CIQTEK hat in Europa einen weiteren wichtigen Schritt nach vorne gemacht mit der Installation des SEM4000Pro Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) am SYNERGIE4 Demonstrations-Showroom In Frankreich . Der neue Aufbau ermöglicht es Forschern und industriellen Anwendern in Europa, hochauflösende Bildgebung, analytische Leistung und einfache Bedienung Das CIQTEK SEM4000Pro bietet eine hervorragende Bildqualität für die Beobachtung feiner Mikrostrukturen und unterstützt eine breite Palette von Anwendungen in den Bereichen Materialwissenschaft, Mikroelektronik und Forschung und Entwicklung. SYNERGIE4 ist CIQTEKs französischer Distributor und Dienstleister für fortschrittliche Mikroskopie- und Mikroanalyselösungen. Mit umfassender Erfahrung in der Elektronenmikroskopie und analytischen Instrumenten unterstützt SYNERGIE4 Universitäten, Forschungsinstitute und Industrielabore in ganz Frankreich mit maßgeschneiderten Lösungen, technischem Know-how und Schulungen. Jetzt verfügt das Demo-Center von SYNERGIE4 über ein voll funktionsfähiges CIQTEK SEM4000Pro und bietet Besuchern praktische Vorführungen, um seine Bildgebungsfunktionen, die intuitive Softwareschnittstelle und die Vielseitigkeit in verschiedenen Forschungsbereichen kennenzulernen. „Mit dem CIQTEK SEM4000Pro in unserem Showroom können wir unseren Kunden seine Bildgebungsleistung direkt präsentieren“, sagte ein Vertreter von SYNERGIE4. „Es ist eine großartige Ergänzung unserer Vorführeinrichtungen und ein wichtiger Schritt zur Erweiterung unseres Mikroskopie-Portfolios.“ Mit der Verfügbarkeit des SEM4000Pro in Frankreich können europäische Anwender seine Leistung direkt testen, unterstützt durch die lokale Expertise und die technischen Demonstrationsdienste von SYNERGIE4. Diese Zusammenarbeit markiert einen wichtigen Meilenstein in CIQTEKs kontinuierlichen Bemühungen, Verbesserung des Zugangs zu fortschrittlichen Elektronenmikroskopietechnologien in ganz Europa .

Mit der Weiterentwicklung feinerer Prozessknoten in der Halbleiterfertigung sind die Fehleranalyse auf Waferebene, die Fehlerortung und die Mikro-Nano-Fertigung zu Schlüsselfaktoren für die Verbesserung der Ausbeute geworden. CIQTEK stellt die 8-Zoll-Wafer-Dual-Beam-Vollgrößen-Verarbeitungslösung , das hochauflösende Bildgebung und präzise Ionenstrahlverarbeitung kombiniert, um ein „Beobachtungs-Analyse-Schneiden“ über den gesamten Wafer zu erreichen und so eine starke technische Unterstützung für fortschrittliche Halbleiterprozesse bietet. Diese Lösung verfügt über einen hochpräzisen Probentisch mit 150 mm Hub, der die zerstörungsfreie Beobachtung und Bearbeitung von 8-Zoll-Wafern ermöglicht. Ein externes optisches Navigationssystem und intelligente Antikollisionsalgorithmen gewährleisten eine schnelle und präzise Waferpositionierung sowie einen sicheren Betrieb. Das System ist mit einer Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone ausgestattet, die eine Auflösung von 0,9 nm bei 15 kV und eine Ionenstrahlauflösung von 3 nm bei 30 kV bietet und Defekterkennung, Querschnittsanalyse und die Herstellung von Mikrostrukturen im Nanomaßstab ermöglicht. Hauptvorteile: 150-mm-Verfahrtisch: Kombiniert lange Wege mit hoher Präzision für einen großen Beobachtungsbereich. Hervorragende Kompatibilität mit Vorrichtungen unterschiedlicher Größe. Die robuste Struktur gewährleistet Waferstabilität und schnelles, zuverlässiges Laden. 8-Zoll-Schnellwechsel: Intelligentes, gewichtstragendes Design mit Gleitbasis für Stabilität und Haltbarkeit. Volle Größenkompatibilität: Unterstützt 2/4/6/8-Zoll-Wafer. Schneller Probenwechsel: Vakuumpumpen und Probenladen innerhalb einer Minute. Software und Kollisionsschutz: Vollautomatische intelligente Navigation mit präziser Bewegung und Positionierung. Koordinierte Mehrachsenbewegung zur Beobachtung des gesamten Wafers. Intelligenter Kollisionsschutz: Flugbahnsimulation und algorithmische Raumberechnungen zur Risikovermeidung. Mehrfache Echtzeitüberwachung: Echtzeitüberwachung der Waferposition aus mehreren Winkeln. Externe optische Navigation: Das ultrastabile Strukturdesign unterdrückt Bildverwacklungen. Hochauflösende Bildgebung mit präzisem Sichtfeld für die Vollwaferanzeige. Professionelle Blendschutzbeleuchtung reduziert die Reflexion auf der Waferoberfläche. Wafer-Beobachtungsbereich CIQTEK-Lösung für Zweistrahl-Elektronenmikroskope kombiniert herausragende Hardware mit intelligenten Softwaresystemen und ermöglicht so eine effiziente Fehlererkennung und Prozessoptimierung durch Helligkeits- und Kontrastanpassung mit nur einem Klick, Autofokus und Bildausgabe in mehreren Formaten. So können Benutzer die gesamte Aufgabenkette von der Fehlererkennung bis zur Prozessoptimierung abschließen.

In den Biowissenschaften ist die Durchführung hochpräziser und groß angelegter 3D-Struktur- und Dynamikanalysen biologischer Proben wie Zellen und Gewebe zum Schlüssel zur Überwindung von Forschungsengpässen geworden. CIQTEK hat eine Multi-Technologie-Route Volumetrische Elektronenmikroskopie (VEM) Lösung, Integration SS-SEM, SBF-SEM und FIB-SEM . Dies bietet eine umfassende, leistungsstarke und intelligente Plattform für die biologische 3D-Rekonstruktion und hilft Forschern, die Geheimnisse des Lebens auf Mikroebene zu lüften. Drei anspruchsvolle technische Routen 01. SS-SEM Hochgeschwindigkeitsbildgebung Durch die Kombination der externen Serienschnitte mit dem CIQTEK Hochgeschwindigkeits-SEM HEM6000-Bio Diese Lösung ermöglicht eine schnelle Bildgebung und automatisierte Erfassung großvolumiger Proben. Die Effizienz der Datenerfassung ist mehr als fünfmal höher als bei herkömmlichen SEM und unterstützt einen unbeaufsichtigten Hochdurchsatzbetrieb rund um die Uhr. 02. SBF-SEM In-Situ-Schnitt Basierend auf dem CIQTEK ultrahochauflösendes SEM5000X Mit einem integrierten Mikrotom ermöglicht dieser Ansatz In-situ-Schnitt- und Bildgebungszyklen. Er bietet eine einfache Bedienung, einen hohen Automatisierungsgrad und vermeidet effektiv Oberflächenkontaminationen. 03. FIB-SEM Hochpräzise Analyse Durch die Nutzung fokussierter Ionen- und Elektronenstrahl-Doppelstrahlsysteme liefert dieser Ansatz eine Auflösung im Nanomaßstab auf der Z-Achse zur Analyse feiner Strukturen wie Organellen und Membranen. Er ermöglicht eine 3D-Rekonstruktion vor Ort ohne physisches Schneiden. Intelligente Integration und breite Anwendungsmöglichkeiten Die CIQTEK VEM-Lösung integriert KI-Algorithmen Und eine mehrsprachige Softwareplattform , unterstützt einen vollständigen Arbeitsablauf von der Datenerfassung, Bildausrichtung und Segmentierung bis hin zur 3D-Visualisierung. Es ist mit gängiger Rekonstruktionssoftware kompatibel und verkürzt die Lernkurve erheblich. Die Anwendungsfälle erstrecken sich über die Neurowissenschaften, Zellbiologie und pathogene Mikrobiologie und bieten ein leistungsstarkes Instrument zur Förderung der Biowissenschaftsforschung.