CIQTEK empfängt GSEM-Team für umfassende Schulung im Bereich Elektronenmikroskopie
CIQTEK empfängt GSEM-Team für umfassende Schulung im Bereich Elektronenmikroskopie
October 24, 2025
Diese Woche,
CIQTEK
freute sich, das Team unseres koreanischen Distributors GSEM bei der
CIQTEK Elektronenmikroskopfabrik
in Wuxi, China. An dem Besuch nahmen Mitarbeiter aus den Abteilungen Vertrieb, Anwendung und Service teil, die an einer Reihe intensiver und professioneller Schulungen zum Betrieb und zur Wartung von Elektronenmikroskopen teilnahmen.
Die CIQTEK Electron Microscope Factory dient dem Unternehmen als Produktions- und Schulungszentrum für Elektronenmikroskopiesysteme. Ausgestattet mit modernen Produktionsanlagen, Präzisionsmontagelinien und Demonstrationslaboren integriert die Fabrik Forschung und Entwicklung, Fertigung, Qualitätskontrolle und Anwenderschulung, um hohe Leistung und Zuverlässigkeit zu gewährleisten.
CIQTEK SEM
,
FIB-SEM
, Und
TEM
Produktlinien.
Die Schulung wurde von Herrn Gao, Leiter der Abteilung für Elektronenmikroskopielösungen bei CIQTEK, zusammen mit leitenden Ingenieuren des CIQTEK-Elektronenmikroskopieteams geleitet. Während des Programms erhielten die Teilnehmer systematische Anweisungen zu wichtigen Verfahren wie dem Backen der Ionenpumpe, der Überprüfung der Blendenposition, der Filamentzentrierung, der Praxis der hochauflösenden Bildgebung sowie der Installation und Kalibrierung von Zubehör.
Während der Woche arbeitete das GSEM-Team eng mit den CIQTEK-Ingenieuren zusammen, um sowohl theoretisches als auch praktisches Verständnis der Elektronenmikroskopie-Technologie von CIQTEK zu erlangen. Die Schulungen sollten sicherstellen, dass die Vertriebs- und Servicetechniker von GSEM über das erforderliche technische Fachwissen verfügen, um lokale Kunden in Korea zu unterstützen – von der Systeminstallation und -bedienung bis hin zur erweiterten Fehlerbehebung und Wartung.
Diese Schulung erweiterte nicht nur die technischen Fähigkeiten von GSEM, sondern stärkte auch die Partnerschaft zwischen CIQTEK und GSEM. Durch die kontinuierliche Zusammenarbeit in den Bereichen Produktwissen, Anwendungssupport und Kundenservice werden CIQTEK und GSEM gemeinsam professionellere, effizientere und zuverlässigere Lösungen für die
Koreanischer Markt für Elektronenmikroskopie
.
CIQTEK engagiert sich weiterhin dafür, globale Partner durch professionelle Schulungen, technische Zusammenarbeit und kontinuierliche Innovation im Bereich wissenschaftlicher Instrumente zu unterstützen.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
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