CIQTEK präsentiert Lösungen für die Elektronenmikroskopie auf der Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026 in den USA.
CIQTEK präsentiert Lösungen für die Elektronenmikroskopie auf der Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026 in den USA.
March 18, 2026
CIQTEK
nahm an der
TMS-Jahrestagung und Ausstellung 2026
Die Konferenz fand vom 15. bis 19. März 2026 in San Diego, Kalifornien, USA, statt. Unser US-Team und unser lokaler Vertriebspartner begrüßten die Besucher.
Stand Nr. 307
, wo wir unsere neueste
Lösungen für die Elektronenmikroskopie
für Anwendungen in der Materialwissenschaft.
Über TMS 2026
Organisiert von
Die Minerals, Metals & Materials Society (TMS)
Diese jährliche Tagung ist ein zentrales Ereignis für die globale Materialwissenschaftsgemeinschaft. Sie bringt Forscher, Ingenieure und Fachleute aus der Industrie zusammen, die in Bereichen wie Metallurgie, fortgeschrittene Werkstoffe, additive Fertigung und Charakterisierungstechnologien tätig sind.
Die Veranstaltung bietet eine hervorragende Plattform für den Austausch von Ideen, die Entdeckung neuer Technologien und die Diskussion realer Herausforderungen in der Materialforschung und -produktion.
Maßgeschneiderte SEM-Lösungen für die Materialforschung
CIQTEK präsentierte Lösungen für die Elektronenmikroskopie, die für ein breites Spektrum materialwissenschaftlicher Anwendungen entwickelt wurden.
Unsere Systeme eignen sich gut für:
Mikrostrukturanalyse von Metallen und Legierungen
Fehleranalyse und Defektuntersuchung
Charakterisierung von Pulvern und Partikeln
Additive Fertigung und Forschung zu neuen Materialien
Viele Besucher zeigten besonderes Interesse daran, wie CIQTEK-Systeme eine stabile Bildgebungsleistung mit einfacher Bedienung verbinden. Für Labore, die Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Budget in Einklang bringen müssen, ist diese Kombination besonders wichtig.
Wir führten außerdem ausführliche Gespräche mit Anwendern über ihre täglichen Herausforderungen, wie die Verbesserung der Bildgebungseffizienz, die Vereinfachung von Arbeitsabläufen und den Umgang mit komplexen Proben. Diese Gespräche helfen uns, unsere Lösungen besser an die tatsächlichen Anwendungsbedürfnisse anzupassen.
Starke lokale Präsenz und Unterstützung in den USA
Die Teilnahme an der TMS 2026 ist Teil der umfassenderen Strategie von CIQTEK, ihr Geschäft mit Elektronenmikroskopie auf dem US-Markt auszubauen.
Wir bieten:
A
US-amerikanisches Demozentrum
zur praktischen Beurteilung
Technischer Support und Anwendungsunterstützung vor Ort in den USA
Schnellere Reaktionszeiten für Service und Schulungen
Wir investieren weiterhin in lokale Teams, Infrastruktur und Partnerschaften, um Forschende und Anwender aus der Industrie besser zu unterstützen. Durch die Kombination von wettbewerbsfähiger Technologie mit lokalem Service will CIQTEK die hochwertige Elektronenmikroskopie in ganz Nordamerika zugänglicher machen.
Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Bitte kontaktieren Sie uns für weitere Informationen, fordern Sie ein Angebot an oder buchen Sie eine Online-Demo! Wir werden Ihnen so schnell wie möglich antworten.
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