Das Rasterelektronenmikroskop CIQTEK erleichtert die Forschung an fortschrittlichen Energiespeichermaterialien
Das Rasterelektronenmikroskop CIQTEK erleichtert die Forschung an fortschrittlichen Energiespeichermaterialien
August 08, 2023
Die Energiespeicherung gilt als letzter Schritt in der Entwicklung neuer Energien und ist der Schlüssel dafür, ob neue Energien eine wichtige Rolle spielen und das Ziel der „Kohlenstoffneutralität“ verwirklichen können.
Als neuartige Energiespeichertechnologie können Superkondensatoren mit hoher Leistungsdichte, niedriger Temperatur, langer Lebensdauer, großem Betriebstemperaturbereich und anderen Eigenschaften in großem Umfang in Fahrzeugen mit neuer Energie sowie in der Windkraft- und Photovoltaik-Stromerzeugung eingesetzt werden B. Unterhaltungselektronik, hat in den letzten Jahren große Aufmerksamkeit erregt. Um die Leistung von Superkondensatoren zusätzlich zur bestehenden Technologie weiter zu verbessern, aber auch die Entwicklung neuer Technologien und neuer Materialien in Betracht zu ziehen, betreibt das Shandong Advanced Electromagnetic Drive Technology Research Institute of Researchers Sun tiefgreifende und umfangreiche Forschungen zu diesem Thema.
Um den Forschungsbedarf an verschiedenen Arten von Energiespeichermaterialien zu decken, stellte die Forschergruppe Sun im Oktober 2021 ein von CIQTEK unabhängig entwickeltes Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) vor. Es versteht sich, dass die Rasterelektronenmikroskopie ein wichtiges Forschungsinstrument in der Materialwissenschaft ist, das hauptsächlich zur Untersuchung der Materialstruktur, Morphologie, Zusammensetzung, Eigenschaften und Fehleranalyse eingesetzt wird. Zu den vom Institut mit dem CIQTEK SEM getesteten Materialien gehören derzeit Aktivkohle, Metalloxide, Weichkohlenstoff, Hartkohlenstoff und andere Elektrodenmaterialien. Gleichzeitig analysiert die Gruppe mithilfe von REM auch die Ausfallursachen von Superkondensatoren und Batteriemonomeren.
„Das vorherige Elektronenmikroskop erforderte die Aufnahme eines Fotos mit einem Mobiltelefon, um sich vor der Auswahl der Probe den Ort der Probe zu merken. Das Rasterelektronenmikroskop von CIQTEK verfügt über eine optische Navigationsfunktion, die es sehr intuitiv macht, die Probe nach dem Einsetzen zu finden.“ Im Vergleich zu früheren Elektronenmikroskopen ist das größte Merkmal des Rasterelektronenmikroskops von CIQTEK die komfortable Bedienung und der hohe Automatisierungsgrad. Alle Vorgänge können per Mauszeiger und Klick ausgeführt werden, ohne dass die Maus und der Knopf bedient werden müssen Es ist bequem, die Probe zu bewegen und auszuwählen, und der Einstieg ist sehr einfach. Als Forscher Sun über die Erfahrungen mit der Verwendung von CIQTEK SEM sprach, nannte er dieses Beispiel.
Diese perfekte Automatisierungsfunktion eignet sich für Studenten ohne allzu große Erfahrung und optimiert die Kosten für die Personalschulung erheblich. Aufgrund der guten Erfahrungen mit dem Rasterelektronenmikroskop freut sich Forscher Sun auf die Entwicklung des CIQTEK-Rasterelektronenmikroskops.
Analytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Hohe Auflösung bei geringer Anregung Der CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösender Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Spezialisiert auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptik-Technologie ermöglicht einen überkreuzungsfreien Strahlengang und ein elektrostatisch-elektromagnetisches Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte verringern den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Strahlenschäden an den Proben wirksam reduziert.
Hochleistungs- und universelles Wolframfilament-REM Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop Das SEM3200 ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Hohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).
Stabil, vielseitig, flexibel und effizient Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multidetektortechnologie mit einem säulenintegrierten Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.
120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
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