CIQTEK präsentiert fortschrittliche SEM-Technologie und lokalen Support in den USA auf der SEMS 2026

Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.

Stabil, vielseitig, flexibel und effizient Der CIQTEK SEM4000X ist stabil, vielseitig, flexibel und effizient Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) Es erreicht eine Auflösung von 1,8 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedenste Probenarten. Durch einen Ultra-Strahlverzögerungsmodus lässt sich die Auflösung bei niedrigen Spannungen weiter verbessern. Das Mikroskop nutzt Mehrdetektortechnologie. Ein in der Säule integrierter Elektronendetektor (UD) kann SE- und BSE-Signale erfassen und liefert gleichzeitig eine hohe Auflösung. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält einen Kristallszintillator und Photomultiplier-Röhren und bietet dadurch eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern von exzellenter Qualität führt. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastanpassung, Autofokus, automatische Stigmatisierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern in ultrahoher Auflösung ermöglichen.

Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.