In den Bereichen Biowissenschaften, Biomedizin, Lebensmittelkontrolle und Weichstoffforschung stellt die hochauflösende Abbildung hydratisierter und strahlenempfindlicher Proben seit jeher eine große Herausforderung dar. Herkömmliche Methoden der Probenvorbereitung wie chemische Fixierung, Dehydratation und Trocknung führen häufig zu Schrumpfung, Verformung oder Strukturschäden, wodurch die Ergebnisse vom tatsächlichen Zustand der Probe abweichen.
Durch die Nutzung seiner fortschrittlichen
Rasterelektronenmikroskopie
Technologie,
CIQTEK
hat eingeführt,
Kryo-SEM-Lösung
, das Tiefkühlgefrieren und Vakuumtransfer kombiniert. Dies ermöglicht eine zerstörungsfreie und hochpräzise mikroskopische Beobachtung biologischer und empfindlicher Proben vor Ort und „friert“ die mikroskopischen Details des Lebens förmlich ein.
Mit der Flüssigstickstoff-Schnellgefriertechnologie können Proben bei -210 °C sofort vitrifiziert werden, wobei ihre ursprüngliche Morphologie und chemische Zusammensetzung weitestgehend erhalten bleiben. Das integrierte Kryopräparationssystem kombiniert Gefrierbruch, Sublimationsbeschichtung und Niedertemperaturtransfer und vermeidet so die Komplexität und das Fehlerrisiko der herkömmlichen manuellen Präparation. Während des gesamten Prozesses werden die Proben unter kryogenen Vakuumbedingungen gehalten und in die SEM-Kryostufe überführt, wo hochauflösende Bildgebung bei -180 °C Elektronenstrahlschäden effektiv unterdrückt und die Bildqualität deutlich verbessert.
Kryopräpariertes Buchsbaumblatt mit intakter Blattaderstruktur
, während die unbehandelte Probe eine starke Schrumpfung aufweist.
Joghurt
Schimmel
Eine kryopräparierte Joghurtprobe zeigt deutlich Proteinnetzwerke und Pilzhyphen.
Darüber hinaus bietet das System eine hohe Kompatibilität und ist anpassbar über
CIQTEKs komplettes SEM-Sortiment
Und
Dual-Beam-FIBSEM-Systeme
, die unterschiedliche Anforderungen von der Routinebeobachtung bis zur fortgeschrittenen Analyse erfüllen.
Der
CIQTEK Kryo-SEM-Lösung
ist mehr als nur ein Instrumentarium. Es verkörpert einen wissenschaftlichen Ansatz, der sich der originalgetreuen Wiederherstellung der mikroskopischen Welt widmet. Es ermöglicht Forschern, technische Grenzen zu überwinden, wichtige Details im Mikromaßstab des Lebens zu erfassen und sowohl die Grundlagenforschung als auch die angewandte Entwicklung auf ein neues Niveau zu heben.
26.–30. September, Wuhan
Am
Chinesische Akademische Konferenz zur Elektronenmikroskopie 2025
, CIQTEK wird enthüllen
acht hochmoderne EM-Lösungen
.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
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