CIQTEK wird an der 60. Jahrestagung der Texas Society for Microscopy (TSM 2026) teilnehmen.
CIQTEK wird an der 60. Jahrestagung der Texas Society for Microscopy (TSM 2026) teilnehmen.
January 15, 2026
CIQTEK
freut sich, seine Teilnahme an der
60. Jahrestagung der Texas Society for Microscopy (TSM)
, das am stattfinden wird
19.–20. Februar 2026
, bei
Die Universität von Texas in Austin, USA
Die
Anlässlich des 60-jährigen Jubiläums der Mikroskopie-Community bringt die TSM 2026 Forschende, Laborleiter und Branchenexperten zusammen, um über die Geschichte und Zukunft der Mikroskopie zu diskutieren. CIQTEK freut sich, Teil dieser bedeutenden Veranstaltung zu sein und mit der Mikroskopie-Community in Texas und den gesamten USA in Kontakt zu treten.
Unterstützung der fortgeschrittenen Mikroskopie mit praktischen, leistungsstarken EM-Lösungen
Auf der TSM 2026 wird CIQTEK sein wachsendes Portfolio präsentieren
Elektronenmikroskope (EM)
, konzipiert, um den sich wandelnden Bedürfnissen der akademischen Forschung, gemeinsam genutzter Einrichtungen und industrieller Labore gerecht zu werden.
Die EM-Produktlinie von CIQTEK
deckt ein breites Anwendungsgebiet ab, von der routinemäßigen Bildgebung bis hin zur fortgeschrittenen Materialcharakterisierung, einschließlich:
Wolframdraht-REM
bietet stabile Leistung und kostengünstige Lösungen für Lehrlabore und Routineanalysen.
CIQTEK konzentriert sich im gesamten Portfolio auf die Bereitstellung von
zuverlässige Bildgebungsleistung, intuitive Systembedienung und langfristiger Besitzwert
und hilft Laboren dabei, konsistente Ergebnisse ohne unnötige Komplexität zu erzielen.
Austausch mit der Mikroskopie-Community
CIQTEK betrachtet Konferenzen wie die TSM nicht nur als Gelegenheit zur Präsentation von Instrumenten, sondern auch als Plattform für einen zielführenden technischen Austausch. Das CIQTEK-Team freut sich darauf, während der Konferenz mit Anwendern aus den Bereichen Materialwissenschaften, Biowissenschaften und Industrieanwendungen über praktische Herausforderungen in der Mikroskopie, Systemauswahlkriterien und langfristige Betriebsanforderungen zu diskutieren.
Teilnehmer, die mehr über die EM-Lösungen von CIQTEK erfahren oder mögliche Kooperationen ausloten möchten, sind herzlich zu Gesprächen während des Treffens in Austin eingeladen!
Lokaler Support von CIQTEK USA
Um Kunden in Nordamerika besser bedienen zu können,
CIQTEK unterhält eine lokale Niederlassung in den Vereinigten Staaten.
, bietet regionalen Vertriebssupport, Anwendungsberatung und langfristigen Service für Anwender der Elektronenmikroskopie.
Für weitere Informationen zu den EM-Lösungen von CIQTEK oder um mit dem CIQTEK USA-Team in Kontakt zu treten, kontaktieren Sie uns bitte unter
info.usa@ciqtek.com
Die
120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
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