CIQTEK bei der Mikroskopie und Mikroanalyse (M&M) 2024, Nr. 1230

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit großem Strahl I CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches Modell des FE-SEM, ausgestattet mit einer hochhellen und langlebigen Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone. Das dreistufige elektromagnetische Linsendesign bietet erhebliche Vorteile bei analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Es ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nicht leitender Proben erleichtert.

Ultrahohe-Auflösungs-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM)Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahohes Auflösungsfesem mit optimiertem Säulendesign der Elektronenoptik, wodurch die Gesamtaberrationen um 30%reduziert werden und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm@1 kV erreicht werden Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es in fortschrittlicher Forschung für fortgeschrittene Nanostrukturmaterialien sowie die Entwicklung und Herstellung von hochtechnologischen Knoten-Halbleiter-IC-Chips vorteilhaft.

Hohe Auflösung bei geringer Anregung Das CIQTEK SEM5000Pro ist ein Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung spezialisiert ist. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptik-Technologie ermöglicht einen kreuzungsfreien Strahlengang zusammen mit einem elektrostatisch-elektromagnetischen Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte reduzieren den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Probenmenge effektiv reduziert Strahlenschäden.

Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die skalenübergreifende Abbildung von großvolumigen Proben CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die hochhelle Großstrahl-Stromelektronenkanone, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und ein elektromagnetisches und elektrostatisches Immersions-Kombinationsobjektiv um eine schnelle Bildaufnahme zu erreichen und gleichzeitig eine Auflösung im Nanomaßstab sicherzustellen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren großflächigen hochauflösenden Bildgebungsworkflow konzipiert. Die Abbildungsgeschwindigkeit kann mehr als fünfmal schneller sein als bei einem herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM).

Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation Das CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) beinhaltet Technologien wie „Super-Tunnel“-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien im Wolfram-Filament-Mikroskop wird die seit langem bestehende Auflösungsgrenze solcher REM übertroffen, sodass das Wolfram-Filament-REM Analyseaufgaben bei niedriger Spannung ausführen kann, die zuvor nur mit Feldemissions-REM möglich waren.

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB550 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niederspannung, hohe Auflösung“, um seine Analysefähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit äußerst stabilen und qualitativ hochwertigen Ionenstrahlen, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen. Der DB550 ist eine All-in-one-Nanoanalyse- und Fertigungs-Workstation mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Leistungsstarkes und universelles Wolframfilament-REM-Mikroskop Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop ist ein hervorragendes Allzweck-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Wolframfilamenten und herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis des Bildes bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine große Auswahl an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterbarkeiten macht.

120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.