CIQTEK Hosts Italian Partner Media System Lab for Award Ceremony and Strategic Visit
CIQTEK Hosts Italian Partner Media System Lab for Award Ceremony and Strategic Visit
November 13, 2025
CIQTEK was honored to welcome our esteemed Italian partner, Media System Lab, to CIQTEK for an inspiring visit and strategic collaboration. The visit marked another milestone in the strong partnership between the two companies, highlighting a shared commitment to advancing scientific innovation and excellence.
The journey began at CIQTEK Electron Microscopy Factory in Wuxi, where the Media System Lab team was deeply impressed by the scale, precision, and professionalism of CIQTEK’s electron microscopy production and R&D operations. They explored the full manufacturing process, witnessed the craftsmanship behind CIQTEK’s cutting-edge instruments, and gained first-hand insight into the company’s commitment to quality and innovation. Our technical experts also provided in-depth sessions on product knowledge and future development trends, further strengthening mutual understanding and trust.
Group photo at the CIQTEK Electron Microscopy Factory
Following the visit to CIQTEK Electron Microscopy Factory, the delegation traveled to CIQTEK's headquarters in Hefei, where both teams engaged in inspiring discussions on market promotion, customer engagement, and long-term strategies for expanding CIQTEK’s presence in Italy. The meetings involved Mr. Will Zhang, Head of the CIQTEK Electron Microscopy Business Group; Mr. Arvin Chen, Head of CIQTEK Overseas Business Group; and Mr. Yao, Head of the CIQTEK FIB PBU, fostering deeper alignment in technical support, service collaboration, and strategic planning.
Showing Media System Lab around the CIQTEK Exhibition Center
During the visit, CIQTEK CEO Dr. Yu He presented the "CIQTEK Distinguished Partner Award 2025" to Media System Lab, in recognition of their outstanding achievements, unwavering dedication, and exemplary performance. Over the past year, Media System Lab has played a key role in helping CIQTEK deliver nearly ten electron microscopes to Italian researchers and institutions, driving remarkable sales growth and significantly strengthening CIQTEK's brand presence and reputation in the local market.
CIQTEK Distinguished Partner Award 2025 Ceremony
The visit not only celebrated Media System Lab's exceptional contributions but also highlighted CIQTEK's global vision, commitment to excellence, and dedication to empowering partners worldwide. Together, CIQTEK and Media System Lab will continue to expand the reach of CIQTEK’s electron microscopy solutions, enabling more laboratories across Italy, Europe, and beyond to achieve breakthrough research and technological advancements. This collaboration underscores a shared pursuit of scientific progress, innovation, and long-term success in the field of electron microscopy and beyond.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.