CIQTEK bringt In-situ-Heizchip-Lösung für hochpräzise Analysen auf den Markt

In den Bereichen der Forschung zur Leistungsfähigkeit von Hochtemperaturmaterialien und der Analyse von Phasenübergangsmechanismen gelingt es herkömmlichen externen Heizmethoden häufig nicht, eine präzise Temperaturregelung im Mikrobereich mit einer Echtzeitbeobachtung zu kombinieren.

CIQTEK hat in Zusammenarbeit mit dem Micro-Nano Center der University of Science and Technology of China ein innovatives In-situ-Heizchip-Lösung Durch die Integration von MEMS-Heizchips mit Zweistrahl-Elektronenmikroskopen ermöglicht diese Lösung eine präzise Temperaturregelung (von Raumtemperatur bis 1100 °C) und mikrodynamische Analyse von Proben und bietet ein neues Werkzeug zum Studium des Materialverhaltens in Hochtemperaturumgebungen.

Diese Lösung verwendet Die CIQTEK Zweistrahl-SEM Und spezialisierte MEMS-Heizchips , mit einer Temperaturregelgenauigkeit von besser als 0,1 °C und einer Temperaturauflösung von besser als 0,1 °C. Das System zeichnet sich außerdem durch eine ausgezeichnete Temperaturgleichmäßigkeit und geringe Infrarotstrahlung aus, was eine stabile Analyse bei hohen Temperaturen gewährleistet. Das System unterstützt verschiedene Charakterisierungstechniken während des Erhitzens, darunter die Beobachtung der Mikroregionenmorphologie, die EBSD-Kristallorientierungsanalyse und die EDS-Zusammensetzungsanalyse. Dies ermöglicht ein umfassendes Verständnis von Phasenübergängen, Spannungsentwicklung und Zusammensetzungsmigration unter thermischen Einflüssen.

Das System arbeitet ohne Unterbrechung des Vakuums und erfüllt alle Prozessanforderungen für die Probenvorbereitung und -charakterisierung (In-situ-Mikroregion-EBSD).

Das integrierte Workflow-Design deckt den gesamten Prozess ab, von der Probenvorbereitung (Ionenstrahlverarbeitung, Nanomanipulatorextraktion) bis hin zu In-situ-Schweiß- und Heiztests. Das System unterstützt den Mehrwinkelbetrieb und verfügt über einen 45°-Heizchip und eine 36°-Kupfergitterposition, die den komplexen experimentellen Anforderungen gerecht werden. Das System wurde erfolgreich in der Hochtemperatur-Leistungsforschung von Legierungen, Keramiken und Halbleitern eingesetzt und hilft Benutzern, tiefere Einblicke in die Materialreaktionen in realen Umgebungen zu gewinnen.

26.–30. September, Wuhan | Chinesische Nationalkonferenz für Elektronenmikroskopie 2025
Die acht wichtigsten Elektronenmikroskopielösungen von CIQTEK werden vorgestellt!