SEM5000 in Nano-Aluminiumoxid – Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie (REM).
Was ist Nano-Aluminiumoxid?
Nano-Aluminiumoxid wird aufgrund seiner hohen Festigkeit, Härte, Verschleißfestigkeit, Hitzebeständigkeit und großen spezifischen Oberfläche in verschiedenen Bereichen wie Keramikmaterialien, Verbundwerkstoffen, Luft- und Raumfahrt, Umweltschutz, Katalysatoren und ihren Trägern häufig verwendet [1]. Dies hat zu einer kontinuierlichen Verbesserung der Entwicklungstechnologie geführt. Derzeit haben Wissenschaftler Aluminiumoxid-Nanomaterialien in verschiedenen Morphologien von eindimensional bis dreidimensional hergestellt, darunter kugelförmige, sechseckige Blatt-, kubische, stäbchenförmige, faserige, netzförmige, blütenförmige, lockige und viele andere Morphologien [2].
Rasterelektronenmikroskopie von Aluminiumoxid-Nanopartikeln
Es gibt viele Methoden zur Herstellung von Nano-Aluminiumoxid, die sich entsprechend den unterschiedlichen Reaktionsmethoden in drei Hauptkategorien einteilen lassen:
Festphasen-, Gasphasen- und Flüssigphasenmethoden [3]. Um zu überprüfen, ob die Ergebnisse der hergestellten Aluminiumoxid-Nanopulver den Erwartungen entsprechen, ist es notwendig, die Struktur des Aluminiumoxids bei jedem Prozess zu charakterisieren, und die intuitivste der vielen Charakterisierungsmethoden ist die mikroskopische Beobachtungsmethode.
Das Rasterelektronenmikroskop bietet als herkömmliches mikroskopisches Charakterisierungsgerät die Vorteile einer großen Vergrößerung, einer hohen Auflösung, einer großen Schärfentiefe, einer klaren Abbildung und eines starken stereoskopischen Sinns, was das bevorzugte Gerät zur Charakterisierung der Struktur von Nano-Aluminiumoxid ist.
Die folgende Abbildung zeigt das Aluminiumoxidpulver, das nach verschiedenen Prozessen hergestellt wurde und mit dem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000 von CIQTEK beobachtet wurde. Es enthält Aluminiumoxid-Nanopulver in Form von Würfeln, Flocken und Stäben und mit Partikelgrößen von mehreren zehn bis Hunderten von Nanometern.
CIQTEK Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop SEM5000
SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fortschrittlichem Zylinderdesign, Verzögerung im Zylinder und magnetischem Objektivdesign mit geringer Aberration und Leckage, um eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung zu erreichen, die angewendet werden kann zu magnetischen Proben. SEM5000 verfügt über eine optische Navigation, perfekte automatische Funktionen, eine durchdachte Mensch-Maschine-Interaktion sowie einen optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess. Unabhängig davon, ob der Bediener über umfassende Erfahrung verfügt, kann er/sie schnell mit der Aufgabe der hochauflösenden Fotografie beginnen.
Elektronenkanonentyp: Hochhelle Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone
Auflösung: 1 nm bei 15 kV
1,5 nm bei 1 kV
Vergrößerung: 1 ~ 2500000 x
Beschleunigungsspannung: 20 V ~ 30 kV
Probentisch: Automatischer Probentisch mit fünf Achsen
Verweise.
[1] Wu ZF. Studie zum Zusammenhang zwischen der Morphologie und den Eigenschaften von Aluminiumoxid-Nanopartikeln[J]. Journal of Artificial Crystals, 2020,49(02):353-357. doi:10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2020.02.024.
[2] Nie Duofa. Eine kurze Diskussion über die Herstellung von Nanoaluminiumoxid und seine Entwicklungsanwendungen [J]. Shandong Chemical Industry, 2020,49(09):91+94.DOI:10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2020.09.033.
[3] Jia Kunlun, Liu Shi Kai, Zhou Shuhui, Chen Yingxin. Fortschritte bei der Herstellung und Anwendung von Nano-Aluminiumoxidpulver[J]. China Ceramics, 2020,56(03):8-12. doi:10.16521/j.cnki.issn.1001-9642.2020.03.002.
CIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrStabil, vielseitig, flexibel und effizient Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und meistert problemlos hochauflösende Bildgebungsherausforderungen für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multi-Detektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennen kann und gleichzeitig eine hochauflösende Leistung bietet. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern mit hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatische Stigmierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.
Erfahren Sie mehrStabil, vielseitig, flexibel und effizient Das CIQTEK SEM4000X ist ein stabiles, vielseitiges, flexibles und effizientes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM). Es erreicht eine Auflösung von 1,9 nm bei 1,0 kV und meistert problemlos hochauflösende Bildgebungsherausforderungen für verschiedene Arten von Proben. Es kann mit einem Ultrastrahl-Verzögerungsmodus aufgerüstet werden, um die Niederspannungsauflösung noch weiter zu verbessern. Das Mikroskop nutzt Multi-Detektor-Technologie mit einem säuleninternen Elektronendetektor (UD), der SE- und BSE-Signale erkennen kann und gleichzeitig eine hochauflösende Leistung bietet. Der in der Kammer montierte Elektronendetektor (LD) enthält Kristallszintillator- und Photomultiplierröhren und bietet eine höhere Empfindlichkeit und Effizienz, was zu stereoskopischen Bildern mit hervorragender Qualität führt. Die grafische Benutzeroberfläche ist benutzerfreundlich und verfügt über Automatisierungsfunktionen wie automatische Helligkeit und Kontrast, Autofokus, automatische Stigmierung und automatische Ausrichtung, die eine schnelle Aufnahme von Bildern mit ultrahoher Auflösung ermöglichen.
Erfahren Sie mehrAnalytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit großem Strahl I CIQTEK SEM4000Pro ist ein analytisches Modell des FE-SEM, ausgestattet mit einer hochhellen und langlebigen Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone. Das dreistufige elektromagnetische Linsendesign bietet erhebliche Vorteile bei analytischen Anwendungen wie EDS/EDX, EBSD, WDS und mehr. Es ist standardmäßig mit einem Niedervakuummodus und einem leistungsstarken Niedervakuum-Sekundärelektronendetektor sowie einem einziehbaren Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der die Beobachtung schlecht leitender oder nicht leitender Proben erleichtert.
Erfahren Sie mehrHohe Auflösung bei geringer Anregung Das CIQTEK SEM5000Pro ist ein Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung spezialisiert ist. Der Einsatz einer fortschrittlichen „Super-Tunnel“-Elektronenoptik-Technologie ermöglicht einen kreuzungsfreien Strahlengang zusammen mit einem elektrostatisch-elektromagnetischen Verbundlinsendesign. Diese Fortschritte reduzieren den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV, was die direkte Beobachtung nichtleitender oder halbleitender Proben ermöglicht und so die Probenmenge effektiv reduziert Strahlenschäden.
Erfahren Sie mehrHochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die skalenübergreifende Abbildung von großvolumigen Proben CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die hochhelle Großstrahl-Stromelektronenkanone, ein Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, eine Hochspannungs-Probentischverzögerung, eine dynamische optische Achse und ein elektromagnetisches und elektrostatisches Immersions-Kombinationsobjektiv um eine schnelle Bildaufnahme zu erreichen und gleichzeitig eine Auflösung im Nanomaßstab sicherzustellen. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren großflächigen hochauflösenden Bildgebungsworkflow konzipiert. Die Abbildungsgeschwindigkeit kann mehr als fünfmal schneller sein als bei einem herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM).
Erfahren Sie mehrUltrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM) Fordert die Grenzen heraus Der CIQTEK SEM5000X ist ein FESEM mit ultrahoher Auflösung und optimiertem Elektronenoptik-Säulendesign, das die Gesamtaberrationen um 30 % reduziert und eine ultrahohe Auflösung von 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV erreicht . Seine hohe Auflösung und Stabilität machen es vorteilhaft für die fortgeschrittene nanostrukturelle Materialforschung sowie die Entwicklung und Herstellung von High-Tech-Node-Halbleiter-IC-Chips.
Erfahren Sie mehrLeistungsstarkes und universelles Wolframfilament-REM-Mikroskop Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop ist ein hervorragendes Allzweck-Rasterelektronenmikroskop (REM) mit Wolframfilamenten und herausragenden Gesamtfunktionen. Seine einzigartige Doppelanoden-Elektronenkanonenstruktur gewährleistet eine hohe Auflösung und verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis des Bildes bei niedrigen Anregungsspannungen. Darüber hinaus bietet es eine große Auswahl an optionalem Zubehör, was das SEM3200 zu einem vielseitigen Analysegerät mit hervorragenden Erweiterbarkeiten macht.
Erfahren Sie mehrWolframfilament-Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation Das CIQTEK SEM3300 Rasterelektronenmikroskop (REM) beinhaltet Technologien wie „Super-Tunnel“-Elektronenoptik, Inlens-Elektronendetektoren und elektrostatische und elektromagnetische Verbundobjektive. Durch die Anwendung dieser Technologien im Wolfram-Filament-Mikroskop wird die seit langem bestehende Auflösungsgrenze solcher REM übertroffen, sodass das Wolfram-Filament-REM Analyseaufgaben bei niedriger Spannung ausführen kann, die zuvor nur mit Feldemissions-REM möglich waren.
Erfahren Sie mehrFeldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB550 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) verfügt über eine fokussierte Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung. Es nutzt die „Supertunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign und verfügt über die Funktion „Niederspannung, hohe Auflösung“, um seine Analysefähigkeiten im Nanomaßstab sicherzustellen. Die Ionensäulen ermöglichen eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit äußerst stabilen und qualitativ hochwertigen Ionenstrahlen, um die Fähigkeit zur Nanofabrikation sicherzustellen. Der DB550 ist eine All-in-one-Nanoanalyse- und Fertigungs-Workstation mit integriertem Nanomanipulator, Gasinjektionssystem und benutzerfreundlicher GUI-Software.
Erfahren Sie mehr120-kV-Feldemissions-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) 1. Geteilte Arbeitsbereiche: Benutzer bedienen TEM in einem getrennten Raum mit Komfort, der Umwelteinflüsse auf TEM reduziert. 2. Hohe betriebliche Effizienz: Spezielle Software integriert hochautomatisierte Prozesse und ermöglicht eine effiziente TEM-Interaktion mit Echtzeitüberwachung. 3. Verbesserte Betriebserfahrung: Ausgestattet mit einer Feldemissions-Elektronenkanone mit einem hochautomatisierten System. 4. Hohe Erweiterbarkeit: Es sind ausreichend Schnittstellen reserviert, damit Benutzer auf eine höhere Konfiguration upgraden können, die den unterschiedlichen Anwendungsanforderungen gerecht wird.
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