CIQTEK bringt eine Lösung für mechanische Tests vor Ort auf den Markt – eine offene F&E-Plattform für die Multi-Szenario-Forschung

Die Forschung zum mikroskopischen Verhalten von Materialien tritt in eine neue Ära der Multi-Szenario-Kopplung und dynamische Charakterisierung vor Ort . CIQTEK hat ein innovatives Lösung für mechanische Tests vor Ort , entwickelt mit herausragender Offenheit und Kompatibilität. Es ermöglicht die nahtlose Integration der gesamten Palette von CIQTEK Elektronenmikroskope mit gängigen In-situ-Testgeräten und bietet eine flexible und effiziente Plattform für gekoppelte Analysen in verschiedenen Forschungsszenarien.

Die Lösung durchbricht die Beschränkungen geschlossener Systeme und integriert alle kritischen Elemente, die für In-situ-EM Anpassungsfähigkeit, mit:

• Hoher Strahlstrom : >100 nA, ideal für schnelle EDS/EBSD-Analyse

• Großer Raum : 360 × 310 × 288 mm (L × B × H)

• Hohe Tragfähigkeit : 5 kg (bis zu 10 kg mit Sondervorrichtungen)

• Multi-View-CCDs : Gewährleistung der Systemsicherheit im In-situ-Betrieb

• Mehrere Schnittstellen : Unterstützung von kundenspezifischem Flanschzubehör

• Vorabnahme : vollständiges Debuggen des Zubehörs vor der Auslieferung, um die vollständige Funktionalität ohne Probleme bei der Installation vor Ort sicherzustellen

Die Lösung kann konfiguriert werden über CIQTEKs komplettes Sortiment an Elektronenmikroskopieprodukten , einschließlich CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , DB550 Dual-Beam-Systeme und mehr. Es bietet außerdem nahtlose Kompatibilität mit Zugprüfständen, Heiztischen, Nanoindentern und elektrochemischen Arbeitsstationen weltweit führender Anbieter. Diese offene Architektur ermöglicht es Forschern, die am besten geeigneten Geräte flexibel zu kombinieren und so die experimentelle Leistung zu maximieren.

CIQTEKs In-situ-Bühnenlösung unterstützte Kunden bei der Veröffentlichung eines hochwirksames Papier (DOI: 10.1126/science.adq6807).

CIQTEKs mechanische In-situ-Lösung unterstützt außerdem die Mehrfeldkopplung (mechanisch, thermisch, elektrochemisch) und ermöglicht so die Echtzeitbeobachtung von Materialien im Nanomaßstab unter komplexen Umgebungsbedingungen. Durch die Synchronisierung hochauflösender Bilder mit In-situ-Signalen können Forscher kritische Phänomene wie Rissausbreitung, Phasenübergänge und Grenzflächenreaktionen präzise erfassen.

Mit einem Temperaturbereich von -170 bis 1200 °C, erweiterter Laststeuerung und schnellen Reaktionssystemen simuliert es präzise die Einsatzbedingungen von Materialien in verschiedenen Branchen. In Kombination mit EBSD und EDS liefert es umfassende Datensätze zum Verständnis des Materialverhaltens unter gekoppelten Reizen.

Erfolgreich angewendet in Materialien für die Luft- und Raumfahrt, neue Energiegeräte und biomedizinische Materialien Diese Lösung demonstriert die außergewöhnliche Kompatibilität und Skalierbarkeit von CIQTEK bei fortschrittlichen Elektronenmikroskopieplattformen.