Entdecken Sie die Pollenmikromorphologie – Anwendungen des Rasterelektronenmikroskops (REM).
In der wissenschaftlichen Forschung finden Pollen ein breites Anwendungsspektrum. Laut Dr. Limi Mao vom Nanjing-Institut für Geologie und Paläontologie der Chinesischen Akademie der Wissenschaften ist es durch die Extraktion und Analyse verschiedener im Boden abgelagerter Pollen möglich, zu verstehen, von welchen Elternpflanzen sie jeweils stammen, und daraus Rückschlüsse auf die Umwelt und das Klima zu ziehen damals. Im Bereich der botanischen Forschung liefern Pollen vor allem mikroskopische Referenznachweise für eine systematische Taxonomie. Interessanter ist, dass Pollennachweise auch in strafrechtlichen Ermittlungsfällen eingesetzt werden können. Die forensische Palynologie kann die Fakten eines Verbrechens effektiv bestätigen, indem sie Pollenspektrum-Beweise auf der Begleitkleidung des Verdächtigen und am Tatort verwendet. Im Bereich der geologischen Forschung werden Pollen häufig zur Rekonstruktion der Vegetationsgeschichte, zur früheren Ökologie und für Studien zum Klimawandel verwendet. In archäologischen Studien zur Erforschung früher menschlicher landwirtschaftlicher Zivilisationen und Lebensräume können Pollen Wissenschaftlern helfen, die Geschichte der frühen menschlichen Domestizierung von Pflanzen zu verstehen, welche Nahrungspflanzen angebaut wurden usw.
Abb. 1 3D-Pollenmodellbild (aufgenommen von Dr. Limi Mao, Produkt entwickelt von Dr. Oliver Wilson)
Die Größe von Pollen variiert zwischen einigen Mikrometern und mehr als zweihundert Mikrometern, was die Auflösung der visuellen Beobachtung übersteigt und den Einsatz eines Mikroskops zur Beobachtung und Untersuchung erfordert. Pollen kommen in einer Vielzahl von Morphologien vor, einschließlich Variationen in Größe, Form, Wandstruktur und Verzierung. Die Verzierung von Pollen ist eine der wichtigsten Grundlagen zur Identifizierung und Unterscheidung von Pollen. Die Auflösung des optischen biologischen Mikroskops unterliegt jedoch physikalischen Einschränkungen. Es ist schwierig, die Unterschiede zwischen verschiedenen Pollenornamenten genau zu beobachten, und selbst die Ornamentik einiger kleiner Pollen kann nicht beobachtet werden. Daher müssen Wissenschaftler ein Rasterelektronenmikroskop (REM) mit hoher Auflösung und großer Schärfentiefe verwenden, um ein klares Bild der morphologischen Merkmale der Pollen zu erhalten. Bei der Untersuchung fossiler Pollen ist es möglich, die spezifischen Pflanzen zu identifizieren, zu denen der Pollen gehört, um so die Vegetations-, Umwelt- und Klimainformationen der damaligen Zeit genauer zu verstehen.
Die Mikrostruktur von Pollen
Kürzlich haben Forscher das CIQTEK Tungsten Filament SEM3100 und das CIQTEK Field Emission SEM5000 verwendet, um eine Vielzahl von Pollen mikroskopisch zu beobachten .
Abb. 2 CIQTEK Wolframfilament SEM3100 und Feldemission SEM5000
1. Kirschblüte
Pollenkörner kugelig-länglich. Bei drei Porenrillen (ohne behandelten Pollen sind die Poren nicht sichtbar) erreichen die Rillen beide Pole. Außenwandung mit Streifenornamentik.
2. Chinesische Veilchenkresse (Orychophragmus violaceus)
Die Pollenmorphologie der Chinesischen Veilchenkresse ist ellipsoidisch mit drei Rillen, die Oberfläche weist ein netzartiges Muster auf und die Maschenweite variiert.
3. Ottelia
Pollenkörner sind rundlich und weisen auf der Oberfläche stachelartige Vorsprünge auf.
4. Lilie
Pollenkörner haben eine ellipsoide Form, in der Polarebene ellipsoid und in der Äquatorialebene eine Bootsform. Bei den Pollenkörnern handelt es sich überwiegend um einfach gerillte Pollenkörner, die sich bis zu beiden Enden erstrecken und an der Außenwand kurze Stäbchen aufweisen, die in einer netzartigen Skulptur angeordnet sind.
5. Formosan-Gummi
Pollenkörner sind kugelförmig, porös und haben Porenmembranen.
6. Winterjasmin
Pollenkörner sind länglich oval, mit drei Porenrillen (manchmal sind die Poren unauffällig eingekerbt) und die Rillen sind so lang wie beide Pole. Die Oberfläche der Außenwand weist eine deutliche Netzskulptur auf, die Maschenweite variiert und ist unregelmäßig geformt.
7. Papierbusch
Pollenkörner sind kugelförmig mit körnigen Vorsprüngen an der Außenwand und einem Durchmesser von 10–40 μm.
8. Pflaumenblüte
Der Pollen hat eine längliche Form mit gestreiften Außenwänden.
BESONDEREN DANK
Einige Pollenproben und Pflanzenbilder zur Verfügung gestellt von Dr. Limi Mao, Nanjing Institut für Geologie und Paläontologie, Chinesische Akademie der Wissenschaften, China.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
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Erfahren Sie mehrStabil, vielseitig, flexibel und effizient Der CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und bewältigt problemlos hochauflösende Bildgebungsaufgaben für verschiedene Probentypen. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multidetektortechnologie mit einem säulenintegrierten Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennt und gleichzeitig eine hohe Auflösung liefert. Der kammermontierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet so höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern in hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und bietet Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeits- und Kontrastregelung, Autofokus, Autostigmator und automatische Ausrichtung, die die schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.
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Erfahren Sie mehrAnalytisch Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches FE-REM-Modell, ausgestattet mit einer Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit und langer Lebensdauer. Sein dreistufiges elektromagnetisches Linsendesign bietet erhebliche Vorteile in analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Das Modell ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nichtleitender Proben erleichtert.
Erfahren Sie mehrHohe Auflösung bei geringer Anregung Der CIQTEK SEM5000Pro ist ein hochauflösender Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) Spezialisiert auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptik-Technologie ermöglicht einen überkreuzungsfreien Strahlengang und ein elektrostatisch-elektromagnetisches Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte verringern den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Strahlenschäden an den Proben wirksam reduziert.
Erfahren Sie mehrHohe Geschwindigkeit Vollautomatische Feldemission Rasterelektronenmikroskop Arbeitsplatz CIQTEK HEM6000 Zu den Ausstattungstechnologien gehören beispielsweise eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit und großem Strahlstrom, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und eine elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombiobjektivlinse, um eine Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab zu erreichen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren Workflow bei der hochauflösenden Bildgebung großer Flächen konzipiert. Seine Bildgebungsgeschwindigkeit ist mehr als fünfmal schneller als die eines herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FESEM).
Erfahren Sie mehrHochleistungs- und universelles Wolframfilament-REM Mikroskop Der CIQTEK SEM3200 SEM-Mikroskop Das SEM3200 ist ein hervorragendes universelles Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Bild-Rausch-Verhältnis bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterungsmöglichkeiten macht.
Erfahren Sie mehrUltrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Der CIQTEK SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes FESEM mit optimiertem Elektronenoptiksäulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht. Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die Forschung an fortschrittlichen nanostrukturellen Materialien sowie für die Entwicklung und Herstellung hochtechnologischer Halbleiter-IC-Chips.
Erfahren Sie mehrUltrahohe Auflösung Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) Das System nutzt Technologien wie Supertunnel-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien auf das Wolframfilament-Mikroskop wird die langjährige Auflösungsgrenze solcher Rasterelektronenmikroskope überschritten. Dadurch können mit dem Wolframfilament-REM Niederspannungsanalysen durchgeführt werden, die bisher nur mit Feldemissions-REMs möglich waren.
Erfahren Sie mehrGa+ Fokussiertes Ionenstrahl-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Der CIQTEK DB550 Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die Supertunnel-Elektronenoptik-Technologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign. Die Funktion „Niedrigspannung, hohe Auflösung“ gewährleistet die analytischen Fähigkeiten im Nanomaßstab. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetallionenquelle mit hochstabilen und hochwertigen Ionenstrahlen, um die Nanofabrikation zu gewährleisten. Der DB550 ist eine All-in-One-Workstation für Nanoanalyse und -fertigung mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Erfahren Sie mehr120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
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