinern, und lieferten schnell ein maßgeschneidertes Software-Upgrade.“
Diese schnelle Reaktion ermöglichte es dem Team, das Experiment erfolgreich abzuschließen und demonstrierte, wie
Zusammenarbeit zwischen Universität und Industrie
kann den wissenschaftlichen Fortschritt direkt beschleunigen.
„In diesem Moment wurde uns erst richtig bewusst, was es bedeutet, einen Partner zu haben“, fügt Bai hinzu. „Nicht nur einen Ausrüstungslieferanten, sondern ein Team, das uns während des gesamten Innovationsprozesses begleitet.“
Blick in die Zukunft: Gemeinsam die In-situ-Materialforschung voranbringen
Die Zusammenarbeit zwischen dem Engineering and Materials Science Experimental Center und CIQTEK ist ein gutes Beispiel dafür, wie fortschrittliche wissenschaftliche Instrumente und enge Kooperation unabhängige Innovationen fördern können.
Als der
Gemeinsames Labor für High-End-In-situ-Elektronenmikroskopie
Sollte sich die Entwicklung fortsetzen, werden sich beide Seiten künftig verstärkt darauf konzentrieren
In-situ-Materialforschung im Zusammenhang mit Mechanik, Mikro- und Nanofabrikation sowie fortgeschrittenen experimentellen Methoden
Durch die fortgesetzte Zusammenarbeit wollen sie eine starke technische Unterstützung für hochrangige Forschung und künftige wissenschaftliche Durchbrüche gewährleisten.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
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