Discover CIQTEK Flagship Technologies at JASIS 2025, Booth 7B-407

Ga+ Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die Supertunnel-Elektronenoptik-Technologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign. Die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“ gewährleistet die analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen, um die Nanofabrikation zu gewährleisten. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -fertigung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.

Hohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).

X-Band-Tischspektrometer für Elektronenspinresonanz oder Elektronenspinresonanz (EPR, ESR) Der CIQTEK EPR200M ist ein neu gestaltetes Tisch-EPR-Spektrometer spezialisiert auf die qualitative und quantitative Analyse von freie Radikale, Übergangsmetallionen, Materialdotierung und Defekte . Es ist ein hervorragendes Forschungsinstrument für die Echtzeitüberwachung chemischer Reaktionen, die eingehende Bewertung von Materialeigenschaften und die Erforschung von Schadstoffabbaumechanismen in den Umweltwissenschaften. Der EPR200M zeichnet sich durch sein kompaktes Design aus und integriert Mikrowellenquelle, Magnetfeld, Sonde und Hauptsteuerung optimal. Dies gewährleistet Empfindlichkeit und Stabilität und ist gleichzeitig für vielfältige experimentelle Anforderungen geeignet. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht auch Einsteigern einen schnellen Einstieg und macht das EPR-Gerät besonders benutzerfreundlich. ★ Senden Sie unseren Experten eine E-Mail, um individuelle Lösungen, Angebote oder ausführliche Broschüren anzufordern: info@ciqtek.com

Ultrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.

Ultrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.