CIQTEK Rasterelektronenmikroskop für MLCC-Anwendungen
Keramikkondensatoren sind als eine Art grundlegende passive Komponenten ein unverzichtbarer Bestandteil der modernen Elektronikindustrie. Unter ihnen nehmen Chip-Mehrschicht-Keramikkondensatoren (MLCC) aufgrund ihrer Eigenschaften wie hoher Temperaturbeständigkeit, hoher Spannungsbeständigkeit, geringer Größe und großem Kapazitätsbereich mehr als 90 % des Marktes für Keramikkondensatoren ein und werden häufig in der Unterhaltungselektronik eingesetzt Industrie, einschließlich Haushaltsgeräte, Kommunikation, Automobilelektronik, neue Energie, industrielle Steuerung und andere Anwendungsbereiche.
Der Einsatz von CIQTEK SEM kann dabei helfen, die Fehleranalyse von MLCC abzuschließen, den Fehlerursprung durch Mikromorphologie zu finden, den Produktionsprozess zu optimieren und das Ziel einer hohen Produktzuverlässigkeit zu erreichen.
Anwendung von CIQTEK SEM in MLCC
MLCC besteht aus drei Teilen: Innenelektrode, Keramikdielektrikum und Endelektrode. Mit der kontinuierlichen Aktualisierung der Marktnachfrage nach elektronischen Produkten stellt die MLCC-Produkttechnologie auch den Entwicklungstrend hoher Kapazität, hoher Frequenz, hoher Temperatur- und Hochspannungsbeständigkeit, hoher Zuverlässigkeit und Miniaturisierung dar. Miniaturisierung bedeutet die Notwendigkeit, kleinere, gleichmäßigere Keramikpulver zu verwenden. Die Mikrostruktur des Materials bestimmt die endgültige Leistung, und der Einsatz eines Rasterelektronenmikroskops zur Charakterisierung der Mikrostruktur von Keramikpulvern, einschließlich Partikelmorphologie, Gleichmäßigkeit der Partikelgröße und Korngröße, kann zur kontinuierlichen Verbesserung des Herstellungsprozesses beitragen.
Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme verschiedener Arten von Bariumtitanat-Keramikpulvern /25kV/ETD
Rasterelektronenmikroskop-Bildgebung. Verschiedene Arten von Bariumtitanat-Keramikpulvern / 1 kV / Innenlinse
Hohe Zuverlässigkeit bedeutet, dass ein tieferes Verständnis des Fehlermechanismus erforderlich ist und daher eine Fehleranalyse unverzichtbar ist. Die Hauptursache für den Ausfall eines MLCC ist das Vorhandensein verschiedener mikroskopischer Defekte wie Risse, Löcher, Delamination usw., entweder äußerlich oder innerlich. Diese Mängel wirken sich direkt auf die elektrische Leistung und Zuverlässigkeit von MLCC-Produkten aus und stellen eine ernsthafte versteckte Gefahr für die Produktqualität dar. Der Einsatz eines Rasterelektronenmikroskops kann dabei helfen, die Fehleranalyse von Kondensatorprodukten abzuschließen, die Ursache des Fehlers anhand der mikroskopischen Morphologie zu finden, den Produktionsprozess zu optimieren und letztendlich das Ziel einer hohen Zuverlässigkeit des Produkts zu erreichen.
Das Innere des MLCC ist eine mehrschichtige Struktur. Ob jede Keramikschicht Mängel aufweist, die Dicke der mehrschichtigen Keramik gleichmäßig ist und ob die Elektroden gleichmäßig bedeckt sind, all dies wirkt sich auf die Lebensdauer des Geräts aus. Bei der Verwendung von SEM zur Beobachtung der internen Mehrschichtstruktur von MLCC oder zur Analyse ihrer internen Fehler ist es häufig erforderlich, eine Reihe von Vorbehandlungen an den Proben durchzuführen, bevor sie getestet werden können. Dazu gehören das Einbetten von Harz, das mechanische Mahlen, die leitfähige Behandlung durch einen Beschichter usw. Eine weitere Endbearbeitung kann auch mit einer Ionenmühle erfolgen. Die folgende Abbildung zeigt die mikroskopische Morphologie des Innenquerschnitts des MLCC, aufgenommen mit einem CIQTEK-Wolframfilament SEM3200. Wie in der Abbildung zu sehen ist, kann eine Delaminierung der dielektrischen Keramikschicht die Ursache für einen Geräteausfall sein.
MLCC-Abschnitt/15kV/BSED
MLCC-Abschnitt/20kV/BSED
In den letzten Jahren hat die Nachfrage nach MLCC mit der boomenden Entwicklung der Unterhaltungselektronik-, Kommunikationsausrüstungs- und Automobilindustrie eine neue Wachstumsrunde erlebt. Der Einsatz von CIQTEK SEM zur Charakterisierung der relevanten Morphologie und Zusammensetzungshomogenität von MLCC wird MLCC-Herstellern dabei helfen, die Entwicklung hoher Zuverlässigkeit aufrechtzuerhalten.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrStabil, vielseitig, flexibel und effizient Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multidetektortechnologie mit einem säulenintegrierten Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.
Erfahren Sie mehrAnalytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.
Erfahren Sie mehrHohe Auflösung bei geringer Anregung Der CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösender Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Spezialisiert auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptik-Technologie ermöglicht einen überkreuzungsfreien Strahlengang und ein elektrostatisch-elektromagnetisches Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte verringern den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Strahlenschäden an den Proben wirksam reduziert.
Erfahren Sie mehrUltrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Erfahren Sie mehrHohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).
Erfahren Sie mehrHochleistungs- und universelles Wolframfilament-REM Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop Das SEM3200 ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Erfahren Sie mehrUltrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Erfahren Sie mehr120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
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