Erforschung von Reis – Anwendungen des Rasterelektronenmikroskops (REM).
Was ist gealterter Reis und neuer Reis? Gealterter Reis oder alter Reis ist nichts anderes als eingelagerter Reis, der ein oder mehrere Jahre lang gelagert wird. Andererseits ist neuer Reis Reis, der aus neu geernteten Feldfrüchten hergestellt wird. Im Vergleich zum frischen Aroma von neuem Reis ist gealterter Reis leicht und geschmacklos, was im Wesentlichen auf eine Veränderung der inneren mikroskopischen morphologischen Struktur von gealtertem Reis zurückzuführen ist.
Die Forscher analysierten neuen und gealterten Reis mit dem CIQTEK-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop SEM3100. Mal sehen, wie sie sich in der mikroskopischen Welt unterscheiden!
CIQTEK Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop SEM3100
Abbildung 1 Bruchmorphologie im Querschnitt von neuem und gealtertem Reis
Zunächst wurde die Mikrostruktur des Reisendosperms mit SEM3100 beobachtet. Aus Abbildung 1 ist ersichtlich, dass die Endospermzellen von neuem Reis lange, polygonale, prismatische Zellen waren, in die Stärkekörner eingewickelt waren, und dass die Endospermzellen in einer radialen Fächerform angeordnet waren, wobei die Mitte des Endosperms konzentrische Kreise bildete Die Endospermzellen in der Mitte waren im Vergleich zu den äußeren Zellen kleiner. Die radialfächerförmige Endospermstruktur von neuem Reis war deutlicher zu erkennen als die von gealtertem Reis.
Abbildung 2 Mikrostrukturmorphologie des zentralen Endosperms von neuem und gealtertem Reis
Eine weitere vergrößerte Betrachtung des zentralen Endospermgewebes von Reis ergab, dass die Endospermzellen im zentralen Teil von gealtertem Reis stärker gebrochen waren und die Stärkekörner stärker freigelegt waren, wodurch die Endospermzellen radial und unscharf angeordnet waren.
Abbildung 3 Mikrostrukturmorphologie des Proteinfilms auf der Oberfläche von neuem und gealtertem Reis
Der Proteinfilm auf der Oberfläche der Endospermzellen wurde bei hoher Vergrößerung beobachtet, wobei die Vorteile von SEM3100 mit hochauflösender Bildgebung genutzt wurden. Wie aus Abbildung 3 hervorgeht, konnte auf der Oberfläche von neuem Reis ein Proteinfilm beobachtet werden, während der Proteinfilm auf der Oberfläche von gealtertem Reis gebrochen war und unterschiedlich starke Verwerfungen aufwies, was zu einer relativ klaren Freilegung der inneren Stärkekörnchen führte Form aufgrund der Verringerung der Dicke des Oberflächenproteinfilms.
Abbildung 4 Mikrostruktur der Endosperm-Stärkekörnchen von neuem Reis
Reis-Endospermzellen enthalten einzelne und zusammengesetzte Amyloplasten. Einzelkorn-Amyloplasten sind kristalline Polyeder, oft in Form einzelner Körner mit stumpfen Winkeln und deutlichen Lücken zu den umgebenden Amyloplasten, die hauptsächlich kristalline und amorphe Bereiche enthalten, die aus geradkettiger und verzweigtkettiger Amylose bestehen [1,2]. Die komplexkörnigen Amyloplasten haben eine eckige Form, sind dicht angeordnet und fest mit den umgebenden Amyloplasten verbunden. Studien haben gezeigt, dass die Stärkekörner von hochwertigem Reis hauptsächlich als komplexe Körner vorliegen [3]. Bei der Betrachtung der Endospermzellen von neuem Reis, wie in Abbildung 4 dargestellt, lagen die Stärkekörner größtenteils in Form zusammengesetzter Körner vor. Die zusammengesetzten Stärkekörner hatten eine eckige Form und waren eng mit den umgebenden Stärkekörnern verbunden, was die Endospermstruktur von hochwertigem Reis zeigte.
Die Reisqualität kann sich während der Lagerung ändern. Mit zunehmender Lagerzeit, zunehmender Härte des Reises, abnehmender Viskosität und Elastizität und schlechterem Geschmack stehen diese Qualitätsveränderungen in engem Zusammenhang mit morphologischen und strukturellen Merkmalen wie der Form und Anordnung der Endospermzellen [4].
Die Mikrostruktur eines Materials bestimmt seine verschiedenen Eigenschaften, und es sind diese Unterschiede in der Mikrostruktur, die dazu führen, dass der Reis, den wir täglich essen, unterschiedliche Geschmackswerte aufweist. Die Rasterelektronenmikroskopie als mikroskopisches Analyseinstrument ermöglicht nicht nur verschiedene Formen der Beobachtung von Lebensmittelmaterialien, sondern bietet auch eine zuverlässige Grundlage für die Lebensmittelforschung und spielt eine wichtige Rolle bei der Prüfung der Lebensmittelsicherheit und Qualitätsverbesserung.
Verweise.
[1] Mohapatra D, Bal S. Kochqualität und instrumentelle Texturattribute von gekochtem Reis für verschiedene Mahlfraktionen [J]. Journal of Food Engineering, 2006, 73(3):253-259.
[2] Zhou Xianqing, Zhang Yurong, Li Rit. Mikrostrukturelle Veränderungen des Endosperms von Japonica-Reis unter verschiedenen simulierten Lagerbedingungen[J]. Zeitschrift für Agrartechnik, 2010(5):6.
[3] Fu Wenying, Xiang Yuanhong. Mikrostruktur des Endosperms von essbarem Qualitätsreis[J]. Zeitschrift der Hunan Agricultural University: Natural Science Edition, 1997, 23(5):8.
[4] Xu M, Cheng WD, Cai XH, et al. Einfluss der Lagerung auf Stärkestruktur und -gehalt von Reis[J]. Chinese Agronomy Bulletin, 2005, 21(6):113-113.
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM), ausgestattet mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit Mit dem dreistufigen Kondensator-Elektronenoptik-Säulendesign für Strahlströme bis zu 200 nA bietet SEM4000Pro Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen analytischen Anwendungen. Das System unterstützt den Niedrigvakuummodus sowie einen leistungsstarken Niedrigvakuum-Sekundärelektronendetektor und einen einziehbaren Rückstreuelektronendetektor, der bei der direkten Beobachtung schlecht leitender oder sogar nicht leitender Proben helfen kann. Der standardmäßige optische Navigationsmodus und eine intuitive Benutzeroberfläche erleichtern Ihre Analyse.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Analysefähigkeit, unterstützt durch zahlreiche Funktionen, profitiert vom fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign, mit Hochdruck-Elektronenstrahl-Tunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und Nicht-Eintauchen Die Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung und die magnetische Probe kann ebenfalls analysiert werden. Mit optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion und einem optimierten Betriebs- und Nutzungsprozess können Sie unabhängig davon, ob Sie ein Experte sind oder nicht, schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten abschließen.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher oder nicht leitender Proben direkt beobachten. Der standardmäßige optische Navigationsmodus sowie eine intuitive Bedienoberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM4000 ist ein analytisches thermisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, das mit einer langlebigen Schottky-Feldemissionselektronenkanone mit hoher Helligkeit ausgestattet ist. Das dreistufige magnetische Linsendesign mit großem und stufenlos einstellbarem Strahlstrom bietet offensichtliche Vorteile bei EDS, EBSD, WDS und anderen Anwendungen. Unterstützt den Niedrigvakuummodus und kann die Leitfähigkeit schwacher oder nicht leitender Proben direkt beobachten. Der standardmäßige optische Navigationsmodus sowie eine intuitive Bedienoberfläche erleichtern Ihre Analysearbeit.
Erfahren Sie mehrHochleistungsfähiges Wolframfilament-REM-Mikroskop mit hervorragender Bildqualität sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus Das CIQTEK SEM3200 REM-Mikroskop verfügt über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die es Benutzern ermöglicht, Proben zu charakterisieren und die Welt der mikroskopischen Bildgebung und Analyse zu erkunden.
Erfahren Sie mehrUltrahochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (FESEM): 0,6 nm bei 15 kV und 1,0 nm bei 1 kV Das CIQTEK SEM5000X ultrahochauflösende FESEM nutzt den verbesserten Säulenkonstruktionsprozess, die „SuperTunnel“-Technologie und das hochauflösende Objektivlinsendesign, um die Bildauflösung bei niedriger Spannung zu verbessern. Die Probenkammeranschlüsse des FESEM SEM5000X sind auf 16 erweiterbar, und die Probenwechsel-Ladeschleuse unterstützt Wafergrößen bis zu 8 Zoll (maximaler Durchmesser 208 mm), wodurch sich die Einsatzmöglichkeiten deutlich erweitern. Die erweiterten Scanmodi und erweiterten automatisierten Funktionen sorgen für eine stärkere Leistung und ein noch optimierteres Erlebnis.
Erfahren Sie mehrCIQTEK SEM5000Pro ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) mit hochauflösender Bildgebungs- und Analysefähigkeit, das durch zahlreiche Funktionen unterstützt wird, von einem fortschrittlichen Elektronenoptiksäulendesign profitiert und mit Hochdruck-Elektronenstrahltunneltechnologie (SuperTunnel), geringer Aberration und MFL-Objektivlinse eine hochauflösende Bildgebung bei niedriger Spannung erreicht, sodass auch magnetische Proben analysiert werden können. Dank optischer Navigation, automatisierten Funktionen, einer sorgfältig gestalteten Benutzeroberfläche für die Mensch-Computer-Interaktion sowie optimierten Betriebs- und Nutzungsprozessen können Sie – unabhängig davon, ob Sie Experte sind oder nicht – schnell loslegen und hochauflösende Bildgebungs- und Analysearbeiten durchführen.
Erfahren Sie mehrHochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop zur maßstabsübergreifenden Abbildung von großvolumigen Proben CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die hochhelle Großstrahl-Stromelektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, die Hochspannungs-Probentischverzögerung, die dynamische optische Achse und die elektromagnetische und elektrostatische Immersions-Kombinationsobjektivlinse, um hohe Ergebnisse zu erzielen -Schnelle Bildaufnahme bei gleichzeitiger Gewährleistung einer Auflösung im Nanomaßstab. Der automatisierte Betriebsprozess ist für Anwendungen wie einen effizienteren und intelligenteren großflächigen hochauflösenden Bildgebungsworkflow konzipiert. Die Abbildungsgeschwindigkeit kann mehr als fünfmal schneller sein als bei einem herkömmlichen Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (fesem).
Erfahren Sie mehrFeldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit Focused Ion Beam (FIB)-Säulen Das CIQTEK DB500 Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) nutzt die „SuperTunnel“-Elektronenoptiktechnologie, geringe Aberration und ein nichtmagnetisches Objektivdesign mit niedriger Spannung und hoher Auflösung, um sicherzustellen die nanoskalige Analyse. Die Ionensäule ermöglicht eine Ga+-Flüssigmetall-Ionenquelle mit einem äußerst stabilen und hochwertigen Ionenstrahl für die Nanofabrikation. FIB-SEM DB500 verfügt über einen integrierten Nanomanipulator, ein Gasinjektionssystem, einen elektrischen Antikontaminationsmechanismus für die Objektivlinse und 24 Erweiterungsanschlüsse, was es zu einer umfassenden Nanoanalyse- und Fertigungsplattform mit umfassenden Konfigurationen und Erweiterbarkeit macht .
Erfahren Sie mehrNext-generation Tungsten Filament Scanning Electron Microscope The CIQTEK SEM3300 scanning electron microscope (SEM) incorporates technologies such as "Super-Tunnel" electron optics, inlens electron detectors, and electrostatic & electromagnetic compound objective lens. By applying these technologies into the tungsten filament microscope, the long-standing resolution limit of such SEM is surpassed, enabling the tungsten filament SEM to perform low-voltage analysis tasks previously only achievable with field emission SEMs.
Erfahren Sie mehr