Zur Unterstützung der Implementierung führte das Ingenieurteam von CIQTEK eine umfassende Schulung vor Ort für das Team von JH Technologies durch. Diese umfasste detaillierte Systembedienung, Anwendungsdemonstrationen und auf reale Anwendungsfälle zugeschnittene technische Diskussionen. Die Zusammenarbeit verbesserte die Fähigkeiten des JH-Teams, CIQTEK-Instrumente zu präsentieren und zu unterstützen.
Im Anschluss an die Lieferung veranstaltete JH Technologies eine erfolgreiche
Tag der offenen Tür
am Standort Fremont mit Live-Demonstrationen beider Systeme. Die Veranstaltung zog zahlreiche Fachleute aus Wissenschaft und Industrie an und stieß auf großes Interesse und positives Feedback. Ermutigt durch den Erfolg plant JH Technologies in Kürze weitere Open House-Veranstaltungen, um die fortschrittlichen Bildgebungslösungen von CIQTEK weiter zu bewerben.
Bewährte Bildgebungstechnologie für anspruchsvolle Anwendungen
Der
SEM3300
kombiniert eine traditionelle Wolfram-Glühfadenquelle mit moderner Optik und bietet hochauflösende Leistung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen. Es stellt eine leistungsstarke und dennoch benutzerfreundliche Lösung für Routineanalysen und Forschung dar.
Der
SEM5000X
Dank ultrahochauflösender Bildgebung und fortschrittlicher Automatisierungsfunktionen eignet es sich ideal für die Materialwissenschaft, Halbleiterinspektion und Nanotechnologieforschung. Beide Systeme bieten intuitive Benutzeroberflächen und flexible Konfigurationsmöglichkeiten für unterschiedliche Anwendungsanforderungen.
Ausblick
Die Zusammenarbeit von CIQTEK mit JH Technologies spiegelt die gemeinsame Vision wider, erstklassige SEM-Instrumente zu liefern, unterstützt durch starke lokale Expertise. Durch die Kombination von Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Zugänglichkeit gewinnt CIQTEK schnell an Bedeutung bei US-Anwendern in Forschung, Fertigung und Bildung.
Aleks Zhang, stellvertretender Direktor der Overseas Business Group bei CIQTEK, kommentierte: „Wir sind stolz, unsere SEM-Instrumente in den Händen eines so professionellen und kompetenten Partners zu wissen. Die Dynamik auf dem US-Markt ist stark, und wir sind bestrebt, unsere Unterstützung für lokale Kunden durch die enge Zusammenarbeit mit Distributoren wie JH Technologies zu intensivieren.“
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
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