CIQTEK nimmt am GLMS-Jahrestreffen 2026 in Michigan, USA, teil
CIQTEK nimmt am GLMS-Jahrestreffen 2026 in Michigan, USA, teil
September 29, 2026
CIQTEK wird an der Jahrestagung 2026 der Great Lakes Microscopy Society (GLMS) teilnehmen am 9. Oktober 2026, an der Michigan Technological University in Houghton, Michigan.
Das Treffen bringt Forscher, Studenten und Fachleute aus dem Bereich der Mikroskopie zusammen, die in den Bereichen Elektronenmikroskopie, Mikroanalyse, Materialwissenschaften und biologische Forschung tätig sind.
Treffen Sie das U.S. EM-Team von CIQTEK
Auf der GLMS 2026 wird CIQTEK seine Elektronenmikroskopie-Lösungen für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen präsentieren.
Unser U.S. Elektronenmikroskopie-Team wird vor Ort sein, um sich mit den Teilnehmern auszutauschen und reale Mikroskopie-Anwendungen sowie Workflow-Anforderungen zu besprechen.
Erfahrene EM-Lösungsmanager stehen ebenfalls zur Verfügung, um technische Fragen zu beantworten und Forschern dabei zu helfen, geeignete Mikroskopielösungen für ihre Labore zu finden.
Datum: 9. Oktober 2026 Ort: Michigan Technological University, Houghton, Michigan, USA
Hochleistungs- und Universal-SEM mit Wolframfilament Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur sorgt für eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Hohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).
Ga + Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“, um seine analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga + Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen zur Gewährleistung der Nanofabrikationsfähigkeit. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -herstellung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
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