Ultrahochauflösendes FESEM | SEM5000X

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB500 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) nutzt die „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign mit niedriger Spannung und hoher Auflösung, um sicherzustellen die nanoskalige Analyse. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen und hochwertigen Ionenstrahl für die Nanofabrikation. FIB-SEM DB500 verfügt über einen integrierten Nanomanipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und 24 Erweiterungsanschlüsse, was es zu einer umfassenden Nanoanalyse- und Fertigungsplattform mit umfassenden Konfigurationen und Erweiterbarkeit macht .

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM), ausgestattet mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analyse.

Hochleistungsfähiges Wolframfilament-REM-Mikroskop mit hervorragender Bildqualität sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop verfügt über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es Benutzern ermöglicht, Proben zu charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse zu erkunden.

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