FESEM best price for sale
FESEM best price for sale

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop | SEM5000

CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden.

Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.

 

• Hochauflösende Bildgebung bei niedriger Beschleunigungsspannung.

• Das elektromagnetische Verbundobjektiv verbessert die Niederspannungsauflösung und ermöglicht die Beobachtung magnetischer Proben.

• Hochdruck-Tunneltechnologie (SuperTunnel) sorgt für niedrige Spannungsauflösung.

• Der elektronische Strahlengang ohne Kreuzung reduziert wirksam die Systemfehler und verbessert die Auflösung.

• Wassergekühlte Objektivlinse mit konstanter Temperatur, um die Stabilität, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit der Objektivlinsenfunktion sicherzustellen.

• Magnetisch abgelenktes Sechs-Loch-Apertursystem mit automatisch umschaltbaren Aperturen, keine mechanische Einstellung erforderlich, ermöglicht hochauflösende Bildgebung oder einen Analysemodus für große Strahlen durch schnelles Umschalten per Mausklick.

 

Schlüsselparameter Auflösung

0,9 nm bei 15 kV, SE

1,3 nm bei 1,0 kV, SE

0,8 nm bei 30 kV, STEM

Beschleunigungsspannung 20 V ~ 30 kV
Vergrößerung 1 ~ 2.500.000 x
Elektronenkanonentyp Hochhelle Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Probenkammer Vakuumsystem Vollautomatische Steuerung, ölfreies Vakuumsystem
Kamera Dual-Kameras (optische Navigation + Kammermonitor)
Bühnenbereich

X: 125 mm, Y: 125 mm, Z: 50 mm

T: -10°~ +90°, R: 360°

(*Optionale Version mit extragroßer Kammer verfügbar)

Detektoren und Erweiterungen Standard

Inlens SE-Detektor

Everhart-Thornley-Detektor (ETD)

Optional

Mittelwinkel-Rückstreuelektronendetektor mit flacher Einfügung

Automatischer einziehbarer Scan-Transmissionselektronendetektor STEM

Probenaustausch-Ladungsschleuse

Schneller Strahlaustaster

Energiedispersive Spektroskopie (EDS/EDX)

Elektronenrückstreubeugungsmuster (EBSD)

Elektronenstrahlinduzierter Strom (EBIC)

Kathodolumineszenz (CL)

In-situ-Zugbühne

Nano-Manipulator

Großflächiges Zusammenfügen von Bildern

Trackball- und Knopf-Bedienfeld

Software Sprache Englisch
Betriebssystem Windows
Navigation Nav-Cam, Gestennavigation
Automatische Funktionen Automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatischer Stigmator

 

Eine Nachricht hinterlassen
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Einreichen
Verwandte Produkte
fib sem microscopy

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB550 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niederspannung, hohe Auflösung“, um seine Analysefähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit äußerst stabilen und qualitativ hochwertigen Ionenstrahlen, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen. Der DB550 ist eine All-in-one-Nanoanalyse- und Fertigungs-Workstation mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Erfahren Sie mehr
fesem edx

Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Fordert die Grenzen heraus Der CIQTEK SEM5000X ist ein FESEM mit ultrahoher Auflösung und optimiertem Elektronenoptik-Säulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht . Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die fortgeschrittene nanostrukturelle Materialforschung sowie die Entwicklung und Herstellung von High-Tech-Node-Halbleiter-IC-Chips.

Erfahren Sie mehr
field emission sem price

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und meistert problemlos hochauflösende Bildgebungsherausforderungen für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multi-Detektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennen kann und gleichzeitig eine hochauflösende Leistung bietet. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern mit hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatische Stigmierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.

Erfahren Sie mehr
scanning electron microscope machine

Leistungsstarkes und universelles Wolframfilament-REM-Mikroskop Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop ist ein hervorragendes Allzweck-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Wolframfilamenten und herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis des Bildes bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine große Auswahl an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterbarkeiten macht.

Erfahren Sie mehr
Spitze

Eine Nachricht hinterlassen

Eine Nachricht hinterlassen
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Einreichen

Heim

Produkte

Plaudern

Kontakt